Анализ - покрытие
Cтраница 1
Анализ покрытий часто осложнен тем, что некоторые ингредиенты сами являются сложными смесями, такими, как шеллак, канифоль, парафин, натуральные смолы. При идеальном разделении эти смеси должны быть отделены как целое от других сходных сложных компонентов. При идентификации таких материалов стандартные спектры полезны, но часто и неоднозначны. Крайне полезно знание сходных рецептур и их ожидаемых компонентов. [1]
Анализы покрытий, полученных при различных катодных потенциалах, показывают, что по графику у первого отрезка кривой, ниже первой области предельного тока, осаждается лишь кадмий. Первый подъем плотности тока соответствует началу совместного осаждения цинка и кадмия. [2]
 |
Зависимость электросопротивлений покрытий от содержания меди в исходном стекле. [3] |
Анализ покрытий на меди после обжига показал, что в покрытие переходит некоторое количество меди ( рис. III. В начальный период обжига - вследствие значительно большей теплопроводности меди по сравнению с теплопроводностью стекла - идет обычное окисление меди до закиси меди кислородом атмосферы печи. [4]
Анализ покрытий часто осложнен тем, что некоторые ингредиенты сами являются сложными смесями, такими, как шеллак, канифоль, парафин, натуральные смолы. При идеальном разделении эти смеси должны быть отделены как целое от других сходных сложных компонентов. При идентификации таких материалов стандартные спектры полезны, но часто и неоднозначны. Крайне полезно знание сходных рецептур и их ожидаемых компонентов. [5]
При анализе покрытий различают общую Яобщ, открытую Яотк, закрытую Язакр, рассеянную Ярао пористости. Общая пористость представляет собой отношение общего объема пор к полному объему покрытия. Открытая и закрытая пористости - части общей пористости, определяемые как отношение объема пор; соответственно сообщающихся с атмосферой и не имеющих выхода на поверхность, к полному объему ПОКРЫТИЯ: Яобщ отк - J - Язакр. [6]
Из результатов ренгенофазового анализа покрытий на основе siCr и Fesi-45 следует, что в образцах, полученных дуговой обработкой и металлизацией Al, сцепление покрытия с графитом обусловлено образованием карбида кремния, оксида А1 - А12 О3, а также образованием механического контакта А1 с подложкой. [7]
Металлографический, рентгеноструктурный и микрорентгено-спектральный анализы покрытий, полученных при насыщении никеля алюминием, хромом и ниобием циркуляционным методом выявили характерную структуру диффузионного покрытия, состоящую из четырех слоев. Первый, наружный слой с микротвердостью Я5о 550 - 620 кгс / мм2 - это легированный небольшим количеством хрома и ниобия интерметаллид NiAl; второй слой - легированная хромом и ниобием фаза № 3А1; третий слой ( белый нетравящийся слой на рис. 52) - твердый раствор с повышенной концентрацией ниобия и хрома; четвертый слой - твердый раствор небольшой концентрации алюминия, хрома и ниобия в никеле. [9]
Наблюдения за характером обтекания модельных тел и анализ покрытий контрольных образцов позволяют сделать некоторые качественные оценки. При скоростях фильтрации псевдоожижаю щего агента, соответствующих этапу монотонного расширения, слоя, наблюдается хорошее обтекание вертикальных и горизонтальных нижних поверхностей, однако на горизонтальных верхних поверхностях образуется залежь материала. По мере увеличения скорости фильтрации газового потока все большая часть этого материала переходит в движение, но появляется канальный проскок части газа вдоль вертикальных поверхностей и под горизонтальной поверхностью образуется газовая полость, свободная от дисперсных частиц. При этом покрытие нижней горизонтальной площадки оказывается гораздо более тонким и пористым. Таким образом, изменяя режимы псевдоожижения, можно подбирать состояние псевдоожиженного слоя для тех или иных условий и изделий. [10]
Эти источники должны найти широкое применение в рентгеноскопии для измерения и анализа покрытий в интервале энергий 1 - 10 кэв. [11]
 |
Зависимость скорости счета рассеянных 3-частиц для трех различных покрытий, нанесенных на одну и ту же основу. [12] |
ТПРУ-1 предназначен для измерения покрытий, атомный номер которых отличается от z основы не менее чем на три единицы, и для анализа двухкомпо-нентных покрытий. [13]
Последнее вполне оправданно, так как при необходимости распродажи имущества организации для текущих активов, учитываемых по этой балансовой статье, нет необходимости устанавливать рынок сбыта, он уже определен договором на поставку и подтверждающими документами на отгрузку и в ближайшее время с некоторой степенью вероятности ожидается переход права собственности к покупателю и последующая оплата. При анализе покрытия необходимо из величины числителя исключить просроченную дебиторскую задолженность. [14]
Величину avi находят из уравнения ( 17), заменяя в нем значения ат парциальными весовыми количествами частиц ami. Последнее определяют экспериментально при анализе покрытия. [15]
Страницы: 1 2