Расчет - электронограмма - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Земля в иллюминаторе! Земля в иллюминаторе! И как туда насыпалась она?!... Законы Мерфи (еще...)

Расчет - электронограмма

Cтраница 1


Расчет электронограмм с точностью до 1 % позволяет выявить межплоскостные расстояния от базисных плоскостей ( табл. 39), а по уравнению Шеррера [326] можно определить примерные размеры областей когерентного рассеивания асфальтенов.  [1]

Для расчета электронограмм необходимо знать длину волны X электронных волн.  [2]

Первым этапом расчета электронограммы текстурированной пленки является определение индексов всех интерференционных пятен. Зная межплоскостные расстояния и состав пленки, устанавливают с помощью справочной таблицы индексы каждого интерференционного пятна.  [3]

Результаты измерения и расчета электронограммы от образца никеля, прогретого при 280 в течение 30 мин.  [4]

Результаты измерения и расчета электронограммы от образца никеля, прогретого при 300 в течение 30 мин.  [5]

Результаты измерения и расчета электронограммы от образца никеля, прогретого при 350 в течение 30 мин.  [6]

Результаты измерения и расчета электронограммы от образца, находившегося в течение 40 мин.  [7]

Результаты измерения и расчета электронограммы от образца никеля, прогретого при 100 в течение 30 мин.  [8]

Результаты измерения и расчета электронограммы от образца никеля, прогретого при 200 в течение 30 мин.  [9]

Широкий диапазон межплоскостных расстояний, полученный расчетом электронограмм, свидетельствует о множестве возможных модификаций слоевой надмолекулярной организации асфальтенов в рамках прототурбостратной структуры.  [10]

Величину / А Алш, необходимую для расчета электронограмм, определяют экспериментально ( для каждой ступени высокого напряжения и для стандартной установки образца) из электронограмм какого-либо чистого вещества с хорошо известной кристаллической структурой.  [11]

Цель работы - ознакомление с теорией и методикой электроногра-фического анализа, с расчетом электронограмм поликристаллических образцов.  [12]

В данный раздел включены шесть лабораторных работ, которые знакомят с основными и наиболее распространенными методами изучения структуры моно - и поликристаллов, с элект-ронографическими исследованиями тонких слоев и с некоторыми вопросами кристаллографии. Первая работа посвящена аппаратуре рентгеноструктурных исследований, четыре работы - методам Дебая - Шеррера, Лауэ и методу вращения, расчетам рентгенограмм; шестая работа знакомит с принципами электронографии, расчетом электронограмм и способом определения текстуры поликристаллических пленок. Следует отметить, что работы раздела 3 не охватывают, конечно, всех вопросов структурного анализа твердых тел.  [13]

14 Микроструктура окалины на титане, окисленном на воздухе при 1000 в течение 1 часа. X 400. Нижняя граница окалины совпадает с границей рисунка. [14]

Рентгеновский анализ всех трех слоев окалины показал существование только одной фазы - рутила. Данные расчета электронограмм приводятся в таблице.  [15]



Страницы:      1    2