Оптический контроль

Cтраница 3

Первичные измерительные преобразователи светового излучения в электрический сигнал являются основой автоматизированных устройств неразрушающего оптического контроля качества промышленной продукции. В качестве первичных измерительных преобразователей используют: фоторезисторы, фотодиоды, фототранзисторы, вакуумные фотоэлементы и фотоэлектронные умножители, матрицы на базе полупроводниковых материалов и передающие телевизионные трубки. Принцип действия большинства этих приборов описан ранее ( см. § 5.5), поэтому отметим лишь их особенности применительно к оптическому диапазону. [31]

Клементьева разработали метод получения диэлектрических слоев испарением сульфида цинка и криолита в высоком вакууме с оптическим контролем толщины пленок. Для видимой части спектра такие фильтры имеют следующие характеристики: пропускание в максимуме 50 - 70 % при полуширине полосы пропускания 8 - 12 нм. Часто вводится дополнительный фильтр из цветного стекла для обрезания вторичных максимумов. Из двух типов интерференционных фильтров более узкой полосой обладают светофильтры, полученные испарением сульфида цинка и криолита. [32]

Детали должны быть приспособлены к наиболее простому и надежному контролю их размеров, например, с помощью проходных и непроходных пробок, калибров, автоматическому оптическому контролю. [33]

Предложенный метод анализа целестина и барита с азотной кислотой устраняет необходимость таких испытаний; в осадке - возникают в отличие от очень мелких кристаллов сульфатов довольно крупные изотропные кристаллы, благодаря чему оптический контроль здесь чрезвычайно прост и сводится лишь к определению показателя преломления. [34]

Для контроля материалов, полуфабрикатов и изделий, прозрачных в инфракрасном диапазоне, таких, как полимерные материалы, синтетические смолы, пластмассы, гетинакс, текстолит, стеклотекстолит, пластины из германия или кремния, помимо упоминавшихся ранее методов могут быть использованы методы оптического контроля с облучением материала, полуфабриката или изделия инфракрасным светом от специального источника. Такие варианты контроля подобны описанным далее. Тепловые методы контроля могут применяться и для дефектоскопии сложных изделий, состоящих из нескольких 5.24. Контроль резисторов по деталей, узлов или блоков. [35]

Зависимость среднего значения нормируемой освещенности от размера минимального выявляемого дефекта. [36]

После этого помещают контролируемый объект и аппаратуру в требуемое положение, устанавливают рекомендованные режимы контроля и освещение, а затем производят наблюдение или измерение контролируемых факторов. Оптический контроль качества серийной и массовой продукции производят путем их сравнения с эталонами, измерительными средствами или с утвержденным контрольным образцом. Затем производится обработка результатов измерений. Взаимное положение контролируемого объекта и аппаратуры, а также режимы освещения ( яркость, спектральный состав, поляризация и др.) выбираются так, чтобы обеспечить максимально возможный контраст дефекта Кд относительно фона. Объекты из прозрачных или полупрозрачных материалов контролируют обычно в проходящем свете или другом освещении, дающем большую контрастность. При организации оптического контроля предпочтение следует отдавать прошедшему или рассеянному освещению, поскольку они вызывают меньшее утомление зрения. Для проведения контроля может использоваться только общее освещение или в сочетании с местным ( комбинированное), причем общее освещение должно составлять не менее 10 % от местного. [37]

Корпус реактора ВВЭР-440 проверяют методами магнитного, оптического, радиационного, акустического, капиллярного контроля, а также путем металлографического исследования образцов и измерения твердости переносными приборами. Оптическому контролю подвергают 10 % сварных швов уплотнительной поверхности, цилиндрической части и днища реактора. Применяют 7-кратные лупы, зеркала, перископы, бинокли, телевизионные устройства. Цветная дефектоскопия применяется для 100 % - ного контроля уплотнительной поверхности, патрубков ДуЗОО, части сварных швов. Толщина стенки корпуса, сварные швы контролируются ультразвуковыми дефектоскопами. [38]

Используя оптический контроль толщины пленок и другие остроумные приспособления, Майзельс, Овербек, Дуйвис и Ликлема обновили этот старый метод и сделали его перспективным. Как и все методы, основанные на использовании больших пленок, он ограничен применимостью только к очень устойчивым пленкам, в чем и состоит его главный недостаток. В то же время в методе используется модель, более адекватная реальным пенам, в которых пленки далеко не всегда бывают микроскопическими. [39]

Важно отметить тенденцию к увеличению точности и универсальности станков. Применяется оптический контроль перемещений стола. Некоторые последние модели станков имеют поворотную головку, что сделано для облегчения установки инструмента относительно изделия, которая производится с помощью индикаторов. Иногда предусматривается и поворот стола. [40]

Схема вибрационного датчика положения фронта роста. См. пояснения в тексте. [41]

В кристаллизационных установка по методу Багдасарова наиболее информативным комплексным параметром тепло - и массообмена является положение фронта роста. Чувствительность оптического контроля в данном случае зависит от относительного контраста изображения расплава и кристалла вблизи фронта роста. При высоких температурах, как уже отмечалось, контраст чрезвычайно мал вследствие яркости фонового освещения, создающегося нагревателем и экранами. Поэтому используется способ лазерной локации [112,113], основанный на различии коэффициента отражения поверхностей кристалла и расплава и их пространственной ориентации. [42]

Устройство ртутной лампы.| Устройство натриевой лампы высокого давления. [43]

Во многих случаях эти лампы заменяются натриевыми лампами высокого давления. Их меньший размер обеспечивает лучший оптический контроль, особенно для дорожного освещения, где сильные отблески отражаемого небом света являются причиной растущей обеспокоенности водителей. [44]

Оптический неразрушающий контроль основан на взаимодействии светового излучения с контролируемым объектом и регистрации результатов этого взаимодействия. Методы, характерные для оптического контроля, используют электромагнитное излучение в диапазоне длин волн в вакууме от Ю-5 до 103 мкм ( 3 - 1018 - ЗХ Х1010 Гц), и охватывают диапазоны ультрафиолетового ( УФ), видимого ( ВИ) и инфракрасного ( ИК) света. При этом объединяются они между собой общностью применяемых методик, способов и приемов проведения контроля. Вместе с тем в ряде случаев ( обнаружение дефектов малых; размеров, контроль тонких пленок, испытания голографическими и интерференционными методами и др.) применяются методы, характерные для анализа волновых процессов. [45]

Страницы: 1 2 3 4