Анализ - физический процесс - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 4
Пойду посплю перед сном. Законы Мерфи (еще...)

Анализ - физический процесс

Cтраница 4


Наиболее характерной для дугового самостоятельного разряда является его катодная часть с катодным пятном у основания. Анализ физических процессов в дуге ртутного вентиля мы поэтому начинаем с катодной части разряда.  [46]

Общие нелинейные искажения сигналов в ГГ в области низких частот определяются как нелинейной упругостью подвесов, так и нелинейностью электромеханических процессов преобразования в узле звуковая катушка магнитная цепь. Анализ физических процессов преобразования показывает, что существует несколько причин, обусловливающих нелинейную зависимость механической вынуждающей силы F ( f) от приложенного к звуковой катушке напряжения U ( t) ( линейные зависимости этих величин были рассмотрены в § 3.3): неоднородность и несимметричность распределения магнитного поля в зазоре, определяющие нелинейность зависимости средней индукции Вср ( х) от величины смещения ЗК; нелинейный характер взаимодействия переменного магнитного поля вокруг звуковой катушки с постоянным магнитным полем в зазоре; нелинейное изменение индуктивности L ( x) в зависимости от смещения катушки; наличие дополнительных сил притяжения между звуковой катушкой и магнитопроводом; изменение активного сопротивления от тока при больших уровнях подводимого напряжения.  [47]

Математические модели, рассмотренные в § 5.1, служат для целей анализа полученных в процессе проектирования вариантов проекта. Детальный же анализ физических процессов чаще всего проводится только для найденного оптимального варианта проекта с применением наиболее полной системной математической модели.  [48]

49 Идеализированная кривая намагничивания магни-тномягкого материала. [49]

Для упрощения анализа физических процессов, происходящих в электромагнитных устройствах, часто прибегают к идеализации динамических петель.  [50]

Выбираем следующий путь решения. На основе анализа физических процессов в тиристорах устанавливаем характер основных зависимостей, например, тока / примимакс от длительности и частоты повторения им-пульсо в. Затем по результатам разрушающих испытаний находим значение / примпмакс для одной или нескольких точек зависимости и, зная характер последней, определяем всю область допустимых режимов работы тиристора.  [51]

Таким образом, уравнение непрерывности устанавливает связь между изменением концентрации носителей в элементарном объеме полупроводника и проходящим через этот полупроводник током. Это уравнение широко используется при анализе физических процессов, протекающих в полупроводниковых приборах.  [52]

Не соответствует норме один из параметров. Выбор области поиска X производится на основе анализа физических процессов в телевизоре, определяющих данный параметр.  [53]

Плотность вероятности потока неперекрывающихся импульсов определяется процессами в физической системе, генерирующей коток. Поэтому задача нахождения плотности вероятности сводится к анализу физических процессов, приводящих к возникновению импульсов. Такой анализ м должен дать представление о распределении амплитуды и времени появления отдельных импульсов.  [54]

55 Общая структура системной модели ЭМУ. [55]

Детерминированная часть ее предполагает наличие моделей разных версий для анализа влияющих физических процессов, примеры построения которых даны в 5.1.2 и 5.1.3. Часть входных параметров являются общими для всех блоков, другими блоки обмениваются между собой в процессе работы, в том числе за счет использования обратных связей ( температуры, магнитных потоков рассеяния, изменения момента сопротивления в опорах и пр.  [56]

К определению пара-цифровых и логических узлов. AI и i о имс Разработчик аппаратуры на ИМС не занимается анализом физических процессов в схеме. В подавляющем большинстве случаев достаточно грамотно использовать параметры ИМС, приводимые в справочной литературе, при этом внутреннее устройство логического элемента может не рассматриваться.  [57]

Функциональное проектирование устройств СВЧ имеет ряд принципиальных особенностей, связанных тем, что анализ физических процессов этих устройств значительно сложнее, чем электронных цепей с сосредоточенными параметрами.  [58]

Эти методы классифИ кации не позволяют рассмотреть технологические особенности работы различных аппаратов одного класса, сравнить эффективность различных конструкций. Поэтому кристаллизационные аппараты с псевдоожи-иенным слоем для изогидрической кристаллизация целесообразно классифицировать на основании анализа физических процессов, протекающих в отдельных элементах рассматриваемого класса аппаратов.  [59]



Страницы:      1    2    3    4