Измерение - толщина - изделие
Cтраница 3
 |
Кинематическая схема записывающего устройства к дефектоскопу УЗД-Н14ИМ-2 для записи звукограмм.| Электрическая схема записывающего устройства дефектоскопа УЗД-НИИМ-2. [31] |
Для определения координат дефектов ( глубины залегания и расстояния от щупа), а также для измерения толщины изделий в дефектоскопе имеется электронный глубиномер с восемью шкалами. Наличие электронной лупы позволяет вести контроль толщины изделий по слоям, увеличивая разрешающую способность прибора и значительно облегчая процесс контроля сварных соединений. Величина контролируемого слоя регулируется в пределах от 8 до 500 мм. Расположенная на щупе лампочка может использоваться как для индикации обнаружения дефектов, так и для освещения при работе в темных местах; в последнем случае в качестве дополнительного индикатора применяются телефо нные наушники. [32]
Дефектоскоп ультразвуковой импульсный ДУК-66, смонтировшный на этой установке, предназначен для обнаружения дефектов, определения координат их залегания и измерения толщины изделия. [33]
Назначение: Предназначен для контроля степени коррозионных поражений, абразивного износа и т.п. труб, резервуаров, любых металлоконструкций в любых климатических поясах; для измерения толщины изделий из различных металлов и сплавов, стекла, керамики, некоторых пластмасс и др.; для измерения скорости ультразвука в образцах с известной толщиной. [34]
Ультразвуковой импульсный дефектоскоп типа УД-10УА предназначен для обнаружения дефектов ( расслоений, трещин, рыхлот) внутри металлических изделий, определения координат залегания дефектов и измерения толщины изделия. При использовании субблоков генератора СЕ-02 и усилителя СА-03 можно контролировать материалы с большим затуханием ( слоистый стеклопластик, полиэтилен) на частотах 0 2 - 0 4 МГц и обеспечить выявление мелких дефектов на более высоких частотах 10 - 15 МГц. Прибор используется на предприятиях машиностроительной, металлургической, химической и других отраслей промышленности. Может работать как при эхо-импульсном, так и при теневом методе контроля в контактном или иммерсионном вариантах с прямыми, наклонными и раздельно-совмещенными искателями. [35]
Таким образом, если измерить интервалы t и fj и реализовать алгоритм расчета толщины а по приведенной формуле, то предлагаемый способ в результате использования только одного типа УЗК ( продольных волн) обеспечивает измерение толщины изделий с помощью автокалибрующихся толщиномеров. [36]
Радиоактивный изотоп Т1240 ( период полураспада 2 7 года) применяют в качестве источника ( 3 - й злучения в приборах для контроля материалов ( дефектоскопах) и производственных процессов, в частности для измерения толщины изделий и покрытий. [37]
 |
Конструкция пьезопреобразователя для автокалибрующегося толщиномера. [38] |
Таким образом, если измерить интервалы t и t2 и реализовать алгоритм расчета толщины а по приведенной формуле, то предлагаемый способ в результате использования только одного типа УЗК ( продольных волн) обеспечивает измерение толщины изделий с помощью автокалибрующихся толщиномеров. [39]
Бесконтактные методы измерения толщины изделий чаще всего основаны на использовании ионизационного излучения. Устройство для измерений толщины изделий с использованием ионизационного излучения содержит источник излучения известной интенсивности / о и приемник излучения, измеряющий интенсивность 1Х ослабленного в результате прохождения через исследуемую деталь излучения. [40]
На контролируемом объекте устанавливают ультразвуковой передатчик, собственная частота которого изменяется до тех пор, пока стенка объекта не начнет колебаться в резонансе. Метод используют для измерения толщины изделий пластинчатой формы. [41]
На контролируемом объекте устанавливают ультразвуковой передатчик, собственная частота которого изменяется до тех пор, пока стенка объекта не начнет колебаться в резонансе. Метод используют для измерения толщины изделий пластинчатой формы. [42]
Преимущество феррозондов при измерении толщины изделий из неферромагнитных материалов, в частности, заключается в независимости показаний прибора от химического состава материала. По литературным данным представляется возможным измерять колебания толщины стенки неферромагнитного изделия до 1 мк. [43]
Контроль толщины покрытий осуществляется различными методами. Простейший из них - измерение толщины изделий микрометром до и после получения покрытия. Метод применим только для покрытий толщиной более 0 01 мм, причем на изделиях простого профиля с точно пришлифованными поверхностями. [44]
Эти частоты широко используются в радарных установках. СВЧ-методы могут быть использованы для обнаружения и локации дефектов, измерения толщины изделия, определения содержания в нем влаги, а также для изучения диэлектрических свойств неметаллических материалов. [45]
Страницы: 1 2 3 4