Кварцевый кристалл

Cтраница 2

Таким образом, благодаря своим пьезоэлектрическим свойствам кварцевый кристалл может быть использован для преобразования механической энергии в электрическую, и наоборот. [16]

Пластины, вырезанные перпендикулярно соответствующей кристаллографической оси кварцевого кристалла, будучи сжаты, дают на их металлизированных плоскостях электрические заряды разных знаков. [17]

Контроль толщины пленки может осуществляться датчиком на кварцевом кристалле, имеющем высокие пьезоэлектрические свойства. Осаждение на поверхности кристалла того или иного количества вещества изменяет его массу и частоту колебаний. Зная плотность вещества, нетрудно перейти к толщине покрытия. [18]

В основе метода лежит измерение изменения частоты колебаний кварцевого кристалла при осаждении на нем пленки напыляемого вещества. [19]

Частотный метод основан на измерении изменения частоты колебаний кварцевого кристалла при осаждении на нем пленки испаряемого вещества. Выбор рабочей частоты зависит от диапазона толщин измеряемых пленок. Если требуется измерять очень малую толщину пленки с помощью прибора, обладающего большой чувствительностью, то выбирают высокую рабочую частоту. Если же требуется прибор с достаточно большим диапазоном измеряемых толщин, обладающий большей областью линейной зависимости изменения частоты от толщины напыляемой пленки, то выбирают относительно низкую рабочую частоту. [20]

Чтобы получить короткий импульс) на одной торцевой поверхности, использовался кварцевый кристалл; на противоположном конце стержня был установлен кристалл-детектор. Изменяя длину стержня, Хьюджес, Пондром и Миме смогли геометрически представить продолжительность прохождения начального расширения ( дилатации), а также однократно и многократно отраженных импульсов в том случае, когда длина импульса была достаточно малой, чтобы можно было разделить различные отраженные составляющие. Изменяя как диаметр, так и длину образца, они могли произвольно контролировать свои вычисления и измерения, прежде чем находить постоянные упругости, используя измеренные скорости распространения волн. Множество хорошо иллюстрирующих вопрос снимков осциллограмм, полученных ими, приведено на рис. 3.82 для стержней указанной длины; символ 0 00 означает пребывание двух кристаллов в состоянии контакта. Диаметр холоднокатаного стального стержня был равен 3 645 см. Линии / и VIII представляют собой масштаб времени - длина каждого штриха равна продолжительности 10 икс. [21]

Основным дефектом синтетических аметистов, как, впрочем, и всех ромбоэдрических кварцевых кристаллов, выращиваемых из растворов карбоната калия, является трещиноватость. [22]

При низких температурах перестают работать некоторые типы электролитических конденсаторов, не возбуждаются кварцевые кристаллы, твердеют и растрескиваются воск и, некоторые защитные компаунды, разряжаются аккумуляторные батареи при недостаточной плотности электролита. Увеличение вязкости смазочных материалов может вызвать заедание подвижных частей механизмов. [23]

Описаны конструкция и принцип действия детектора в 2 вариантах, основной частью которых являются кварцевые кристаллы с собственным периодом колебаний 9 мк / сек. [24]

Прибор для измерения толщины пленок взвешиванием. [25]

Радиочастотный метод, или метод кварцевого резонатора, основан на измерении отклонения частоты колебаний кварцевого кристалла при осаждении на нем напыляемого материала. [26]

Па ( - - 1 кгс / см2) вызывает появление на противоположных гранях кварцевого кристалла разности потенциалов в сотые доли вольта. Этот эффект проявляется у многих кристаллов. Особенно велик он у сегнетоэлектриков. Из ряда пьезоэлектри-ков наибольшее распространение в практике получил кварц, который, хотя и уступает сегнетовой соли в величине пьезоэлектрического эффекта, но отличается высокой механической и электрической прочностью. [27]

Одним из наиболее чувствительных методов определения количества испарившегося вещества является измерение массы конденсата на поверхности кварцевого кристалла. Это свойство кварцевого резонатора Бахман и Шин [146] использовали для измерения коэффициента конденсации золота и серебра. [28]

Электрический сигнал, проходящий через линию задержки, задерживается в ней на время t, зависящее от размеров кварцевого кристалла. [29]

В результате исследования ростовых дислокаций в синтетическом кварце методом термодекорирования были выявлены механизмы формирования однородных бездислокационных областей в природных кварцевых кристаллах. В частности, было показано, что дислокации наследуются из затравок, изменяя свое положение в наросшем слое в соответствии с принципом создания минимума свободной энергии, ориентируясь по направлениям, близким к нормам и поверхности растущей грани. Значительное их количество зарождалось также над поверхностью макроскопических примесных сегрегатов, оседающих на поверхности граней растущих кристаллов, а также в местах зарастания капиллярных и щелевидных каналов и трещин, вероятно, за счет некогерентного срастания встречных тангенциально распространяющихся микроскопических слоев, перекрывающих полости и включения посторонних твердых фаз. На основе этих наблюдений были разработаны и внедрены в промышленную практику технологические приемы получения бездислокационного оптического кварца, а также произведена целенаправленная подготовка кристаллов и препаратов для рентгенотопографических исследований. [30]

Страницы: 1 2 3 4