Осциллирующий контраст
Cтраница 1
Осциллирующий контраст, обусловленный дислокациями, постепенно приближающимися к поверхности кристалла дисульфида олова. [1]
Исследовался, в частности, осциллирующий контраст, обусловленный винтовой дислокацией, расположенной наклонно по отношению к плоскости фольги. [2]
В случае дислокаций, проходящих наклонно к поверхности фольги и дающих осциллирующий контраст, можно различить верхний и нижний концы, сравнивая светлопольное и темнопольное изображения. Изображения нижнего конца дислокациии будут взаимно дополнительными. Поскольку период осцилляци равен fe, по изображению с осциллирующим контрастом можно измерить расстояние от дислокации до поверхности фольги. [3]
Сравнивая детали осциллирующего контраста соседних дислокаций, сделать вывод о соотношении их знаков. [4]
Если действуют два разных сильных отражения, удовлетворяющих этому условию, то может наблюдаться двойное изображение. Наклонные винтовые дислокации иногда дают осциллирующий контраст того же типа, что и осциллирующий контраст в изображениях дефекта упаковки. Для полного объяснения этого типа контраста изображения дислокации необходимо привлечение динамической теории. [5]
Если действуют два разных сильных отражения, удовлетворяющих этому условию, то может наблюдаться двойное изображение. Наклонные винтовые дислокации иногда дают осциллирующий контраст того же типа, что и осциллирующий контраст в изображениях дефекта упаковки. Для полного объяснения этого типа контраста изображения дислокации необходимо привлечение динамической теории. [6]
На рис. 152 приведены дислокационные структуры синтетического алмаза. На рис. 152, б дислокация представлена в виде сложной темной линии. Осциллирующий контраст обусловлен наличием дислокаций, расположенных сравнительно далеко от поверхности и наклонно пересекающих ее. С ростом концентрации азота плотность дислокаций, по-видимому, убывает, как в природных кристаллах, у которых наибольшая плотность ростовых дислокаций наблюдается в беспримесных алмазах. Наряду с указанными дефектами в синтетических алмазах наблюдаются микровключения. [7]
 |
Дислокации в сплаве Fe 3 % Si. [8] |
Дислокации, расположенные параллельно поверхности фольги ( рис. 21.24), имеют однородный контраст, если действует одно только отражение. Если действуют два разных сильных отражения, удовлетворяющих условию gb 0, то может наблюдаться двойное изображение. Наклонные дислокации иногда дают осциллирующий контраст того же типа, что и осциллирующий контраст в изображениях дефекта упаковки. Для полного объяснения этого типа контраста изображения дислокации необходимо привлечение динамической теории. [9]
В случае дислокаций, проходящих наклонно к поверхности фольги и дающих осциллирующий контраст, можно различить верхний и нижний концы, сравнивая светлопольное и темнопольное изображения. Изображения нижнего конца дислокациии будут взаимно дополнительными. Поскольку период осцилляци равен fe, по изображению с осциллирующим контрастом можно измерить расстояние от дислокации до поверхности фольги. [10]
Для колонок, проходящих через ядро дислокаций, плоскости атомов смещены, как в случае дефектов упаковки, с той разницей, что смещение происходит на расстоянии десятков или сотен ангстрем. Следовательно, можно ожидать, что проектируемые линии дислокаций будут давать осциллирующий контраст, подобный контрасту полос от дефектов упаковки. [11]
 |
Дислокации в сплаве Fe 3 % Si. [12] |
Дислокации, расположенные параллельно поверхности фольги ( рис. 21.24), имеют однородный контраст, если действует одно только отражение. Если действуют два разных сильных отражения, удовлетворяющих условию gb 0, то может наблюдаться двойное изображение. Наклонные дислокации иногда дают осциллирующий контраст того же типа, что и осциллирующий контраст в изображениях дефекта упаковки. Для полного объяснения этого типа контраста изображения дислокации необходимо привлечение динамической теории. [13]
Рассмотренные выше свойства изображения очень ценны, так как они позволяют определять геометрию дислокации в пространстве. Они дают нам шкалу глубины, которая полностью отсутствует в электронном микроскопе из-за большой глубины фокуса. Оказывается возможным, например, оценить глубину данного отрезка наклонной дислокации в плоскопараллельной фольге. Если дислокация параллельна одной плоскости клиновидной фольги, то по осциллирующему контрасту можно определить расстояние от дислокации до другой плоскости клина. Выполняется ли указанное условие или нет, можно установить сравнивая периоды контуров клина в боковом направлении и осциллирующего контраста. [14]
Рассмотренные выше свойства изображения очень ценны, так как они позволяют определять геометрию дислокации в пространстве. Они дают нам шкалу глубины, которая полностью отсутствует в электронном микроскопе из-за большой глубины фокуса. Оказывается возможным, например, оценить глубину данного отрезка наклонной дислокации в плоскопараллельной фольге. Если дислокация параллельна одной плоскости клиновидной фольги, то по осциллирующему контрасту можно определить расстояние от дислокации до другой плоскости клина. Выполняется ли указанное условие или нет, можно установить сравнивая периоды контуров клина в боковом направлении и осциллирующего контраста. [15]
Страницы: 1