Cтраница 4
Эксперимент не оставляет сомнения в том, что эти волны являются импульсами сжатия. В работе [17] описаны исследования профиля излома с помощью щупа. Образованные импульсами линии показывают ступенчатое изменение направления распространения трещины к центру удара ( например, к точке Р на фиг. [46]
Например, при исследовании профиля притока в нефтяной добывающей скважине сверху вниз скорость потока в направлении к забою скважины должна уменьшаться. Если она возрастает, то можно предполагать переток жидкости из верхнего пласта в нижний ( или наоборот - при исследовании профиля снизу вверх) в случае одинакового внутреннего диаметра колонны. [47]
Если округление расчетного дробного значения количества станций произведено в меньшую сторону - до 2, то для компенсации недостающего напора укладываются лупинги или вставки большего диаметра. После исследования профиля установили, что точка DI является перевальной, то есть расчетная длина меньше геометрической. [48]
Прямые зубья имеют направление по образующей конуса, касание сопряженных зубьев - по прямой. Боковые стороны зубьев ограничены некруглыми коническими поверхностями. Теоретически точный эвольвентный профиль может быть построен методами сферической геометрии. Для графического построения и исследования профилей пользуются приближенным методом, заключающимся в замене сферической поверхности двумя дополнительными конусами с последующей разверткой их на плоскость ( фиг. [49]
Измерение распределения интенсивности позволяет получить довольно полные сведения об угле блеска и качестве выполнения профиля штрихов. Однако в некоторых случаях, когда, например, необходимо сопоставить наблюдаемое распределение интенсивности с вычисленным, желательно иметь более полные сведения о форме профиля штрихов. Для решеток, имеющих 600 штр / мм и менее, при небольших углах блеска исследование профилей проводится иногда на интерференционных микроскопах. Для более мелких штрихов этот прибор неэффективен ввиду малой разрешающей способности, и детали их структуры обычно исследуют при помощи электронного микроскопа. Однако это связано со значительными трудностями. Точность определения параметров профиля штрихов этим методом значительно снижается из-за того, что исследуется не сама решетка, а ее реплика. [50]
Наиб, широко применяется эффект Джозефсона. На основе сверхпроводящих квантовых интерферометров ( сквидов) разработаны методы измерений, порог чувствительности к-рых снижен вплоть до ограничений фундам. Из др. КЭ следует отметить эталоны, основанные на тун-иельном эффекте, позволяющем в сканирующем туннельном микроскопе достичь при исследовании профиля поверхности разрешающей способности порядка атомных размеров. [51]