Неселективное загрязнение

Cтраница 1

Неселективные загрязнения кюветы и элементов оптическо системы вызывают интегральное погашение светового потока в всем спектральном диапазоне и создают на выходе сигнал помех. [1]

Измерительная схема многоканального ИК-анализатора. [2]

На результаты измерения с помощью двухлучевых двухканаль-ных схем значительно влияют неселективные загрязнения, поэтому их использование в промышленных анализаторах встречается редко. [3]

Измерительная схема анализаторов Анализ - 1 и Нитро. [4]

Работа по однолучевой схеме ( использование одной кюветы) позволяет практически полностью исключить влияние механических примесей и неселективных загрязнений окон самой кюветы. [5]

В измерительной схеме анализатора предусмотрена дополнительная компенсация погрешностей от присутствия в анализируемом растворе механических примесей, влаги и других неселективных загрязнений, а также погрешностей от изменения температуры и напряжения питания. [6]

По сравнению с зарубежными аналогами ( ОП-102, OSMA-200) анализатор ЛИМ-10 имеет более широкие диапазоны измерения, допускает возможность контроля меньших кон-щентраций масел, исключает влияние неселективных загрязнений и необходимость градуировки по индивидуальным маслам. [7]

Передаточные функции W и W отличаются только значениями коэффициентов пропускания оптической системы Kz и Kz, которые в начальный момент устанавливаются равными и начинают различаться только при появлении неселективных загрязнений. [8]

Когда не требуется высокая точность, находят абсолютное пропускание образцов по шкале спектрофотометра, обычно соответствующее максимуму полосы поглощения, используемой в качестве аналитической. В этом случае не учитывают влияния механических примесей и загрязнений оптических элементов ( неселективных загрязнений) и дрейф нуля прибора. [9]

По сравнению со средней ИК-областью спектра в ближней области поглощение значительно менее интенсивно, что позволяет существенно упростить конструкцию кювет, в том числе проточных. Для анализа в ближней ИК-области используют кюветы толщиной от 0 1 до 2 - 3 см. Это дает возможность более точно определить толщину анализируемого слоя, существенно уменьшить влияние неселективных загрязнений, повысить точность анализа и упростить условия эксплуатации кюветы. [10]

FHc ( х) F wc ( x), загрязнения не влияют при измерении по однолучевой двухканальной схеме. Это справедливо до тех пор, пока неселективные загрязнения кюветы и элементов оптической системы не снизят световой поток до некоторого минимального уровня, при котором на точности измерения начнут сказываться такие факторы, как шумы фотоприемника, усилителя и др. В двухлучевой двухканальной схеме влияние загрязнений не может быть снижено до нуля, так как степень загрязнения рабочей и сравнительной кювет, как правило, различна. [11]

Измерительные схемы однолу-чевых двухканальных ИК-анализаторов. [12]

В этих схемах через кювету с анализируемой средой проходит весь световой поток от излучателя, который затем разделяется на два потока - рабочий и сравнительный. Первый из них проходит через светофильтр, пропускающий излучение с длиной волны, при которой поглощает измеряемый компонент, второй - через светофильтр, пропускающий излучение с длиной волны, при которой измеряемый компонент не поглощает. Таким образом, сигнал сравнительного канала не зависит от концентрации измеряемого компонента, а определяется пропусканием растворителя и самой кюветы. Каждый из потоков, проходя через одну и ту же кювету, одинаково ослабляется неселективными загрязнениями ее окон, а также механическими примесями в жидкости. [13]

Страницы: 1