Прямой спектральный анализ - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Всякий раз, когда я вспоминаю о том, что Господь справедлив, я дрожу за свою страну. Законы Мерфи (еще...)

Прямой спектральный анализ

Cтраница 1


Прямой спектральный анализ проведен Л, К.  [1]

Прямой спектральный анализ проб без химического концентрирования примесей может применяться самостоятельно для быстрого аналитического контроля.  [2]

3 Зависимость kL ионов щелочноземельных металлов в нитрате натрия от скорости кристаллизации ( а и от разности ионных радиусов примеси и основы ( б. [3]

При прямом спектральном анализе NaNO3 Сн равны 9 10 - 4, 3 10 - 4 и 3 - 10 - 4 % для Са2, Sr2 и Ва2 соответственно. Расчет по формуле ( 106) показывает, что при ф 1 и q q0 для снижения С на два порядка для примесей стронция и бария необходимо, чтобы у. Для примеси кальция эффективность концентрирования приблизительно вдвое ниже. Что же касается магния ( k 0 5 0 1), то кристаллизационное концентрирование этой примеси в сочетании со спектральным окончанием нецелесообразно, так как при прямом атомно-абсорбционном определении магния Сн значительно ниже.  [4]

Разработка методов прямого спектрального анализа люминофорночистых веществ, Отч.  [5]

Необходимым условием проведения прямого спектрального анализа раствора полимера является прозрачность применяемого растворителя и полимера в аналитической области спектра.  [6]

Однако очевидна ограниченность методов прямого спектрального анализа с использованием явления фракционной возгонки. Дело заключается в том, что горячие источники света могут быть использованы для избирательного возбуждения примесей только в том случае, когда примесный элемент или его соединение являются более легколетучими по сравнению с основой. В смысле расширения круга задач, решаемых методами спектрального анализа, представляется целесообразным использование других путей обогащения, таких например, как использование различий коэффициентов распыления или скоростей распыления, коэффициентов диффузии, атомных весов или газокинетических сечений атомов.  [7]

В тех случаях, когда прямой спектральный анализ не позволяет получить необходимую величину относительных пределов обнаружения примесей в чистых материалах, применяют предварительное концентрирование примесей. При этом понижение пределов обнаружения достигается за счет: возрастания абсолютных количеств примесей при увеличении навески анализируемого материала; частичного или полного отделения примесей от основы, благоприятствующего проведению независимого спектрального определения в оптимальных условиях.  [8]

Одним из основных недостатков методов прямого спектрального анализа является влияние основы, ее физических свойств и неоднородности частиц по размерам на точность определения микроэлемента. Для устранения этого влияния рекомендуется анализируемую пробу смешивать с буферами. На примере анализа металлического висмута [31] показано, что при добавлении угольного порошка примеси поступают в зону разряда с самого начала горения дуги ( в отсутствие его только через 30 - 45 сек.  [9]

Графитовые электроды; нижние электроды для прямого спектрального анализа имеют канал диаметром 4 5 и глубиной 8 мм, для химико-спектрального анализа с осаждением применяют электроды тип II, для химико-спектрального анализа с электролитически.  [10]

Рассмотрены способы увеличения чувствительности и точности прямого спектрального анализа. Особое внимание уделено обсуждению процессов поступления микроэлементов из кратера электрода и их распределению и возбуждению в плазме. Разработаны принципиально новые методы определения галогенов, серы, фосфора в геологических объектах, а также ряд методов определения микроэлементов о повышенной чувствительностью в чистых веществах, геологических объектах и лунном грунте. Подробно обсуждается механизм воздействия магнитного поля, инертных газов при анализе сухих остатков разбавленных растворов, нанесенных на торец электрода. Приведены способы повышения чувствительности определения примесей РЗЗ в различных объектах эмиссионным спектральным и люминесцентным методами.  [11]

В институте был разработан простой высокочувствительный метод прямого спектрального анализа чистых порошкообразных, непроводящих ток тугоплавких материалов в угольной дуге постоянного тока, также получивший широкое распространение.  [12]

Проведенный обзор показал, что современные методы прямого спектрального анализа обеспечивают решение самых различных аналитических задач в области особо чистых веществ.  [13]

Для одновременного определения нескольких элементов наиболее простым является прямой спектральный анализ.  [14]

Экстракционно-спектральное определение имеет и недостатки по сравнению с прямым спектральным анализом. Применение экстракционного концентрирования уменьшает число элементов-примесей, определяемых в одной аналитической операции. Кроме того, обычно увеличивается ошибка определения.  [15]



Страницы:      1    2    3