Наклон - образец
Cтраница 3
Следует помнить, что при сравнительных опытах с вертикальными и наклонно расположенными образцами подвод кислорода к катодной зоне будет меняться в связи с формой мениска, который зависит от наклона образца. Меньшая протяженность прокорро-дировавших площадок на нижней стороне наклонных образцов по сравнению с верхней стороной часто наблюдалась в Кембриджской лаборатории. Объяснение таково: анодные продукты с поверхности опускаются вертикально вниз, так что площадь, на которой закисные соли железа находятся в избытке щелочи, меньше чем на верхней стороне. [31]
Защитные свойства смазок в очень сильной степени зависят от физико-химических свойств последних ( испарение летучих компонентов смазок, окисление, сплошность пленки смазки, набухание и высыхание влаги и др.) - При проведенных испытаниях ( угол наклона образцов 25) не выявлено влияние сползания слоя смазок на их защитные свойства. [32]
Установка камеры проводится таким образом, чтобы сохранялось определенное соотношение между расстояниями от фокуса трубки до пленки, от оси наклона до пленки ( в интервале от 50 до 150 мм), от оси первичного пучка до интерференционной линии ( в интервале от 15 до 100 мм) и углом наклона образца. [33]
Изнашивание образцов, закрепленных в держателе в виде крыльчатки, производится путем вращения их в свободно насыпанной в цилиндрический стакан абразивной массе. Наклон образцов к плоскости вращения интенсифицирует процесс изнашивания и способствует перемешиванию абразивного порошка. Этот способ удобен дли одновременного изнашивания образцов из различных материалов. [34]
Изгибные контуры очень чувствительны к ориентировке образца. При изменении наклона образца по отношению к падающему пучку они быстро перемещаются по изображению. Если говорить об обратной решетке, то вдоль главного экстинкционного контура величина s для рассматриваемого отражения приблизительно равна нулю. Именно поэтому контрастная сторона на изображении данной дислокации изменяется при пересечении с контуром. [35]
 |
Зависимость толщины 4 75 эффективно рассеивающего слоя меди от угла наклона ос первичного пучка рентгеновских лучей ( Со Ка-излучение. [36] |
При малых углах наклона t0t 75 практически не зависит от угла дифракции. При углах наклона образца а 20 и в предельном случае симметричной съемки а 6 картину дифракции формируют слои, находящиеся на разных расстояниях от поверхности. Например, при а 9 отражениям от плоскостей ( 111) соответствует t0: 76 4 мкм, а отражениям от плоскостей ( 222) - t0ilb 8 мкм. Применимость метода скользящего пучка рентгеновских лучей определяется шириной интерференционных линий на рентгенограмме, связанной с углом наклона первичного пучка лучей к поверхности образца, углом отражения и геометрическими характеристиками съемки. [37]
Вдоль линий, для которых толщина кристалла равна ( г 1 / 2), где г - целое число, интенсивность дифрагированного излучения максимальна, и поэтому на изображении наблюдаются темные линии. Контуры такого типа мало смещаются при изменении наклона образца по отношению к падающему пучку. [38]
Степень лоска также определяют на отфиксированном образце на фотометре ФБС в соответствии с инструкцией, прилагаемой к прибору. Лоск выражается логарифмом отношения коэффициентов яркостей, измеренных при углах наклона образца фотобумаги 22 5 и 0, к оптической оси объективов фотометрической головки прибора. [39]
Спектрограммы поликристаллических образцов имеют наиболее простой вид при работе с монохроматическим рентгеновским излучением. Как уже объяснялось выше, при работе с монокристаллами необходимо изменять наклон образца по отношению к падающему пучку. При изучении поликристаллов это не обязательно, так как среди многочисленных кристаллов, входящих в состав образца, всегда найдутся кристаллы, ориентированные так, что выполняется условие Брегга - Вульфа. Отраженные от данной кристаллической плоскости лучи образуют конус, ось которого направлена по падающему лучу. [40]
В связи с тем, что оптимальные углы наклона образцов различаются для различных интервалов длин волн солнечного излучения, уменьшение интенсивности УФ-радиации с увеличением угла наклона образцов до 45 может компенсироваться повышением температуры за счет большего притока интегральной солнечной радиации [ 9, с. Это может являться причиной несущественной разницы в стойкости покрытий при различных углах наклона образцов. [41]
 |
Зависимость конечной длины L / 2 дорожки, смоченной ртутью, от массы нанесенной капли т. [42] |
Для выяснения механизма распространения ртути по поверхности цинка очень важно определить, как влияет на скорость распространения сила тяжести. Напротив, если ртуть распространяется в основном лишь посредством поверхностной диффузии ( миграции), то угол наклона образца не должен влиять на скорость роста ртутного пятна. [43]
Определение светопрочности проводится очень просто. Облучаемые образцы находятся на расстоянии по меньшей мере 2 см от стекла, проницаемого для ультрафиолетовых лучей, в хорошо вентилируемом ящике при наклоне образца в 45 к югу. Как только на испытуемом образце заметно о т-четливое выцветание, закрывают картоном узкую полосу облучаемой части шкалы и образца и продолжают облучение до появления следующего отчетливого изменения, таким же образом закрывают еще раз и облучают. [44]
Определение светопрочности проводится очень просто. Облучаемые образпы находятся на расстоянии но меньшей мере 2 еж от стекла, проницаемого для ультрафиолетовых лучей, в хорошо вентилируемом ящике при наклоне образца в 45 к югу. Как только на испытуемом образце заметно о т-четливое выцветание, закрывают картоном узкую полосу облучаемой части шкалы и образца и продолжают облучение до появления следующего отчетливого изменения, таким же образом закрывают еще раз и облучают. Если хотят сопоставить любое количество окрасок с различной светопрочностью с синен шкалой, то нужно несколько изменить методику. В этом случае, не принимая во вним ание Промежуточных изменений окрасок, облучают синюю шкалу до тех пор, пока не будет заметного отчетливого выцветания 4-го эталона. Затем снова перекрывают полоску на шкале и одновременно на всех испытуемых образцах и облучают до тех пор, пока ие обнаружится изменение 6-го эталона. Затем, снова перекрывают полоску н освещают до отчетливого изменения 7-го эталона. Таким образом устанавливают три степени выцветания испытуемого образца н шкалы. Для установления светопрочности следует сопоставить характер выцветания испытуемого образца с характером выцветания синей шкалы; отдельные эталоны шкалы характеризуют степень светопрочности. [45]
Страницы: 1 2 3 4