Дифракционный контраст
Cтраница 2
Для наблюдения и оценки особенностей дифракционного контраста важно иметь возможность плавной регулировки и изменения ориентации образца относительно падающего пучка и при различных условиях дифракции-изучать одно и то же поле зрения. Иначе важные источники контраста могут остаться незамеченными. [16]
РЕНТГЕНОВСКАЯ ТОПОГРАФИЯ, использующая тот же эффект дифракционного контраста, что и просвечивающая электронная микроскопия, также позволяет наблюдать отдельные дислокации. Но из-за малой разрешающей способности она применима лишь к монокристаллам с плотностью дислокаций не выше 105 - 104 см-2. Поэтому этот метод не может сколько-нибудь широко использоваться для изучения дислокационной структуры металлов и сплавов. [17]
Наблюдение дислокаций в этом случае основано на дифракционном контрасте, где под контрастом понимается отношение интенсивности пучка электронов, прошедшего через кристалл, к падающему. [18]
Контраст на изображении тонких кристаллических образцов - это дифракционный контраст, а не абсорбционный, который обычно наблюдается на изображениях реплик. [19]
При исследованиях микроструктур, методами, основанными на принципе дифракционного контраста или на разрешении больших межплоскостных расстояний d, необходимо, чтобы размер кристаллитов был сравним с полем зрения при используемом увеличении. Если размер зерна становится много меньше, чем поле зрения микроскопа, или меньше, чем толщина пленки, различные особенности контраста перекрываются до такой степени, что они не могут быть приемлемо разрешены. В этом случае более приемлемо извлекать информацию из дифракционной картины, уширение или смещение линий которой дают параметры, усредненные по большой площади. Такой важный параметр мелкозернистых пленок, как размер зерна, может быть определен достаточно точно из темнопольного изображения посредством настройки диафрагмы на сильное дебаевское кольцо, что приводит к четкому выявлению нескольких зерен на темном фоне. Этот метод применим для определения размера когерентно дифрагирующих участков вплоть до размеров 20 А. [20]
Другие правила контраста в рентгенографии также подобны обсужденным для дифракционного контраста в электронной микроскопии. [21]
Эти дефекты на электронно-микроскопическом изображении видны в результате явления дифракционного контраста. Различная дифракция электронов на дефектном и недефектном участках кристалла ( более сильная или менее сильная) приводит к разной освещенности соответствующих его зон и, как следствие этого, к появлению контраста. [22]
Электронно-микроскопические исследования выполнены на электронном микроскопе УЭМВ-100 светлопольным методом дифракционного контраста. [23]
Это означает, что обычно контраст конечного изображения является только массовым, дифракционный контраст отсутствует, если только не проводить съемку с применением особых методических приемов. [24]
 |
Схема образования контраста изображения поликристаллического объекта, состоящего из субзерен разной ориентировки. [25] |
Главной особенностью электронного микроскопа для прямых исследований кристаллических объектов является возможность управления дифракционным контрастом изображения с помощью контролируемого наклона объекта вокруг любой заданной оси. [26]
 |
Схема, иллюстрирующая возникновение контраста возле краевой дислокации. [27] |
Главной особенностью электронного микроскопа для прямых исследований кристаллических объектов является возможность управления дифракционным контрастом изображения с помощью контролируемого наклона объекта вокруг любой заданной оси. В лучших приборах при этом сохраняется высокое разрешение. [28]
Все продукты синтеза подвергнуты изучению на электронном микроскопе JEM - 6A методами микродифракции и дифракционного контраста. [29]
При непосредственном наблюдении дислокаций в микроскопе возникают также трудности, связанные со значительным изменением дифракционного контраста в зернах в результате смещения образца, а также развития ЗГП. [30]
Страницы: 1 2 3 4