Параметр - электронная лампа
Cтраница 3
Дрейф нуля УПТ на электронных лампах обусловлен в основном нестабильностью анодного тока лампы первого каскада ( нестабильность связана с колебаниями источников анодного питания, сеточного смещения и накала), изменениями характеристик и параметров электронной лампы ( особенно эмиссии катода) и сопротивлений схемы, нестабильностью сеточного тока. Необходимость в большом входном сопротивлении УПТ заставляет сводить ток управляющей сетки к минимуму. [31]
Разброс характеристик и параметров электронных ламп одного типа обусловлен неодинаковыми размерами деталей, идущих на сборку ламп, случайными деформациями при сборке и технологической обработке лампы, невозможностью точного повторения режима технологического процесса, неодинаковыми эмиссионными характеристиками катодов и др. Параметры электронной лампы изменяются во времени. Крутизна характеристики лампы, как правило, уменьшается, а анодно-сеточная характеристика сдвигается вправо. В качестве критерия долговечности обычно указывают минимальную величину крутизны анодно-сеточной характери стики. В справочниках приводятся типовые характеристики и указываются средние статические значения параметров лампы, работающей в номинальном режиме. [32]
Выпускаемые промышленностью приборы делятся на 20 подгрупп: А - для измерения силы тока; В-для измерения напряжений; Е - для измерения параметров компонентов с сосредоточенными постоянными; М - для измерения мощности; Р - для измерения параметров элементов и трактов с распределенными постоянными; Ч - для измерения частоты; Ф - для измерения фазовых сдвигов и группового времени запаздывания; С - для наблюдения, измерения н исследования формы сигнала и спектра; X-для наблюдения и исследования характеристик радиоустройств; И - для импульсных измерений; П - для измерения напряженности поля и радиопомех; У - усилители измерительные; Г - генераторы измерительные; Д - для измерении ослаблений и аттенюаторы; К - комплексные измерительные установки; Л - для измерения параметров электронных ламп и полупроводниковых приборов; Ш - для измерения электрических и магнитных свойств материалов; Я - блоки радиоизмерительных приборов; Э - измерительные устройства коаксиальных и волноводных трактов; Б - источники питания для измерения и радиоизмерительных приборов. [33]
 |
Контрольная карта напряжений. [34] |
Эти документы составляют по результатам проверки режимов опытной партии изделий, отрегулированной и проверенной на соответствие техническим требованиям. Из-за разброса параметров электронных ламп и транзисторов результаты измерений потенциалов активных элементов отличаются у разных экземпляров изделий проверяемой партии. [35]
При практических расчетах параметры электронной лампы определяют графоаналитически. [36]
При этом коэффициент нагрузки а, определяется параметрами электронной лампы ( или транзистора), примененной в данном каскаде, и для расчетчика трансформатора является заданным. [37]
Для расчета ламповых схем часто наряду с параметрами электронной лампы в той или иной точке необходимо знать ее сеточную или анодную характеристику на достаточно большом участке. Экспериментальное получение таких характеристик не представляет трудностей, но для расчетов требуется их аналитическое выражение. [38]
Практически в отработанной аппаратуре усилитель почти не регулируется, а только подвергается проверке с целью установления соответствия основных параметров предъявляемым требованиям. В ламповых схемах стабильность параметров усилителя обеспечивается малым разбросом параметров электронных ламп и пассивных радиоком -, понентов. В полупроводниковых схемах, где активные элементы чшеют сравнительно большой разброс параметров, стабилизация усилителя осуществляется введением в схему отрицатель - - йых обратных связей, применением демпературнозависимых элементов. [39]
Удовлетворительно работающий при высокой температуре хронометр может оказаться ненадежным после замены одной электронной лампы или взаимной перестановки двух ламп, несмотря на то, что при той же самой комбинации ламп в условиях низкой температуры прибор работает нормально. Это объясняется тем, что на закономерное изменение параметров схемы от воздействия температуры накладывается случайное уклонение параметров электронных ламп, изготовляемых с нормированным производственным разбросом, который может либо компенсировать, либо усугубить температурное влияние. Известно также, что при расчете триггеров на плоскостных полупроводниковых триодах расчетное значение определяющего надежность параметра /, вычисляется, исходя из максимальной рабочей температуры и максимальной величины неуправляемого коллекторного тока / 0иакг в пределах производственного разброса. [40]
Частота лампового генератора зависит от индуктивности и емкости колебательного контура, а также ( хотя и в значительно меньшей степени) от активного сопротивления, параметров электронной лампы и режима ее работы. [41]
Частота лампового генератора зависит от величин индуктивности и емкости колебательного контура, а также ( хотя и в значительно меньшей степени) - от величины активного сопротивления, параметров электронной лампы и режима ее работы. [42]
Стабилизация частоты - поддержание постоянства частоты, создаваемой генератором. Частота лампового генератора зависит от величин индуктивности и емкости колебательного контура, а также ( хотя и в значительно меньшей степени) - от величины активного сопротивления, параметров электронной лампы и режима ее работы. [43]
В Справочнике описан принцип действия электронных измерительных приборов, представлены их основные технические характеристики, указана комплектация упомянутых приборов. Рассмотрены самые различные типы электронных измерительных приборов, таких, как приборы для измерения силы тока, напряжений, параметров компонентов и цепей с сосредоточенными параметрами, мощности, параметров элементов и трактов с распределенными параметрами, частоты и времени, разности фаз и группового времени запаздывания, приборы для наблюдения, измерения и исследования формы сигнала и спектра, для наблюдения и исследования характеристик радиоустройств, для импульсных измерений, измерения напряженности поля и радиопомех, измерительные усилители и генераторы, аттенюаторы и приборы для измерения ослаблений, комплексные измерительные установки, приборы общего применения для измерения параметров электронных ламп, полупроводниковых приборов и интегральных схем, приборы для измерения электрических и магнитных свойств материалов, измерительные устройства коаксиальных и волноводных трактов. [44]
При увеличении частоты сигнала на электродах электронных ламп и транзисторов появляется фазовый сдвиг между токами и напряжени - ями. Параметры становятся комплексными и зависят от частоты. Изменение параметров электронных ламп происходит на достаточно высоких частотах; у диффузионных и дрейфовых плоскостных транзисторов зависимость параметров от частоты проявляется на сравнительно низких частотах. В связи с этим параметры управляемых элементов часто разделяют на низкочастотные и высокочастотные. [45]
Страницы: 1 2 3 4