Количественный спектральный анализ - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 4
Закон Вейлера: Для человека нет ничего невозможного, если ему не надо делать это самому. Законы Мерфи (еще...)

Количественный спектральный анализ

Cтраница 4


При количественном спектральном анализе на результат измерения оказывают влияние почти все физические и химические характеристики материала пробы. Это означает, что с изменением физического и химического состояния пробы определенного состава меняется также отношение интенсивностей линий аналитической пары.  [46]

При количественном спектральном анализе следует строго соблюдать соответствующие инструкции, в частности по составу и температуре проявителя, а также равномерности и продолжительности процесса проявления. Желательно, чтобы наклон характеристической кривой для проявляемой фотоэмульсии был как можно больше. В этом случае даже малые различия в интенсивности приводят к легко измеряемым различиям в почернении. Достоинством эмульсии является также низкая вуаль. Необходимо принимать во внимание, что наклон характеристической кривой эмульсии меняется для разных длин волн света. Если в измеряемой области длин волн эти изменения слишком велики, то вместо обычно применяемого контрастного проявителя следует пользоваться мягко работающим проявителем. По поводу химического состава проявителя можно сказать следующее: в настоящее время для проявления фотоэмульсий, применяемых в спектральном анализе, используют метолгидрохиноновые проявители или растворы, содержащие в качестве проявляющих реагентов н-метил-п-аминофенол и гидрохинон. В Европе применяются почти исключительно проявители первой группы. Для этого достаточно подобрать соответствующее соотношение между двумя вышеупомянутыми веществами, бромистым калием и щелочностью раствора.  [47]

В количественном спектральном анализе результат анализа иногда выдается по двум параллельным определениям.  [48]

В количественном спектральном анализе вычисление средней квадратической ошибки дает возможность проверить точность выбранной методики анализа. Обычно точность методики отрабатывается на эталонах с известным содержанием определяемых элементов.  [49]

При количественном спектральном анализе важными характеристиками ФЭУ являются широкий диапазон линейности световой характеристики, низкий уровень темповых токов, высокая стабильность параметров во времени. В случае применения в квантометрах желательны милые габариты ФЭУ.  [50]

При количественном спектральном анализе важными характеристиками ФЭУ являются широкий диапазон линейности световой характеристики, низкий уровень темновых токов, высокая стабильность параметров - во времени. Ввиду того, что аналитические линии элементов расположены в различных частях спектра ( от ультрафиолетовой до ближней инфракрасной), необходимо, чтобы диапазон спектральной чувствительности ФЭУ был широким. В случае применения в квантометрах желательны малые габариты ФЭУ.  [51]

52 Зависимость интенсивности спектральной линии от концентрации элемента в. [52]

В количественном спектральном анализе используется зависимость интенсивности спектральных линий в спектре пробы от содержания элементов в пробе. Математическое выражение этой зависимости эмпирически установил в 1930 г. Б. В. Ломакин, а несколько позднее, в 1939 г., С. Л. Мандельштам дал ее теоретическое истолкование.  [53]

При количественном спектральном анализе используются, наряду с фотографическими методами, визуальные и фотоэлектрические методы регистрации спектров и определения интенсивно-стей спектральных линий. Из них фотоэлектрические методы начали применяться успешно только в последнее время.  [54]

В количественном спектральном анализе освещение с помощью однолинзового или двухлинзового конденсоров может оказаться непригодным. Для сочетания условий равномерного освещения щели и заполнения действующего отверстия прибора иногда прибегают к нерезкому отображению источника на щель, проектируя его на объектив коллиматора. Чаще же применяют сложные конденсорные системы, состоящие из нескольких линз, обеспечивающие равномерные освещение щели и распределение освещенности вдоль спектральной линии при полном использовании действующего отверстия спектрографа.  [55]



Страницы:      1    2    3    4