Cтраница 1
Расчет электронограмм с точностью до 1 % позволяет выявить межплоскостные расстояния от базисных плоскостей ( табл. 39), а по уравнению Шеррера [326] можно определить примерные размеры областей когерентного рассеивания асфальтенов. [1]
Для расчета электронограмм необходимо знать длину волны X электронных волн. [2]
Первым этапом расчета электронограммы текстурированной пленки является определение индексов всех интерференционных пятен. Зная межплоскостные расстояния и состав пленки, устанавливают с помощью справочной таблицы индексы каждого интерференционного пятна. [3]
Результаты измерения и расчета электронограммы от образца никеля, прогретого при 280 в течение 30 мин. [4]
Результаты измерения и расчета электронограммы от образца никеля, прогретого при 300 в течение 30 мин. [5]
Результаты измерения и расчета электронограммы от образца никеля, прогретого при 350 в течение 30 мин. [6]
Результаты измерения и расчета электронограммы от образца, находившегося в течение 40 мин. [7]
Результаты измерения и расчета электронограммы от образца никеля, прогретого при 100 в течение 30 мин. [8]
Результаты измерения и расчета электронограммы от образца никеля, прогретого при 200 в течение 30 мин. [9]
Широкий диапазон межплоскостных расстояний, полученный расчетом электронограмм, свидетельствует о множестве возможных модификаций слоевой надмолекулярной организации асфальтенов в рамках прототурбостратной структуры. [10]
Величину / А Алш, необходимую для расчета электронограмм, определяют экспериментально ( для каждой ступени высокого напряжения и для стандартной установки образца) из электронограмм какого-либо чистого вещества с хорошо известной кристаллической структурой. [11]
Цель работы - ознакомление с теорией и методикой электроногра-фического анализа, с расчетом электронограмм поликристаллических образцов. [12]
В данный раздел включены шесть лабораторных работ, которые знакомят с основными и наиболее распространенными методами изучения структуры моно - и поликристаллов, с элект-ронографическими исследованиями тонких слоев и с некоторыми вопросами кристаллографии. Первая работа посвящена аппаратуре рентгеноструктурных исследований, четыре работы - методам Дебая - Шеррера, Лауэ и методу вращения, расчетам рентгенограмм; шестая работа знакомит с принципами электронографии, расчетом электронограмм и способом определения текстуры поликристаллических пленок. Следует отметить, что работы раздела 3 не охватывают, конечно, всех вопросов структурного анализа твердых тел. [13]
Микроструктура окалины на титане, окисленном на воздухе при 1000 в течение 1 часа. X 400. Нижняя граница окалины совпадает с границей рисунка. [14] |
Рентгеновский анализ всех трех слоев окалины показал существование только одной фазы - рутила. Данные расчета электронограмм приводятся в таблице. [15]