Cтраница 1
Разностные измерения следует предпочитать непосредственным измерениям. [1]
Применение разностных измерений практически дает возможность отказаться от необходимости использования эталонных винтов при контроле кинематической точности винторезных станков, дисков ки-нематометров с. [2]
Сущность разностных измерений функциональных ошибок кинематических цепей может быть пояснена следующим примером. [3]
При разностных измерениях ошибки практически исключаются, если проверяемое изделие и установочная мера по форме и материалу мало отличаются друг от друга и измерение производится при одном и том же направлении движения измерительного стержня. Если при непосредственных измерениях измерительный стержень перемещается на больших участках, то измерительное усилие изменяется вместе с перемещением стержня ( фиг. [4]
При непосредственных или разностных измерениях ( путем сравнения с образцом) контролируемого изделия при помощи рычажного прибора и стойки упругая деформация вызывает ошибку, которая происходит от разности величин измерительного усилия при отсчете двух показаний. [5]
Учитывая это обстоятельство, разностные измерения должны дополняться контролем среднего значения шага ходового винта. Подобный контроль должен сводиться к абсолютным измерениям пути, пройденного суппортом станка за целое число оборотов ходового винта станка. [6]
При интерферометрических определениях ограничиваются разностными измерениями, определяя некоторые числа, являющиеся мерой разности дп между показателем преломления исследуемого газа и газа, взятого для сравнения. [7]
При интерферометрических определениях ограничиваются разностными измерениями, определяя некоторые числа, являющиеся мерой разности д / г между показателем преломления исследуемого газа и газа, взятого для сравнения. [8]
Для ручного прибора погрешность при разностном измерении доходит до 1 мк, при непосредственном измерении до 3 мк. В ручных приборах надо следить за тем, чтобы установка на ноль, а также измерение производились при одинаковом угле наклона прибора, для того чтобы частично исключить ошибку измерения, возникающую в чувствительных к углу наклона ручных приборах. [9]
Соответственно этому различают непосргдственные измерения и разностные измерения. [10]
По вышеназванным причинам эта разность определяется путем разностного измерения при тактовом включении поляризующего тока. [12]
Так как затронутый вопрос о методике проведения разностных измерений относится к области метрологии функциональных ошибок и выходит за рамки настоящей работы, мы ограничиваемся сделанными принципиальными замечаниями об обработке результатов разностных измерений, отметив здесь несомненную плодотворность разработки способов разностных измерений в метрологии функциональных ошибок. [13]
Это означает, что принцип релятивизации, или разностного измерения, позволяет исключить в криоскопии как систематическую погрешность градуировки, так и систематическую реактивную ( примесную) ошибку. Принцип вычитания аналитического сигнала холостой пробы или фона используется во всех инструментальных методах. Такая коррекция фона исключительно важна при прямом анализе многокомпонентных смесей ( без предварительного разделения), особенно при работе вблизи предела обнаружения, где сигналы фона и определяемого компонента соизмеримы. Коррекцию фона проводят либо непосредственно в ходе измерения сигнала анализируемого компонента, регистрируя интенсивность фонового сигнала рядом с основным, как это делается, например, в эмиссионном спектральном анализе. [14]
Это означает, что принцип релятивизации, или разностного измерения, позволяет исключить в криоскопии как систематическую погрешность градуировки, так и систематическую реактивную ( примесную) ошибку. Принцип вычитания аналитического сигнала холостой пробы или фона используется во всех инструментальных методах. Такая коррекция фона исключительно важна при прямом анализе многокомпонентных смесей ( без предварительного-разделения), особенно при работе вблизи предела обнаружения, где сигналы фона и определяемого компонента соизмеримы. Коррекцию фона проводят либо непосредственно в ходе измерения сигнала анализируемого компонента, регистрируя интенсивность фонового сигнала рядом с основным, как это делается, например, в эмиссионном спектральном анализе. [15]