Cтраница 1
Кристалл-анализатор, детектор и природа элемента являются причиной того, что высоты пиков заметно отличаются для различных элементов. [2]
Колонна и камера образцов. [3] |
Кристалл-анализатор изогнут по удвоенному радиусу. [4]
Схема установки для рентгенофлуоресцентного анализа. [5] |
Поэтому кристалл-анализатор с малым d дает сильную дисперсию спектра. По этой причине кристаллы с малыми межплоскостными расстояниями неприменимы для анализа в области больших длин волн. [6]
Аналитику небезразлично, какой именно кристалл-анализатор и как установлен в приборе ( см. с. [7]
С появлением эффективных источников света и кристалл-анализаторов рентгеноспектральный метод значительно выигрывает в чувствительности и становится простым и быстрым в исполнении: оператору достаточно правильно отобрать пробу и установить ее в прибор, остальной процесс анализа полностью автоматизирован. Применение вычислительной машины освобождает оператора и от расчетных работ. [8]
Приборы с вогнутой дифракционной решеткой и кристалл-анализаторами ( см. рис. 16 6) не имеют обособленной фокусирующей оптики: их роль выполняет сама диспергирующая часть. [9]
В СВД для диспергирования рентгеновских лучей используют кристалл-анализатор, а для их детектирования - пропорциональный ( ПД) или сцинтилляционный ( СД) детектор. [10]
Спектральный прибор с амплитудным селектором, без кристалл-анализатора, принято называть амплитудным анализатором. В таком приборе до минимума сведено число деталей ( см. с. [12]
Как следует из уравнения ( 11), кристалл-анализатор не может разделить две линии, если их длины волн отличаются друг от друга ровно в два раза. В этом случае коротковолновая линия будет регистрироваться во втором порядке отражения при том же отсчете гониометра, что и длинноволновая в первом порядке отражения. [13]
Задача коллиматора создать параллельный пучок, падающий на кристалл-анализатор. Если пучок не параллельный, то при любой ориентации кристалла в одном направлении будет отражаться свет разных длин волн, одновременно падающих на кристалл под разными углами. [14]
Распределение интенсивности / по площади спектральной линии ( контур линии в зависимости от качества кристалл-анализатора. [15] |