Кривизна - сферическая поверхность
Cтраница 1
Кривизна сферической поверхности всюду одинакова и определяется радиусом сферы К. Очевидно, что чем меньше R, тем больше кривизна сферической поверхности. [1]
Возьмите плоско-выпуклую линзу с малой кривизной сферической поверхности и положите ее на стеклянную пластину, как было указано выше. Внимательно разглядывая плоскую поверхность линзы ( лучше через лупу), вы обнаружите в месте соприкосновения линзы и пластины темное пятно и вокруг него совокупность маленьких радужных колец. Это и есть кольца Ньютона. Ньютон наблюдал и исследовал их не только в белом свете, но и при осве - Щении линз. [2]
Сферометры служат для измерения радиусов кривизны сферической поверхности как вогнутой, так и выпуклой. [3]
Область, охватывающая методы измерения радиусов кривизны сферических поверхностей, называется сферо-метрией. Различают механические и оптические методы измерения радиусов кривизны. [4]
Область техники, охватывающая методы измерения радиусов кривизны сферических поверхностей, называется сферометрией. Различают механические и оптические методы измерения радиусов кривизны. [5]
Сферометрами называются приборы, предназначенные для определения радиусов кривизны сферических поверхностей на основе измерения высоты шарового сегмента. [6]
Сферометрами называют приборы, предназначенные для измерения радиусов кривизны сферических поверхностей на основе измерения высоты шарового сегмента. [7]
Нетрудно установить количественную зависимость величины добавочного давления от радиуса кривизны сферической поверхности жидкости. [8]
 |
Выпуклое зеркало.| Собирающие ( а и рассеивающие ( б линзы. [9] |
Главной оптической осью линзы называют прямую, проходящую через центры кривизны сферических поверхностей, ограничивающих линзу. [10]
В связи с эйнштейновской статической моделью выяснилось, что радиус кривизны трехмерной сферической поверхности связан с величиной константы Л и обе эти величины зависят от полного количества материи во Вселенной. Чем больше полная масса, тем меньше радиус кривизны, и чем более разрежена материя, тем меньше кривизна. [11]
Доказать, что: а) для симметричной собирающей линзы, изготовленной из стекла с показателем преломления 1 5, фокусное расстояние равно радиусу кривизны сферических поверхностей линзы; б) для плосковыпуклой собирающей линзы, изготовленной из такого же стекла, фокусное расстояние равно удвоенному радиусу кривизны ее выпуклой поверхности. [12]
 |
Значения контактных нагрузок на пуансоне и матрице. [13] |
Величина контактных нагрузок, возникающих на пуансоне, зависит от природы штампуемого материала и материала пуансона, условий внешнего трения, определяемых условно коэффициентом трения л, толщины штампуемого материала, кривизны сферической поверхности. По абсолютной величине контактные нагрузки на пуансоне значительно ( иногда на порядок) меньше контактных нагрузок, возникающих на вытяжном радиусе матрицы ( табл. 6), однако действие их распространяется на значительную поверхность контакта заготовки с пуансоном, а возникающая в результате их действия суммарная сила трения вызывает в стенках центральной зоны заготовки напряжения a TI, блокирующее опасное сечение. [14]
При измерении 3-загрязненности сферических поверхностей также наиболее целесообразно относить измеренные скорости счета к проекции сферической поверхности на входное окно датчика. При этом поправочные коэффициенты X на кривизну сферических поверхностей являются наименьшими. [15]
Страницы: 1 2