Кривая - качание
Cтраница 1
Кривая качаний после 0 20 сек вычисляется, как в примере 8 гл. [1]
Вычисление кривой качаний описанным способом дает значительную нарастающую ошибку, проявляющуюся особенно в амплитуде колебаний. Причина этой ошибки лежит в следующем. [2]
Таким образом, нахождение кривой качаний методом последовательных интервалов состоит из двух процессов, следующих поочередно. Первый заключается в вычислении угловых положений и, если надо, угловых скоростей роторов в конце интервала времени по известным положениям и скоростям в его начале при предположении неизменности ускоряющей мощности в течение данного интервала времени. Второй заключается в вычислении ускоряющей мощности для каждой машины по известным угловым положениям ( и, если надо, угловым скоростям) всех машин в системе. Он по существу представляет собой обычный расчет сети, который может быть выполнен либо аналитически, либо на модели того или иного типа, и мы на нем здесь останавливаться не будем. [3]
Для определения на расчетном столе кривой качаний методом последовательных интервалов поступают следующим образом. [4]
Эта формула значительно упрощает вычисление кривой качаний. [5]
Количественная интерпретация изображения основывается на кривой качания. Наклон кривой качания ( величина д / / 36) определяет чувствительность к различию ориентации. [6]
Графическое решение получается в виде так называемой кривой качаний. Анализ кривых качаний всех машин в системе позволяет определить, остаются ли они в синхронизме после аварийного режима. [7]
Если угол падения электронного луча меняется и регистрируется дифракционная интенсивность для получения кривой качания, то отклонение от простой ( зш2л:) / л: 2-кривой кинематической теории будет наиболее заметным при почти точном выполнении условия Брэгга. [8]
Качество монокристаллов ортоферрита Y, выращенного - методом бестигельной зонной плавки, характеризуется полушириной кривой качания 10 - 14 и подвижностью доменной стенки более 6000 см / с - Э при комнатной температуре. [9]
 |
Расчетные дифракционные характеристики ММС ( 200 слоев на основе свинцовых солей жирных кислот для % - 1 - 4 - 12 нм. [10] |
При съемке первый кристалл-коллиматор и второй - исследуемый - устанавливают в отражающее положение параллельно друг другу ( рис. 8.6) и записывают интенсивность отраженного пучка ( так называемую кривую качания) при вращении исследуемого кристалла вокруг оси, перпендикулярной к плоскости дифракции. [11]
 |
Расчетные дифракционные характеристики ММС ( 200 слоев на основе свинцовых солей жирных кислот для % - 1 - 4 - 12 нм. [12] |
В параллельной установке отклонение углов падения на второй кристалл от угла Брэгга (8.1) одинаково для всего спектра излучения, отраженного первым кристаллом, и, следовательно, отсутствует спектральное уширение кривой качания. Угловое распределение каждого спектрального компонента пучка, отраженного коллиматором, повторяет форму его дифракционного профиля, и кривая качания представляет корреляционную функцию дифракционных профилей обоих кристаллов, что следует учитывать при сравнении экспериментальных и расчетных данных. [13]
Количественная интерпретация изображения основывается на кривой качания. Наклон кривой качания ( величина д / / 36) определяет чувствительность к различию ориентации. [14]
Отметим, что попытка разделить рентгеновские эффекты, обусловленные разными факторами, предпринятая Гордоном и Авербахом [89], оказалась неудачной. При этом квадрат полуширины, измеренный методом двойного кристалла кривой качания, равен сумме квадратов полуширин, обусловленных следующими причинами: естественным уширением отражения от образца и анализирующих кристаллов; уширением, вызванным наклоном и равномерным изгибом решетки; уширением, связанным с локальными деформациями и размерами блоков когерентного рассеяния. [15]
Страницы: 1 2