Cтраница 1
Элемент структуры твердого кристалло-аморфиого полимера. [1] |
Кристаллиты - узлы этой решетки - изображены заштрихованными квадратиками. Сплошность системы обеспечивают проходные цепи между кристаллитами. Видны также петли и свободные цепи, не вносящие вклад в сплошность и, следовательно, прочность. На схеме утрированы расстояния между кристаллитами ( они на самом деле гораздо меньше) и объем пустот. [2]
Изменение показателя преломления п на. [3] |
Кристаллит является тем зародышем, тем началом, из которого со временем может получиться настоящий кристалл. Связь между кристаллитом и кристаллом состоит в следующем: всякий кристаллит при определенных условиях может в будущем перейти в кристалл. Он останется кристаллитом до тех пор, пока эта неоднородность в стекле не имеет определенной фазовой границы, в чем и состоит отличие кристаллита от любых иных образований, которые могут быть в стекле. [4]
Кристаллиты в сварочной ванне начинают расти на оплавленной поверхности зерен основного металла. Такие кристаллиты называют столбчатыми. Скорость роста столбчатого кристаллита зависит от величины переохлаждения перед его вершиной. [5]
Кристаллиты образовывались на керамических подложках: нагревание непрерывных металлических пленок приводило к их разрыву на островки, трансформировавшиеся в частицы диаметром около 1 мкм, форму которых легко исследовать в электронном микроскопе. В качестве подложки использовались окислы бериллия, магния и алюминия, предварительно обезгаженные в вакууме при 2273 К - При проведении этих исследований очень большое значение придавалось тщательности достижения равновесного состояния частиц. Так, пленки, как правило, нагревали около 100 ч в вакууме или в водороде при 970 - 1270 К в условиях равновесия металла и его паров. [6]
Структура искривленной поверхности с террасами и уступами. [7] |
Кристаллиты с искривленной поверхностью имеют другие свойства. [8]
Кристаллит рассматривают как сферическое или эллипсоидное включение, внедренное в бесконечную среду с неизвестными изотропными ( при отсутствии преимущественных направлений ориентации) упругими свойствами. На бесконечности или большом удалении от включения задают однородные напряжения, и ориентационно среднее напряжение во включении полагают равным соответственно значению приложенного напряжения. В результате получают уравнения, из которых можно определить эффективные свойства. [9]
Структура кварцевого стекла. [ IMAGE ] 59. Структура кристаллов кварца. [10] |
Кристаллиты не являются просто очень маленькими кристаллами; во внутренней части они обладают сравнительно нормальной кристаллической решеткой, обычно отвечающей структуре данного вещества в кристаллическом состоянии ( например, тетраэдров SiO2 в кварцевом стекле и в кристаллах кварца), но по мере приближения к периферии их кристаллическая структура все более и более нарушается и прослойки между кристаллитами обладают уже аморфным строением. [11]
Кристаллиты относятся к так называемой упорядоченной части структуры переходных форм графита. [12]
Кристаллиты ориентированы относительно друг друга и связаны между собой неупорядоченными углеводородными цепями. [13]
Кристаллиты обладают большей плотностью, в них развиваются менее интенсивные молекулярные движения при темп - pax выше темп-ры стеклования, они характеризуются др. спектром молекулярной релаксации как в области механич. Все зто дает возможность использовать для определения С. ЯМР, ИК-спектроскоипю, измерения плотности, теплоемкости и др. Широко распространены, напр. Рентгеноструктурный анализ), к-рые направлены на определение относительного количества кристаллитов как областей с трехмерной периодичностью в расположении атомов и молекул. Это связано с тем, что различие в рентгеновской дифракции от кристаллитов и аморфных участков связано именно с наличием или отсутствием порядка в структуре. [14]
Кристаллиты обладают большей плотностью, в них развиваются менее интенсивные молекулярные движения при темп - pax выше темп-ры стеклования, они характеризуются др. спектром молекулярной релаксации как в области механич. Все это дает возможность использовать для определения С. ЯМР, ИК-спектроскопию, измерения плотности, теплоемкости и др. Широко распространены, напр. Рентгеноструктурный анализ), к-фые направлены на определение относительного количества кристаллитов как областей с трехмерной периодичностью в расположении атомов и молекул. Это связано с тем, что различие в рентгеновской дифракции от кристаллитов и аморфных участков связано именно с наличием или отсутствием порядка в структуре. [15]