Измерение - полуширина - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Если бы у вас было все, где бы вы это держали? Законы Мерфи (еще...)

Измерение - полуширина

Cтраница 1


Измерение полуширин компонент Мандельштама - Бриллюэна дает сведения о поглощении гиперзвука, что эффективно при исследовании жидкостей и растворов, включая и область фазовых превращений. Новая спектроскопическая техника позволяет не только определить полуширину этих линий, но и, пользуясь формулами (161.4) и выражением для 6соконц, найти коэффициенты температуропроводности и взаимной диффузии растворов, а также проследить их температурную кинетику и установить закон, по которому эти величины стремятся к нулю при приближении к критической точке жидкость - пар и критической точке расслаивания растворов.  [1]

Измерение полуширин компонент Манделынтама-Бриллюэна дает сведения о поглощении гиперзвука, что эффективно при исследовании жидкостей и растворов, включая и область фазовых превращений. Новая спектроскопическая техника позволяет не только определить полуширину этих линий, но и, пользуясь формулами (161.4) и выражением для 5u KOH4, найти коэффициенты температуропроводности и взаимной диффузии растворов, а также проследить их температурную кинетику и установить закон, по которому эти величины стремятся к нулю при приближении к критической точке жидкость - nap и критической точке расслаивания растворов.  [2]

Измерения полуширин линий, отличных по форме от дисперсионной ( которые делались некоторыми авторами), вообще говоря, лишены физического смысла и по меньшей мере должны быть специально обоснованы в каждом отдельном случае. Только после этого результаты подобных измерений возможно сравнивать в той или иной форме с выводами теории.  [3]

4 Модели строения ориентированного полимера ( а и графитирующе-гося углерода ( б [ 14 - 1, 14 - 81. [4]

Методом измерения полуширины рентгеновских рефлексов было установлено, что размеры полимерных пачек имеют порядок нескольких десятков нанометров.  [5]

Рассчитаны из измерений полуширин основной колебательно-вращательной полосы.  [6]

7 Импульсная полярограмма с обращенной разверткой потенциала для обратимого восстановления.| Импульсная полярограмма с обращенной разверткой потенциала для полностью необратимого процесса восстановления. [7]

В дифференциальной импульсной полярографии измерение полуширины пика и сопоставление ее с теоретическим значением, вероятно, является простейшим способом оценки обратимости или необратимости электродного процесса. Другие критерии, основанные на применении уравнения (6.8), также могут быть использованы, о с большими трудностями.  [8]

9 Зависимость Ер и полуширины пика от частоты. [9]

Следует заметить, что измерение полуширины пика или более строгое исследование формы переменнотоковой волны, основанное на зависимости Edc от lg ( - r - j 2 ( - е-т -) 2L как предлагалось в разд. В табл. 7.4 суммированы данные, полученные для меди при изменяющихся частотах. При частоте 1000 Гц полуширина, равная 71 мВ, значительно больше, чем значение 90 / п мВ, ожидаемое для обратимого двух-электронного процесса восстановления. Можно видеть, что по мере уменьшения частоты полуширина также уменьшается до тех пор, пока при частотах между 10 и 100 Гц полуширина не достигнет значения, близкого к обратимой величине. Ер не представляет собой очень чувствительного или удовлетворительного критерия для переменнотоковой обратимости.  [10]

В табл. 14 приведены результаты измерения полуширины линий при минимальных силах тока, при которых интенсивность излучения еще могла быть достаточно точно измерена на интерферометрической установке.  [11]

Все приводимые в настоящей работе результаты измерения полуширины полос даны для контуров в оптической плотности.  [12]

Это хорошо известная лоренцева форма линии; измерение полуширины на полувысоте дает величину, которая является мерой частоты столкновений.  [13]

Ранее [2] нами было показано, что для измерения полуширины линии успешно могут использоваться методы малых добавок и двойного частотного резонанса. Сущность этих методов заключается в том, что при последовательном введении в ячейку ряда малых порций исследуемого компонента фиксируются соответствующие изменения пиковой интенсивности и полуширины линии поглощения.  [14]

15 Зависимость глубины слоя /, исследуемого методом скользящего рентгеновского пучка, от угла его наклона а для разных плоскостей в, монокристалла Мо ( излучение Со Ка.| Изменение полуширины рентгеновской интерференционной линии ( 310 на поверхности ( 2 и в объеме ( 1 монокристалла Мо при е 3 92 %.| Изменение полуширины рентгеновской интерференционной линии ( 310 /, характеризующей степень дефектности монокристалла Мо, на различной глубине от поверхности d при степенях деформации е 0 % 1. 0 72 % ( 2 и 3 92 % ( 3. [15]



Страницы:      1    2