Измерение - толщина - покрытие
Cтраница 4
Погрешность измерения толщины покрытия зависит от условий проведения контроля, контролируемого объекта, изменения зазора и электромагнитных свойств покрытия. Зазор может изменяться за счет эксцентриситета или износа фиксирующих роликов либо из-за неровности поверхности контролируемого объекта, так как рупор ИР и ролики ФРг и ФР2 смещены друг относительно друга. Аналогично влияют перекосы и шероховатость поверхности контролируемого объекта, что в первую очередь изменяет также смещение роликов, причем неидеальность границы раздела покрытие - основание сказывается значительно меньше, чем шероховатость внешней границы объекта. Существенную погрешность может дать вариация диэлектрической или магнитной проницаемости покрытия относительно номинальной, что приводит к изменению длины волны в материале покрытия и, следовательно, к появлению дополнительного сдвига фазы отраженной волны. Значительную погрешность может вызвать наличие в диэлектрическом покрытии металлических включений, полностью отражающих падающую СВЧ-энергию, или влаги и приближение края изделия. [46]
Для приблизительного измерения толщины покрытия были предложены капельные методы. [47]
Перед измерением толщины покрытия проверяется цена деления окулярного микроскопа. Объект-микрометр помещают под микроскопом и тубусом наводят резкость. [48]
 |
Прибор В-166. [49] |
Перед измерением толщины покрытия прибор проверяется по контрольным тарированным образцам. Поворотом винта S стрелка устанавливается на нуль. При хранении прибор следует беречь от воздействия сильных магнитных полей и высокой температуры. Прибор предназначен для определения толщины немагнитных и слабомагнитных покрытий, нанесенных на ферромагнитную основу. [50]
Перед измерением толщины покрытия на магнитных подложках необходимо удалить с шаровой поверхности магнита случайно попавшую металлическую пыль и другие загрязнения липким материалом. [51]
При измерении толщины покрытия прибор ставят на поверхность изоляции и нажимают на кнопку 3; при этом стрелка указывает толщину покрытия. [52]
 |
Оптико-механический толщиномер с постоянным магнитом конструкции С. А. Винокурского и М. В. Кутермана. [53] |
При измерении толщины покрытия магнит / подводят к контролируемому изделию 11 и затем вращением маховичка 10 плавно отрывают магнит от изделия. [54]
 |
Принципиальная электрическая схема прибора МТ-ДАЗ.| Схема датчика при ( МТ-ДАЗ. [55] |
При измерениях толщины покрытий на деталях из сталей с содержанием углерода до 1 %, с радиусом кривизны деталей не менее 1 5 мм и чистотой обработки поверхности V 6 и выше отсчет толщины покрытия ведут непосредственно по шкале прибора. При измерениях толщины покрытий на деталях из высоколегированных сталей и чугуна и на деталях из углеродистых сталей с чистотой поверхности ниже V 6 используется пересчет показаний по передвижному графику-планшету. [56]
 |
Датчик прибора ТПО в разобранном виде. [57] |
При измерении толщины покрытия происходит разбаланс электрической схемы датчика ДЧ, питание которого осуществляется через трансформатор Tpi. Индикатор цА показывает соответствующую толщину покрытия измеряемой детали. [58]
Приборы для измерения толщины покрытий, основанные на использовании вихревых токов, являются наиболее универсальными, поскольку позволяют проводить измерения при наибольшем числе сочетаний материалов основы и покрытия. [59]
 |
Годовые затраты на эксплуатацию изотопных приборов в руб. [60] |
Страницы: 1 2 3 4 5