Оксидная маска - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Сказки - это страшные истории, бережно подготавливающие детей к чтению газет и просмотру теленовостей. Законы Мерфи (еще...)

Оксидная маска

Cтраница 1


1 Этапы изготовления планарного транзистора. [1]

Оксидная маска органически связана с поверхностью пластины, обеспечивая наилучший контакт с нею. При этом исключается проникновение диффузанта в зазор между маской и поверхностью.  [2]

3 Этапы изготовления планарного транзистора. [3]

Оксидные маски изготовляются методом фотолитографии, который имеет более общее значение в полупроводниковой технологии и описывается в следующем разделе.  [4]

Оксидная маска органически связана с поверхностью пластины, обеспечивая прочный контакт с нею и исключая проникновение диффузанта в зазор между маской и поверхностью.  [5]

Оксидные маски изготовляют методом фотолитографии, который имеет более общее значение в полупроводниковой технологии и описывается в следующем разделе.  [6]

7 Этапы изготовления планарного транзистора. [7]

Толщина оксидной маски ( единицы микрон) достаточна для надежной защиты соответствующих участков пластины от проникновения диффузанта.  [8]

Толщина оксидной маски ( около микрона) достаточна для надежной защиты соответствующих участков пластины от проникновения диффузанта.  [9]

10 Схема процесса диффузии в запаянной ампуле. [10]

Планарная технология основана на использовании оксидных масок для избирательной физико-химической обработки полупроводниковой подложки. Оксидная маска представляет собой слой двуокиси кремния SiO2, полученный термической пассивацией подложки из кремния. Установлено, что пленка двуокиси кремния толщиной 0 1 мк является заградительной маской для диффундирующей примеси.  [11]

12 Зависимость показателя степени п от напряжения лавинного пробоя резкого р-п перехода.| Обратные ветви ВАХ германиевого ( а и кремниевого ( б р-п. [12]

В случае пленарных р-п переходов, полученных диффузией примеси в окно в оксидной маске, при определении напряжения лавинного пробоя необходимо учитывать эффекты, связанные с кривизной р-п перехода по его периферии.  [13]

14 Резисторы на основе твердых схем. [14]

В основе метода лежат функциональные блоки, выполняемые в кристалле полупроводника вплавлением, диффузией, осаждением, использованием оксидной маски и механической обработкой. Класс разрабатываемых функциональных устройств охватывает простые структуры, состоящие из отдельных эле-зментов, и весьма сложные.  [15]



Страницы:      1    2    3