Нестабильность - прибор - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Если вы спокойны, а вокруг вас в панике с криками бегают люди - возможно, вы что-то не поняли... Законы Мерфи (еще...)

Нестабильность - прибор

Cтраница 1


Нестабильность приборов также может внести неточности. Однако более существенны ошибки, связанные с неправильными выполнениями операций анализа.  [1]

Но нестабильность прибора помимо случайных факторов может содержать также и систематические дрейфы параметров, возникающие, например, за счет постепенного изменения температуры. Поэтому лучше всего через некоторые промежутки времени чередовать накопление насыщаемого и ненасыщаемого спектров.  [2]

Следовательно, при ais a2sl всякое малое возрастание управляющего тока приводит к нестабильности прибора, так как величина отношения A / A / A / g при этих условиях стремится к бесконечности. Это условие свидетельствует о том, что малое возрастание управляющего тока вызовет бесконечное увеличение анодного тока. Хотя при этом анализе рассматривались процессы, связанные только с током управления, подобный же эффект возникает при небольшом повышении температуры или напряжения. Более общий и строгий анализ проводится в приложении А.  [3]

Для этого по значениям нестабильности узлов, блоков, характеризующей скорость изменения метрологических параметров, находят математическое ожидание нестабильности прибора и его среднее квадратическое отклонение. Испытания прибора на надежность позволяют уточнить характеристики нестабильности. Полученные сведения о характеристиках нестабильности позволяют оценить значение показателя метрологической надежности и его среднее квадратическое отклонение.  [4]

5 Схема аппаратной функции монохро-матора. [5]

В современных призменных спектрометрах это достигается автоматической заменой призм. Частота фиксируемой спектрометром полосы поглощения вследствие нестабильности прибора нередко немного колеблется. Смену веществ, используемых в качестве эталонов, следует производить при работающем приборе.  [6]

Картина получается особенно наглядной, если, не включая развертки, включить движение ленты или каретки самописца. В этом случае легко наблюдать весь характер нестабильности прибора: кратковременные рывки и медленные дрейфы поля.  [7]

Пружина должна работать без остаточных деформаций. Величина остаточной деформации определяет нестабильность пружины и, следовательно, нестабильность прибора. Даже незначительное - снижение нестабильности представляет практический интерес. По данным английской печати [9], увеличение прогиба пружины под постоянной нагрузкой происходит по логарифмической ( кривой) зависимости по времени.  [8]

Решение этой проблемы во многом связано с проблемой чистоты. Установлено, например, что дрейф ионов примесей в пассивирующих пленках ( в первую очередь щелочных элементов) является одной из главных причин нестабильности кремниевых планар-ных приборов.  [9]

10 Схема аппаратной функции монохро-матора. [10]

Призменные инфракрасные спектрометры конструируют чаще всего по схеме Литтрова [ 551 ( гл. В современных призменных спектрометрах это достигается автоматической заменой призм. Частота фиксируемой спектрометром полосы поглощения вследствие нестабильности прибора нередко немного колеблется. При интерпретации спектров по характеристическим частотам эти небольшие отклонения чаще всего не имеют значения. Смену веществ, используемых в качестве эталонов, следует производить при работающем приборе.  [11]

Применение серийно выпускаемых полимеров без очистки и компаундов на их основе для защиты поверхности деталей полупроводниковых приборов позволяет достичь величины пробивного напряжения - 600 В. Уже при снижении содержания ионных примесей до - 10 - 4 % заметно возрастают все электрические параметры полупроводниковых приборов; пробивное напряжение увеличивается до 800 - 1000 В. Однако при повышении температуры до 125 С наблюдается возрастание вредных обратных токов вблизи р-га-перехода, увеличивается нестабильность приборов во времени.  [12]

13 Разностный эксперимент по ЯЭО, Слева внизу представлен спектр с облучением, частота которого смещена от резонанса, а слева вверху-полученный при облучении помеченного стрелкой сигнала. В разностном спектре видны типичные лля таких экспериментов особенности. пик с увеличившейся интенсивностью ( /. пик с дисперсионной формой линии, возникший из-за ошибок вычитания ( 2. насыщавшийся резонанс, инвертированный в разностном спектре ( 3. интенсивный отрицательный пик, возникший из-за недостаточной селективности насыщения ( 4. [13]

Основа разностного эксперимента состоит в суммировании нескольких прохождений в условиях насыщения некоторого сигнала и такого же числа прохождений без насыщения. Однако существует и другой лимитирующий фактор, не позволяющий использовать малое число прохождений даже для протонных спектров. Усреднение сигналов позволяет повысить степень подавления паразитных пиков, если нестабильность прибора, приводящая к их появлению, носит случайный характер.  [14]



Страницы:      1