Изогнутый кристалл

Cтраница 3

В отличие от других методов фокусировки рентгеновских лучей изогнутыми кристаллами, которые являются бесщелевыми, метод Хамоша для получения спектра предполагает использование щели. Она помещается горизонтально перед анализатором спектрографа в экваториальной плоскости изогнутого по цилиндру кристалла, в направлении, перпендикулярном к оси его изгиба. [31]

Схема дифракционного гамма-спектрометра с вогнутым кристаллом. з - источник v нвантов. 2 4 - щелевые коллиматоры. з - уиругоизогнутый кристалл кварца. 5 - детектор. [32]

С целью повышения светосилы в нек-рых из них применяют изогнутые кристаллы, позволяющие дифрагировавшим у-лучам собираться в фокусе спектрометра, куда помещается детектор. На рис. 3 показана схема спектрометра с изогнутым кристаллом. [33]

Камера с фокусировкой при помощи изогнутого кристалла. [34]

На рис. 2 показан способ достижения фокусировки при помощи изогнутого кристалла, а на рис. 3 изображена схема, применявшаяся Гинье. На рис. 4 представлена серия рентгенограмм, полученных Гинье при помощи такого прибора при сохранении обычного времени экспозиции. [35]

Принципиальная схема рентгеновского спектрометра с изогнутым кристаллом. [36]

На рис. 5.12 приведена принципиальная схема рентгеновского спектрометра с изогнутым кристаллом. Как видно из рисунка, первичные рентгеновские лучи из источника падают на исследуемый образец, вызывая вторичное флуоресцентное излучение. Часть излучения через диафрагму подается под малым углом на поверхность изогнутого кристалла и под углом скольжения отражается от него. [37]

Концентрирующий монохроматор. А - поверхность кристалла. PJ - кристаллич. отражающие плоскости. S0 - падающий пучок. S, - монохроматический пучок. VV 0 - ширина падающего пучка, W - ширина отраженного пучна. [38]

Различают спектрометры с плоскими кристаллами и фокусирующие спектрометры с изогнутыми кристаллами. [39]

Зависимость полуширины /. aj - линий редкоземельных элементов Г от котангенса угла Брегга - Вульфа. [40]

Измеряемая полуширина спектральных линий при работе со спектрографами с изогнутым кристаллом в общем случае должна отличаться от естественной ширины и в большей или меньшей мере зависеть от геометрических условий фокусировки лучей в приборе. Эта величина, естественно, должна быть определяема в тех же условиях, в которых в дальнейшем предполагается проводить анализ. Элементарная теория фокусировки рентгеновских лучей в спектрографе с изогнутым кристаллом, работающим по схеме на отражение, показывает, что величина расширения спектральных линий, возникающая из-за несовершенства фокусировки лучей в таком приборе, пропорциональна котангенсу угла отражения лучей от атомных плоскостей изогнутого кристалла. Поэтому, если естественные ширины спектральных линий группы анализируемых элементов мало отличаются друг от друга и составляют относительно небольшую часть измеренной на опыте величины Г, то можно ожидать, что Г для группы последовательно расположенных друг за другом аналитических линий элементов будет также линейным образом зависеть от величины котангенса угла отражения. Как видно из рассмотрения графика, представленного на рис. 93, именно такая зависимость обнаруживается при сопоставлении величин Г для Ь & г и L - линий редкоземельных элементов. Это очень облегчает установление величины Г, так как позволяет вычислять ее для линий любого из элементов рассматриваемой группы при помощи графика, построенного на основании немногих измеренных величин для тех элементов, которые имеются в распоряжении экспериментатора. [41]

Однако при попытке дальнейшего увеличения светосилы фокусирующих спектрографов с изогнутым кристаллом перед исследователями возникли трудности, связанные с изгибом реальных кристаллов в кристаллодержателях рентгеновских спектрографов. Преодоление этих трудностей стало возможным лишь позднее, на основе более глубокого экспериментального изучения этих явлений и после разработки новых методов изгиба кристаллов. [42]

Определим m так, чтобы ордината точки Р на изогнутом кристалле у была связана с периодом идентичности а соотношением ута. [43]

Исходящий из кольцевого фокуса конус рентгеновских лучей падает на цилиндрически изогнутый кристалл. В центре кристаллодержателя, подобно тому как это принято в методе Зеемана, располагается клин; зазор, образуемый клином с поверхностью кристалла, играет роль входной щели спектрографа. В точке пересечения отраженных кристаллом лучей помещается диафрягмя ионизационной камеры. Кинетическая схема позволяет синхронизировать движение кристалла вдоль горизонтальной оси прибора и движение каретки записывающего устройства в перпендикулярном направлении. [44]

При изгибе тонких эластичных кристаллов увеличивается степень однородности деформации по длине изогнутого кристалла и уменьшается взаимная дезориентировка образующихся блоков. Это объясняет наблюдающееся для этих кристаллов на опыте упорядочение отдельных штрихов полосы отражения и возрастание интенсивности фона в пределах рефлекса. Замечательно, что лауэграммы, полученные от такого изогнутого кристалла до и после многократного его изгибания в спектрографе, оказываются совершенно идентичными. [45]

Страницы: 1 2 3 4 5