Cтраница 1
Кривизна поля выражается в том, что плоские предметы изображаются системой в виде искривленных неплоских изображений. [1]
Кривизна поля играет важную роль в конструировании отклоняющих систем. [2]
Кривизна поля, дающая различную резкость изображения предмета по всему полю. [3]
Кривизна поля и сферическая аберрация в таких изоплана-тических системах может быть устранена соответствующим подбором сил и аберраций концентрических и апланатических поверхностей, обеспечивающим их взаимную компенсацию. [4]
Вследствие кривизны поля изображение плоского предмета искривляется и увидеть одновременно центр и края изображения резкими становится невозможно. [5]
Схема спектрографа ИСП-28.| Двухкомпонентные объективы. а - объектив Петцваля. 6 - телеобъектив. [6] |
Наличие кривизны поля не является, однако, препятствием для применения таких объективов во всех случаях, когда допускается искривление и наклон поверхности изображения. [7]
Схемы объективов. [8] |
Исправление кривизны поля у этих объективов достигнуто за счет более сложной конструкции. Как видно из рис. 50, объектив планахромат с увеличением 40х и апертурой 0 65 состоит из 9 линз, а обычный ахромат с тем же увеличением и той же апертурой - из 5 линз. [9]
Определим кривизну поля, вносимую линзой Смита. [10]
Оптическая схема спектрографа КСА-1. [11] |
Неустраненной осталась кривизна поля: фотопластинка 24 X 9 см устанавливается с прогибом в 3 мм. Большая дисперсия прибора не позволяет снять весь рабочий диапазон за одну экспозицию. Поворот призмы обеспечивает фотографирование спектра отдельными участками. [12]
Входные и выходные отверстия объектива. [13] |
Астигматизм и кривизна поля изображения исправляются подбором радиусов кривизны и положением линз. [14]
При исправлении кривизны поля могут быть с успехом использованы анастигматические и, в особенности, телеанастигматические линзы. [15]