Лучевой анализ

Cтраница 1

Приведенный лучевой анализ структуры поля в устойчивом симметричном резонаторе может быть распространен и на случай несимметричного резонатора с разными радиусами кривизны зеркал. [1]

Метод лучевого анализа используется для расчетов компоненты излучения натекания от невидимой части источника и широко распространен при изучении прохождения быстрых нейтронов и жестких у-квантов. [2]

Основная трудность использования метода лучевого анализа состоит в достаточно корректном учете рассеянного в защите излучения. Например, для быстрых нейтронов часто рассеянное излучение можно учесть, приняв 2 ( г) равным сечению выведения 2Выв ( г) или сечению ослабления в геометрии широкого пучка, для у-квантов - введением в формулу (12.26) фактора накопления в экспоненциальном виде. [3]

Проиллюстрируем подход к расчету компоненты излучения натекания методом лучевого анализа на примере круглого цилиндрического канала для точки детектирования Р на его оси ( см. рис. 12.5), на входе которого расположен бесконечный плоский изотропный источник излучения, в предположении экспоненциального закона ослабления излучения в защите. [4]

Среди них наиболее полезными и эффективными являются методы: 1) прямой видимости, 2) лучевого анализа, 3) задания эквивалентных источников, 4) гомогенизации среды, 5) использования концепции дифференциального альбедо и 6) использования факторов накопления ограниченных сред. [5]

В данной работе описывается модификация программы АТИКА [1], предназначенная для оперативного расчета многослойных композиций защиты реакторов с учетом воздушных полостей и зазоров по методике, предложенной в [2] и основанной на комплексном использовании комбинации лучевого анализа и метода выведения - диффузии. [6]

Направление луча суммарной частоты, рожденного ИК-лучом, - - - г идущим под углом ф. Г к направлению распрострапения накачки. [7]

При этом угол фокусировки, конечно, должен быть не слишком велик, чтобы условие касательного синхронизма нарушалось для крайних лучей накачки не слишком сильно. Лучевой анализ позволяет и в этом случае оценить основные параметры преобразователя. [8]

К расчету компоненты источника dS, обратно рас - Фал. пр в изогнутом кзнзле ( азиму - сеянных от элемента dSvac, тальные углы отражения на рисунке для простоты не показаны. [9]

В виде примера на рис. 12.10 сравниваются результаты расчетов и экспериментов по определению поля излучения в заполненном канале. Из этих данных следует, что метод лучевого анализа с использованием факторов накопления ограниченных и гетерогенных сред позволяет с удовлетворяющей практику точностью прогнозировать поля излучения за заполненными каналами. [10]

К использованию концепции дифференциального альбедо ( азимутальные углы рассеяния ф для простоты на рисунке не показаны. [11]

Факторы накопления ограниченных сред используются для учета рассеянного в заполнителе неоднородности излучения. Для расчета нерассеянной составляющей компоненты Ф3аП Для заполненных каналов может быть предложен метод лучевого анализа. Под ограниченными средами понимают защиты, у которых хотя бы один из поперечных размеров не может быть принят за бесконечный. [12]

Страницы: 1