Измерение - межплоскостное расстояние - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Если памперсы жмут спереди, значит, кончилось детство. Законы Мерфи (еще...)

Измерение - межплоскостное расстояние

Cтраница 1


Измерение межплоскостных расстояний d по определению углов скольжения и известным длинам волн представляет собой предмет методов рентгеноструктур-ного анализа, а измерение интенсивностей характерных длин волн - предмет методов рентгеноспектрального анализа.  [1]

В табл. 44 сопоставлены: 1) средние результаты измерений межплоскостных расстояний по 14 электронограммам, полученным методом отражения электронов от шлифованной поверхности массивного куска железа, выдержанного в воде 1 - 2 часа; 2) средние результаты таких же измерений по пяти электронограммам, полученным при просвечивании тончайших целлулоидных покрытых ржавчиной пленок, натянутых в воде на железную петельку. На целлулоиде обычно накапливалась та ржавчина, которая отставала от петельки и по высыхании капли воды ( иногда содержащей добавку NaCl) приставала к пленке.  [2]

Следует отметить, что, в то время как при расшифровке рентгенограмм кубических кристаллов единственную постоянную а можно определить по одной только линии на рентгенограмме, для тетрагональных и гексагональных кристаллов нужно для нахождения а и с сопоставить между собой результаты измерений межплоскостных расстояний dHKL ( или sirrftj) по крайней мере пары линий.  [3]

В целом успешная расшифровка порошкограмм низкосимметричных кристаллов возможна только тогда, когда вещество имеет сравнительно небольшие размеры элементарной ячейки и дает весьма четкие и тонкие линии, и при условии, что при съемке тщательно устранены паразитические излучения ( линии Кр, линии Ка загрязнений анода, L-линии вольфрама), а измерения межплоскостных расстояний произведены с большой точностью.  [4]

Важное значение рентгенограммы вращения состоит в том, что ее можно использовать для измерения истинной периодичности решетки. Методы измерения межплоскостных расстояний, более удобные и точные, не всегда дают эту информацию.  [5]

На рис. 165 изображена элементарная ячейка железа, показаны расстояния между атомами. Эти сведения сразу же получаются одним лишь измерением межплоскостных расстояний.  [6]

Образец рассматривают, поместив его между покровными стек лами, когда он еще суспендирован в маточном растворе и содержит целые неповрежденные кристаллы. Кристаллическое вещество всегда можно отличить от аморфного с помощью рентгенограммы, так как аморфное и кристаллическое вещества дают различные дифракционные картины. Метод дифракции - это, вероятно, лучший метод характеристики кристаллической фазы; он особенно удобен для идентификации веществ и различных полиморфных модификаций. Результаты измерений межплоскостных расстояний кристалла точны и воспроизводимы.  [7]

Эльмископ I фирма гарантирует разрешающую способность лучше 15 А. Среднее значение измерений составляет 12 А, а на отдельных объектах воспроизводимо доказывается разрешение лучше 10 А. На приведенных микрофотографиях показано разрешение 8 А. Такая объективность свойственна, вероятно, не всем фирмам, и поэтому можно думать, что хотя в табл. 2 для Эльмископа I фигурирует разрешение 10 - 15 А, этот прибор является одним из наиболее совер шенных в настоящее время. В последнее время для определения разрешения применяют также измерение межплоскостных расстояний в кристаллических решетках некоторых соединений, например, фталоцианинов. Следует иметь в виду, что результаты, полученные обоими методами, могут не совпадать - во втором случае условия формирования изображения более благоприятны в том отношении, что не сказывается.  [8]

Оба эти варианта распределений приводят к кристаллографически неэквивалентным сверхструктурам, относящимся к различным пространственным группам. Выбор между ними оказывается возможным только в том случае, если принять во внимание деформацию кристаллической решетки сверхструктуры. Однако однозначный выбор может быть сделан и на основании только измерения межплоскостных расстояний.  [9]



Страницы:      1