Cтраница 3
Хр вычисляют по релаксационной кривой. Результаты экспериментальной проверки [50] представленных уравнений показаны на рис. 5.18. Очевидно, что совпадение теории с экспериментом вполне удовлетворительное. [31]
Положение минимума на релаксационной кривой, соответствующее температуре стеклования, зависит от частоты воздействия: чем ниже частота, тем ниже температура стеклования, определенная этим методом. Поэтому измерение температуры стеклования методом механических потерь ( частота воздействия 103) дает значение на 20 - 30 градусов ниже. [32]
Осциллограммы водимостях п - и р-областей, что релаксации вентильной фо - позволяет при рассмотрении во-то - ЭДС при разных уровнях проса 0 кинетике рассматривать. [33] |
Итак, спрямление спадающих релаксационных кривых в этом случае осуществляется автоматически ( без помощи тауметра) из-за наличия логарифмической связи между р и Jj. Описанный метод используется для определения т в фотодиодах. [34]
Рассмотрим кратко особенности релаксационной кривой спада фотопроводимости. [35]
На рис. 3.4 представлена релаксационная кривая, соответствующая распределению этого типа. [36]
Было показано, что релаксационные кривые хорошо аппроксимируются моделью из трех элементов Максвелла и одного гуковского элемента. Времена релаксации, соответствующие максвелловским элементам, составляют ti - HO с, т2 1500 с и т3 Ю5 с при 50 С для системы ПВХ ( молекулярный вес 60000) - ТКФ ( 60 вес. Близкие значения были получены и при изучении ползучести. [37]
Кривые релаксации напряжения в блочных полиарилатах. [38] |
На рис. 14 представлены релаксационные кривые в широком интервале температур для полиарилата изофталевой кислоты и фенолфталеина ( Ф-1), имеющего глобулярный ( Ф-1 гл) или фибриллярный ( Ф-1 ф) тип надмолекулярной структуры. Расчет релаксационных кривых, проведенный по описанной выше методике ( см. стр. [39]
На рис. 16 представлена типичная релаксационная кривая. [41]
На рис. V.18 представлена обычная релаксационная кривая. [42]
Бисвас и Хейдон получили двумерные релаксационные кривые предела текучести пленки методом Тачибана и Инокучи ( 1953) и выразили их в форме реологической модели Максвелла - Войгта, определив таким образом цифровые данные для коэффициентов эластичного сдвига и вязкости. В действительности они нашли, что эти две величины тесно связаны. Это объясняется образованием молекулами протеина сетчатых структур. [43]
Бисвас и Хейдон получили двумерные релаксационные кривые предела текучести пленки методом Тачибана и Инокучи ( 1953) и выразили их в форме реологической модели Максвелла - Войгта, определив таким образом цифровые данные для коэффициентов эластичного сдвига и вязкости. В действительности они нашли, что эти две величины тесно связаны. Это объясняется образованием молекулами протеина сетчатых структур. [44]
Кривые релаксации напряжения [ IMAGE ] Зависимость lg / Ст от образцов, сжатых в струбцинах, при различ - обратной температуры. [45] |