Послойный контроль - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Теорема Гинсберга: Ты не можешь выиграть. Ты не можешь сыграть вничью. Ты не можешь даже выйти из игры. Законы Мерфи (еще...)

Послойный контроль

Cтраница 1


Послойный контроль должен осуществляться квалифицированным персоналом и при тщательном выполнении может гарантировать отсутствие трещин в металле шва. Контроль качества сварных швов после полировки травлением или с помощью нанесения различных светящихся покрытий позволяет установить только наличие трещин на поверхности. При изготовлении сварных конструкций этот способ не может рассматриваться как самостоятельный. Проверка качества поверхности сварных швов и околошовной зоны должна производиться совместно с послойным контролем наплавляемых валиков.  [1]

Для текущего послойного контроля плотности грунтов на глубину до 2 м применяется легкий пенетрометр ДИИТ-4, а на глубину 5 - 6 м - пенетрометр ДИИТ-3. Пенетрометр ДИИТ-4 состоит из одного звена цельнотянутой трубки диаметром 12 мм, наконечника диаметром 20 мм, навинченного на трубу, шабота, приваренного к трубке, груза ограничителя и фиксатора.  [2]

В экспериментальной работе применяется устройство для послойного контроля содержания углерода с одной накладной катушкой. Структурная схема этого устройства включает четыре канала, каждый из которых состоит из генератора ( соответственно на частоты 1, 4, 25 и 500 кгц), резонансного усилителя, фазочувствительного детектора и измерительной системы с индикатором на выходе. В каждом из каналов может быть проведена отстройка от зазора. Суммирующее устройство, измеряющее разницу показаний между каналами, позволяет более точно определять концентрацию углерода на различной глубине.  [3]

Одним из важнейших способов контроля сварных соединений является послойный контроль наплавляемых валиков после их тщательной очистки. Несмотря на кажущуюся примитивность, этот способ оказывается наиболее надежным, а при расположении сварных швов в недоступных для других методов Контроля местах - является единственным.  [4]

5 Портативный дефектоскоп ДУК-66П. [5]

ДУК-66 имеет устройство задержки развертки, дающее возможность послойного контроля.  [6]

Выше было рассмотрено разнообразное применение радиотех-ничзских методов, позволяющих произвести послойный контроль свойств материала изделия на различную глубину: от долей микрона до всего изделия в целом. Однако радиотехнические методы имеют ряд общчх специфических осэбенностей, которыми в основ-ном и определяются области их применения. Прежде всего это относится к размерам контролируемых изделий и их форме.  [7]

Из них видно, что увеличение содержания углерода на 0 002 % приводит к возрастанию потерь в 3 раза ( с 160 до 480 эрг / см3), поэтому такой метод послойного контроля является весьма перспективным.  [8]

Анализ результатов теоретических расчетов и экспериментальных исследований показывает, что существует оптимальное время регистрации температуры после окончания нагрева, которое зависит от времени нагрева объекта и от глубины залегания дефекта, поэтому при его изменении возможен послойный контроль объекта и выявление дефектов на различной глубине.  [9]

Дефектоскоп имеет световой сигнализатор указателя дефектов. Для подключения регистрирующих устройств и средств автоматики имеется релейный выход. Послойный контроль, который позволяет производить прибор, повышает его разрешающую способность. Ширина контролируемого слоя может регулироваться.  [10]

Послойный контроль должен осуществляться квалифицированным персоналом и при тщательном выполнении может гарантировать отсутствие трещин в металле шва. Контроль качества сварных швов после полировки травлением или с помощью нанесения различных светящихся покрытий позволяет установить только наличие трещин на поверхности. При изготовлении сварных конструкций этот способ не может рассматриваться как самостоятельный. Проверка качества поверхности сварных швов и околошовной зоны должна производиться совместно с послойным контролем наплавляемых валиков.  [11]

Пучок паров низкой плотности получают с помощью точечного испарителя, внутри которого пары находятся под высоким давлением. Молеку-лярно-лучевая эпитаксия относится к низкоскоростным методам осаждения, однако важное достоинство этого метода состоит в том, что он позволяет осуществлять весь комплекс исследований, требующих условий сверхвысокого вакуума, и получать информацию о структуре, топографии, элементном составе, распределении элементов и о химическом состоянии поверхности пленки в процессе ее роста. Установка для моле-кулярно-лучевой эпитаксии может содержать масс-спектрометр с квадрупольным фильтром масс для анализа состава паровой фазы, ионный источник, масс-спектрометр для исследования вторичных ионов, сканирующий оже-микроанализатор, а также аппаратуру для изучения пленок методами электронной спектроскопии для химического анализа, дифракции медленных и быстрых электронов. При осаждении многокомпонентных соединений возможны в буквальном смысле послойный контроль и управление процессами конденсации и химического взаимодействия различных адсорбированных атомов.  [12]

При рентгенотелевизионном спосоое применяют чувствительную к рентгеновским лучам передающую телевизионную трубку. Пучок рентгеновских лучей, проходя через контролируемую ПП, образует теневое изображение элементов печатного монтажа и проектирует его на телевизионную трубку. Данный способ позволяет выявить не только факт существования дефекта, но его местонахождение и характер. Способ стереорентгенографии предполагает использование стереорентгеномикроскопа для установления факта и мест разрывов печатных проводников. Способ томографии состоит в проектировании изображения контролируемого объекта в рентгеновских лучах на чувствительную к этим лучам мишень. При этом исследуемая ПП и рентгеновская пленка синхронно вращаются вокруг параллельных осей, расположенных в одной плоскости с источником рентгеновских лучей. Относительное расположение точечного источника рентгеновских лучей, контролируемой МПП и рентгеновской пленки таково, что имеется возможность последовательно проектировать на пленку изображения отдельных слоев многослойной структуры. Этот способ применяют при послойном контроле МПП.  [13]



Страницы:      1