Cтраница 1
Современный рентгеноструктурный анализ, обеспечивая высо - кую скорость проведения эксперимента, не обладает достаточной чувствительностью для фазового анализа обычно используемых аналитических навесок. Методам термографии, весьма эффективным в областях температур, где рентгеноструктурный анализ не оказывает существенной помощи в силу рентгеноаморфности проб, также пока недоступен этот диапазон концентраций. [1]
Впрочем, для тех, кто хочет ознакомиться лишь с общими основами современного рентгеноструктурного анализа и не слишком интересуется символикой и обозначениями операций симметрии, связывающих атомы в кристаллах, можно рекомендовать полностью пропустить весь раздел Б первой главы, посвященный пространственным группам симметрии. [2]
Первоначально выбранная Фишером конфигурация, очевидно, имела равные шансы оказаться правильной или неправильной. Но современный рентгеноструктурный анализ показал, что этот выбор соответствует истинному положению вещей. [3]
Все задачи, решаемые в рентгеновских камерах, за малым исключением, решаются и на дифрактометрах, но с несравненно более высокой точностью измерений. В современном рентгеноструктурном анализе все больше и больше начинают применяться дифрактометры. [4]
Многообразие методических приемов, применяемых в современном структурном анализе кристаллов, и тот индивидуальный подход, которого требует к себе каждый изучаемый объект в зависимости от состава, химических, кристаллографических и прочих характеристик, крайне затрудняют разделение всей процедуры определения атомного строения на отдельные, последовательно проводимые стадии расшифровки, усложняют разделение общих задач исследования на отдельные рабочие задачи. В общем, однако, в современном рентгеноструктурном анализе имеется несколько более или менее проторенных путей исследования, которые принципиально различаются на одних стадиях и имеют общую основу - на других. В общих чертах можно наметить некоторую схему операций, которая осуществляется в большинстве структурных исследований средней степени сложности, с указанием главных вариантов этой схемы. [5]
Рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения, методы решения проблемы начальных фаз, наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтронографического и электронографиче-ского. Во втором издании расширены ключевые разделы современного рентгеноструктурного анализа: кинематические схемы дифрактомеров, основы статистического определения начальных фаз ( знаков) структурных амплитуд, распределение электронной плотности в межъядерном пространстве по прецизионным данным. [6]