Косвенный анализ

Cтраница 3

Относительное увеличение случайной ошибки в зависимости от степени иа-и от расстояния до максимума сигнала ДЛтах. [31]

Особенно хорошо это заметно при малых концентрациях одного из Двух компонентов. Поэтому для косвенного анализа крайне важно, чтобы оба компонента имели примерно равные доли. [32]

Так, усталостный характер дополнительных трещин в подавляющем большинстве случаев свидетельствует об аналогичном характере основного излома. Однако при таком косвенном анализе следует учитывать условия работы детали и возможность различной последовательности возникновения того или другого вида разрушения. [33]

Нередко получить эту оценку в общем виде с достаточной точностью бывает трудно. Тогда приходится прибегать к косвенному анализу погрешностей для отдельных конкретных случаев и на основе сопоставления полученных результатов делать выводы общего характера. Очевидно, что физическое моделирование, как более полно воспроизводящее физическую сущность исследуемого процесса, теоретически может дать более точные результаты в смысле погрешности воспроизведения рассматриваемого явления. Практически же точность работы физической модели, в первую очередь, зависит от совершенства ее исполнения и от того, насколько близка физическая сущность реального и моделируемого процессов. [34]

Экспрессность прямых методов имеет важное значение не только с точки зрения суммарных затрат времени при проведении большого числа серийных анализов, но и особенно при анализе веществ химически нестойких, легко гидролизующихся или выделяющих воду при хранении. Для таких веществ длительные методы косвенного анализа зачастую вооЬще неприменимы. [35]

Для t, t ( P; f) следует пользоваться алгоритмами косвенного анализа ( см. разд. [36]

В другом случае - по весу осадка Mg2P2O7 - содержание в смеси каждой из двух солей вычисляют по методу косвенных анализов ( см. стр. [37]

Метод косвенного анализа исследуемых структур позволяет произвести оценку ожидаемой нестабильности параметров и характеристик транзисторных усилителей с учетом влияния на разброс упомянутых показателей выбранного рабочего режима и отрицательной обратной связи на постоянном и переменном токе. В отличие от методов непосредственного анализа, которые обычно приводят к сложным уравнениям даже для сравнительно простых систем, метод косвенного анализа позволяет в ходе расчета оперировать простыми соотношениями и контролировать достоверность результатов, достигаемых на промежуточных этапах. [38]

Детальный перечень элементарных процессов, которые совершаются на стадии возврата, не является однозначным и общепринятым. Связано это с тем, что прямое выявление точечных дефектов - основного типа дефектов, устраняющихся при возврате, в настоящее время практически еще не возможно, а косвенный анализ ( по изменению свойств), как правило, неоднозначен. [39]

Для физических моделей объектов газовых систем оценить в общем виде погрешности моделирования затруднительно. Это объясняется отсутствием строгих общих решений исходных уравнений неустановившегося течения газа в газопроводах. Поэтому здесь приходится обращаться к косвенному анализу погрешностей. [40]

Принцип косвенного определения состоит в том, что, исходя из количества взятой для анализа пробы и из результата суммарного титрования, составляют два параллельных уравнения, по которым можно вычислить содержание обоих компонентов. При анализе смесей лантаноидов этот метод дает среднюю величину атомного веса, по которой, можно судить о составе проанализированной пробы. Ошибки результатов таких косвенных анализов, в общем, все-таки довольно велики. [41]

Исследование поверхности слоев методом дифракции медленных электронов. Как известно, из-за низкой энергии медленных электронов и их сильного рассеивания опыты по дифракции необходимо проводить в вакууме 10 - 9 - 10 - 10 мм рт. ст.; по той же причине прямая фотографическая регистрация продифрагировавшего пучка сопряжена с трудностями. К сожалению, из-за малой точности определения периодов решетки с помощью дифракции медленных электронов нельзя прямо проверить характер соответствия кристаллических решеток. С этой целью обычно прибегают к косвенному анализу электронограмм с реконструкцией на основе таких данных структуры слоев, образующихся на кристаллической поверхности. Так были изучены также структура чистых поверхностей и различные поверхностные реакции. Наиболее полные сведения дало изучение структур адсорбированных слоев различных газов на поверхностях монокристаллов. [42]

При всех описанных определениях циркония совместно с ним всегда титруется присутствующий в растворе гафний. После реэкстракции гафния в водную фазу его титруют комплексонометрически. Раздельное определение компонентов смеси Zr-Hf возможно с помощью косвенного анализа на основе различия атомных весов обоих металлов. Сначала известным методом осаждают вместе цирконий и гафний и после озоления весовым методом определяют суйму их окислов. Далее окислы растворяют и титрованием раствором ЭДТА определяют сумму обоих металлов. [43]

Осадок FeS растворяют в НС1, окисляют при нагревании азотной кислотой и осаждают гидроксид железа ( III) аммиаком. Гравиметрическое определение щелочных металлов относится к сравнительно сложным анализам главным образом из-за большой растворимости солей этих металлов. Калий и натрий могут быть определены один в присутствии другого, но нередко применяется и косвенный анализ: определяют сумму хлоридов или сульфатов этих металлов, затем содержание одного из них устанавливают экспериментально, а содержание другого рассчитывают по разности. Иногда используют метод определения суммарной массы хлоридов калия и натрия, а затем после обработки H2SO4 - суммарной массы их сульфатов. [44]

Осадок FeS растворяют в НС1, окисляют при нагревании азотной кислотой и осаждают гидроксид железа ( III) аммиаком. Гравиметрическое определение щелочных металлов относится к сравнительно сложным анализам главным образом из-за большой растворимости солей этих металлов. Калий и натрий могут быть определены один в присутствии другого, но нередко применяется и косвенный анализ: определяют сумму хлоридов или сульфатов этих металлов, затем содержание одного из них устанавливают экспериментально, а содержание другого рассчитывают по разности. Иногда используют метод определения суммарной массы хлоридов калия и натрия, а затем после обработки Н2 О4 - суммарной массы их сульфатов. [45]

Страницы: 1 2 3