Анализ - чистый материал - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
Если бы у треугольника был Бог, Он был бы треугольным. Законы Мерфи (еще...)

Анализ - чистый материал

Cтраница 2


Из-за высокой селективности отгонки неорганических соединений из жидких смесей, особенно из водных растворов, рассматриваемые методы концентрирования применимы только к небольшому числу анализируемых веществ. При анализе чистых материалов практически не применяют выделение примесей в газовую фазу и, напротив, распространены методы отгонки из растворов летучих соединений основы.  [16]

Рассмотрим коротко влияние метода регистрации спектра на чувствительность определения. В настоящее время для анализа чистых материалов применяется главным образом фотографический метод регистрации.  [17]

Подводя итоги, можно констатировать, что пока еще определение предела обнаружения, который является одной из наиболее важных характеристик аналитических методов, особенно методов определения следов элементов, и сам термин предел обнаружения не носят универсального характера. Надежность установления гарантированных пределов обнаружения при анализе чистых материалов очень важна с экономической точки зрения.  [18]

19 Выходная кривая при наличии одного вида способных к обмену ионов в поступающем растворе ( о-объем фильтрата, с - концентрация элемента. [19]

Сорбция примесей требует небольших навесок ионита, так как абсолютные количества поглощаемых элементов незначительны. Поэтому следует рекомендовать при разделениях и концентрировании в анализе чистых материалов использовать микроколонки, с успехом примененные при исследовании поглощения ионов анио-нитами [403] и в радиоактивационном анализе для быстрых ионообменных разделений микропримесей [ 518, стр.  [20]

Удаление основного элемента из водного раствора в виде газообразного соединения путем химической обработки ( часто в ходе растворения пробы) в качестве метода концентрирования занимает важное место в области анализа высокочистых полупроводниковых материалов: германия, кремния, а также некоторых полупроводниковых соединений типа AniBv. В табл. 35 приведены характерные примеры и некоторые условия удаления основного вещества пробы из водного раствора при анализе чистых материалов.  [21]

Аналитическая линия определяемого элемента иногда отсутствует в спектре исходного неразбавленного материала и в то же время едва просматривается в спектре одного из разбавленных эталонных образцов, приготовленных на основном материале. Если данный эталонный образец содержит определяемый элемент в концентрации Сер, то это означает, что определяемый элемент присутствует в анализируемом материале в концентрации ниже сср % Это предельное значение необходимо знать особенно при анализе чистых материалов.  [22]

Подробное изложение этих опытов дано в книге А. К. Русанова [114] и в упомянутых статьях, к которым мы отсылаем читателя. К - Русановым ряды летучестей для свободных элементов и их окислов указывают на последовательность поступления различных элементов в пламя дугового разряда. Они оказываются весьма полезными для оценки возможности применения методов фракционной дистилляции при анализе чистых материалов, которые часто поступают на анализ в виде металлов или их окислов.  [23]

Книга посвящена эмиссионному спектральному анализу чистых неорганических веществ. В ней рассмотрены вопросы чувствительности собственно спектрального анализа, роль его основных звеньев; изложены методы предварительного концентрирования примесей с целью повышения чувствительности. Значительное внимание уделено вопросам организации работы по анализу чистых веществ - планировке и оборудованию лабораторных помещений, чистоте воздушной среды, электродов и реактивов, проблеме измельчения анализируемых веществ, а также эталонам. Даны краткие сведения о наиболее чувствительных методах анализа важнейших чистых материалов.  [24]

Так, например, были проделаны опыты по выяснению влияния примесей щелочных металлов на результаты анализа. Выяснено, что добавление в образец NaCl и КС1 в количестве 0 2 % к весу образца занижает результат анализа на фтор примерно в 3 раза. Содержание же их в количестве сотых долей процента не сказывается заметным образом на интенсивности линий фтора. Поскольку метод рассчитан на анализ достаточно чистых материалов, никакие меры по устранению или учету этих влияний не принимались.  [25]



Страницы:      1    2