Трехмерное измерение

Cтраница 1

Трехмерные измерения, получаемые по фотографиям, которые сделаны с промышленного макета ОХИ, целесообразно использовать при автоматизированной разработке структуры СТТ. Это сокращает сроки проектирования новых ОХИ и ускоряет ремонт или реконструкцию действующих предприятий. [1]

К каждой группе сенсоров относятся системы электронно-оптических преобразователей, предназначенных для изображений объектов в трехмерном измерении с выбором из них наиболее характерных признаков. С помощью указанных сенсоров могут решаться задачи идентификации, ориентации объекта относительно робота. [2]

Тогда в четырехмерном континууме будут действительны отношения, аналогичные тем, которые имеют силу для наших трехмерных измерений. [3]

Особыми случаями являются плоскостные и многоплоскостные методы интроскопии. Они включают в себя соответственно последовательные измерения по плоскостям или одновременные объемные трехмерные измерения. Тем не менее их чувствительность невелика. Это обусловлено необходимостью ограничивать активный объем. Однократное сокращение размерности, которое используется в плоскостной интроскопии, приводит к тому, что чувствительность становится меньше, чем у линейных методов измерения. Двойное сокращение размерности, которое используется в многоплоскостной интроскопии, приводит к значительному уменьшению чувствительности по сравнению с методом чувствительной точки. Кроме того, оба этих метода по сравнению с другими методами проигрывают в разрешающей способности, что можно повысить, лишь еще больше жертвуя чувствительностью. [4]

Плоское строение ядра комплекса установлено в результате проведения двух независимых структурных исследований. На рис. 16 приведены данные русских авторов [59], полученные на основе трехмерных измерений. В 4-членном цикле двойная связь CS делокализована, а связи Ni-S равноценны. [5]

Штамп для вытяжки крупногабаритной детали, повернутой иа угол а по отношению к ее служебному положению. [6]

Одновременно с помощью современных телевизионных установок представляется возможность считывать чертежи с формообразующими линиями в трехмерном измерении. Применение ЭВМ и САПР представляет возможность создавать штамповую оснастку, мииуя изготовление ряда промежуточных моделей. [7]

Толщинометрия и контроль внутреннего строения малогабаритных изделий может успешно производиться в проекционном режиме работы или с помощью проекторов [1, 2], имеющих мощный осветитель и предназначенных для контроля с выносом увеличенного изображения на матовый экран ( обычно затененный) большого размера. С помощью микроскопа осуществляют трехмерные измерения геометрических размеров. Размеры объекта в направлении, перпендикулярном линии визирования, определяют с помощью отсчетного устройства путем смещения предметного столика с расположенным на нем контролируемым объектом до совпадения соответствующих точек объекта с центром поля зрения микроскопа и считывания в эти моменты расстояния. Помимо этого, измерение этих размеров может осуществляться в плоскости изображений по измерительной сетке, отградуированной по эталонам с учетом увеличения микроскопа. [8]

Многие измерительные микроскопы оборудованы устройствами прецизионного перемещения изделий в предметной плоскости микрообъектива с возможностью отсчета координат. Увеличение и соответственно глубина резкости микроскопов выбираются, исходя из особенностей формы изделий. Многие модели современных измерительных микроскопов снабжаются устройствами измерения вертикального перемещения микрообъектива, т.е. обеспечивается трехмерное измерение объектов. [9]

Общий вид минералов ( кристаллов. [10]

Минералы в природе не всегда бывают в идеальной форме. В благоприятных ( идеальных) условиях роста все грани кристалла равномерно развиваются в соответствии с его кристаллохимической структурой. В результате скорости роста кристаллов минералов в различных направлениях изменяются и кристаллы минералов в различных направлениях ( трехмерное измерение - высота, ширина, длина), также они могут быть вытянутыми или сплюснутыми, в отдельных случаях равномерно развитыми. [11]

Страницы: 1