Измерение - профиль
Cтраница 3
Схема расчета измерения профиля ласточкин хвост изнутри. [31]
 |
Схема контроля шаблона универсальной лекальной линейкой. [32] |
Рассмотрим пример измерения профилей шаблонов при помощи штангензубомера. [33]
По результатам измерения профиля приемистости и самоизлива видно, что все пласты, кроме пласта в, принимают воду. [34]
Магнитоэлектрические методы измерения профилей массовой скорости в диэлектрических материалах [2, 8-10] основываются на регистрации ЭДС магнитной индукции, появляющейся в проводнике при его движении в магнитном поле. Разрешающая способность датчика определяется материалом и толщиной фольги, из которой он изготовлен, размерами чувствительного элемента ( обычно 1 см), а также качеством контакта датчика с образцом. [35]
 |
Схема измерения шаблона. [36] |
Особый интерес представляет измерение профиля модульных шаблонов, заданных координатами различных точек профиля. Вращая столик 1 с помощью рукоятки 6 и перемещая каретку микроскопа в поперечном и продольном направлениях микрометрическими винтами 2 и 3, совмещают вертикальную штриховую линию сетки с плоскостью Y шаблона, а центр креста сетки - с точкой а шаблона. [37]
 |
Распределения интенсивности турбулентности воздуха в турбулентном пограничном слое ( Rex 1 54 105UXO 13 3 м / с. 1 - М 0. 2 - - М 0 18. 3 - М 0 26. [38] |
Также были проведены измерения профилей степени турбулентности в турбулентном пограничном слое для выборочных сечений. [39]
Спектрометр Озон-Мир обеспечивает измерение профилей концентрации малых газовых компонентов, включая озон, и аэрозолей в атмосфере. [40]
 |
Схема работы профилографа.| Профилограмма шлифованной поверхности. [41] |
Недостатком щупового метода измерения профиля являются искажения, возникающие в результате вдавливания иглы в исследуемую поверхность, поскольку в зоне контакта имеют место значительные давления. [42]
Толщина стенки трубы и измерения профиля свидетельствуют об отсутствии в подводной части участков с интенсивной коррозией. [43]
Теоретическую основу вольт-фарадного метода измерения профиля легирования составляет приближение обедненного слоя. [44]
Необходимо было повысить точность измерения частотного профиля оптической плотности T ( V) для изотопов 39К и 87Rb, присутствовавших в виде паров в термостатированной кювете в смеси с буферными газами азотом и криптоном. Аппаратный контур-определенный с помощью одночастотного стабилизированного гелий-неонового лазера, был близким к дисперсионному с шириной 290 МГц для простого эталона и 130 МГц для мультиплекса. [45]
Страницы: 1 2 3 4