Рентгеновский структурный анализ

Cтраница 3

Рентгенографические методы распадаются на три самостоятельные области: рентгеновский структурный анализ; диаскопию, изучающую с помощью просвечивания внутренние микроскопические дефекты в материалах; рентгеновский спектральный анализ, применяемый при изучении химического состава веществ. [31]

В соответствии с этим применяются три различных способа рентгеновского структурного анализа. При одном из них ( метод Лауэ) пучок рентгеновских лучей всевозможных длин волн проходит через диафрагму и падает на поверхность кристалла под некоторым определенным углом. В потоке лучей всегда найдутся такие, длины которых удовлетворяют условию ( а), при этом в результате отражения на фотографической пластинке, наряду с центральным пятном от непреломившегося луча, получаются симметрично расположенные вокруг него пятна, каждое из которых соответствует каким-нибудь hud. [32]

Схема метода Лауэ. [33]

В соответствии с этим применяются три различных способа рентгеновского структурного анализа. Лауэграмма ( рис. 14) дает возможность определить симметрию кристалла и его ориентировку. [34]

К выводу Вульфа-Брэггов. [35]

Приведенная формула ( 8) лежит в основе рентгеновского структурного анализа. [36]

К выводу уравпгпия Вульфа-Брегга. [37]

Приведенная формула ( 6) лежит в основе рентгеновского структурного анализа. [38]

Измерения оптических и магнитных свойств, так же как и методы рентгеновского структурного анализа полупроводников, ничем не отличаются от общепринятых для других материалов. Магнитные свойства теснейшим образом связаны с характером химических связей в теле и поэтому служат важным подспорьем для понимания кристалло-химической природы полупроводника. [40]

Полную картину кристаллического строения различных металлов и неметаллов, определенного с помощью рентгеновского структурного анализа, дает фиг. Как видно из фиг. При этом элементы одной группы и элементы, находящиеся близко друг от друга в периодической системе, часто имеют одинаковый тип решетки. [41]

Первый из них может быть с очень большой точностью найден с помощью рентгеновского структурного анализа, о котором будет идти речь несколько позже. [42]

Глоккер, Рентгеновские лучи и испытание материалов ( 1932); Г. С. Жданов, Основы рентгеновского структурного анализа ( 1940) ( в обеих последних книгах очень подробный материал); Г р а п е з н и к о в, Основы рентгенографии ( 1933); Г. С. Жданов и Я. С. У майский, Рентгенография металлов, том I ( 1941) идр. [43]

Рассмотренные здесь пути решения фазовой проблемы структурного анализа представляют собой резонансный аналог используемых в практике рентгеновского структурного анализа, метода изоморфных замещений и метода аномальной дисперсии. [44]

Микрофотография осадка цинка на железном катоде, х 1620. [45]

Страницы: 1 2 3 4