Cтраница 2
При низких концентрациях аналитическая кривая может ступенчато изменять наклон. Это момет иметь место, в частности, если проба содержит легкоиспаряющяеся компоненты и если возбуждение проводят искровым разрядом с большой индуктивностью и без предварительного обыскривания. Поэтому результаты, полученные при определении следов элементов путем экстраполяции аналитической кривой, могут быть ошибочными и при этом всегда завышенными. [16]
Принцип ослабления света с ПО мощью нейтрального диска. [17] |
С помощью этой аналитической кривой находят искомые концентрации в анализируемых пробах. Длину наблюдаемых спектральных линий можно изменять, применяя окулярные линзы разных фокусных расстояний и соответственно разного увеличения. В случае простого спектра необходимо использовать линзы с малым увеличением, а в случае сложного спектра - с большим увеличением. Наконец, следует отметить, что в нижней части прибора расположен комбинированный источник дуги переменного тока и низковольтной искры. [18]
Если полутрансверсаль принадлежит аналитической кривой. Это связано с природой преобразования монодромии, которое зачастую принадлежит классу полурегулярных отображений, введенных Дюлаком. [19]
Однако при построении аналитических кривых вида ( 4 - 6) постоянный коэффициент для перехода от весовой концентрации к атомной войдет в виде дополнительного слагаемого, кото рое не изменит вида кривой. [20]
Если при построении аналитической кривой количества определяемого элемента и элемента сравнения выражать не в единицах концентрации сх и сг соответственно, а в единицах абсолютной массы, веса или объема, то и конечный результат будет получен в соответствующих единицах. [21]
Конечно, и аналитическую кривую также нужно рассматривать не как закон, управлявший движением анализируемого показателя в прошлом, а как обобщение эмпирического ряда, помогающее нам в краткой формуле охватить длинный ряд чисел. В этом отношении аналитическое выравнивание имеет несомненное преимущество перед графическим или механическим. Вместе с тем продление выравненного ряда за пределы рассматриваемого отрезка времени ( экстраполяция), что требуется при прогнозе, предельно просто и ясно. [22]
Вольтамперная характеристика ТД ( а и зависимости коэффициентов А от напряжения смещения на нем ( б-м. [23] |
Рассчитанная по этим данным аналитическая кривая i f ( u) представлена на рис. 1, а ( пунктирная линия), откуда видна высокая точность аппроксимации. [24]
По методу трех эталонов аналитические кривые строят для каждой фотопластинки, поскольку в выражение ( 3) входит коэфф. Для этого на каждую фотопластинку рядом со спектрами анализируемых образцов фотографируют и спектр эталонов. [25]
Если траектория не является аналитической кривой, а состоит из кусков аналитических кривых, соединенных между собой неаналитическими точками ( например, угловыми), то на каждом куске сохраняется (3.3); при этом, конечно, предполагается, что входящие в (3.3) векторы dnB / dsn линейно независимы. [26]
В качестве примера симметрии относительно аналитической кривой мы рассмотрим симметрию относительно единичной окружности. [27]
В практическом спектральном анализе аналитическую кривую строят обычно по более точным величинам АУ, рассчитанным по отношению к линии сравнения. [28]
Выберем на поверхности S аналитическую кривую А; тогда геодезические линии на этой поверхности, пересекающие ортогонально кривую А, будут аналитическим семейством кривых, локально покрывающих поверхность 5, а ортогонали к этим кривым будут делить их на отрезки равной длины. Пусть U s - направленное расстояние от кривой А. [29]
Аналитическая кривая для пары линий А1 3082 - А1 3082, построенная. [30] |