Cтраница 3
В ряде случаев в металле создаются две оси текстуры. При этом различные группы кристаллов имеют различную ориентировку. [31]
Расстояния 2х между текстурными максимумами. [32] |
В ряде случаев исследователю бывает известно расположение оси текстур в образце, но остаются неизвестными кристаллографические индексы оси текстуры. Так, например, известно, что ось текстуры тянутой проволоки параллельна направлению протяжки, а ось текстуры электролитического осадка перпендикулярна плоскости катода при параллельности плоскостей анода и катода при отсутствии искажения силового поля во время электролиза. [33]
По расстоянию между слоевыми линиями вычисляется период по оси текстуры. Поскольку по оси текстуры обычно ориентирована ось макромолекулы, то, зная величину периода, можно найти длину звена макромолекулы, а по нему - конфигурацию макромолекулы. [34]
Индексы некоторых направлений в кубическом кристалле. [35] |
Для полной оценки характера текстуры недостаточно определить только ось текстуры. Очень важно установить ее совершенство. Под совершенством текстуры понимают характер рассеивания в расположении кристаллитов от основной оси текстуры. [36]
IB плоскости осадка, IB результате чего возникает ось текстуры [011], параллельная линиям тока. Для металлов, имеющих гранецентрированную кубическую решетку, при их холодной прокатке возможно возникновение двух различных текстур - с расположением плоскостей ( 111) и ( 001) параллельно плоскости прокатай. Однако автор сразу же добавляет, что ориентация будет определяться также и тем, какого рода напряжения имеются в осадке. Если в осадках металлов, имеющих гранецентрированную кубическую решетку, возникают напряжения сжатия, то осями возникшей текстуры будут направления [ ОН ] и [001], что, согласно Вилли, подтверждается на кобальте, меди и никеле. Если в электролитических осадках серебра возникают в зависимости от условий электролиза напряжения растяжения, то текстура становится аналогичной ориентации в холоднопрокатанных металлах. Вилли подтверждает это положение, приводя результаты опытов с серебром. [37]
Таким образом, при кольцевой текстуре плоскости, параллельные оси текстуры ( в рассматриваемом случае - оси шестого порядка), оказываются ориентированными произвольно вокруг этой оси, тогда как плоскость базиса ориентирована анизотропно. [38]
Таким образом, для каждой формы кристаллов имеется совершенно определенная ось текстуры, благоприятствующая блеску электролитического покрытия. [39]
Индексы некоторых направлений в кристалле. [ IMAGE ] ХХХ. 18. Зависимость между углами в, 6 и Р ( / iAON - р. [40] |
Текстуру проволоки можно охарактеризовать, определив кри-сталографическое направление оси текстуры, для чего достаточно сделать один снимок. [41]
Связь между расположением дифракционных максимумов и текстурой.| Схема получения на рентгенограмме текстурных максимумов.| Индексы некоторых направлений в кристалле. [42] |
Текстуру проволоки можно охарактеризовать, определив кристаллографическое направление оси текстуры, для чего достаточно сделать один снимок. [43]
По значениям р, пользуясь таблицами, определяют индексы оси текстуры. [44]
Кристаллографическая ось, вдоль которой ориентируются кристаллы, называется осью текстуры. [45]