Атомно-эмиссионный спектральный анализ

Cтраница 1

Атомно-эмиссионный спектральный анализ - это метод анализа по спектрам испускания, которые возникают при испарении и возбуждении пробы в дуге, искре или пламени. Этот пооцесс ведет к излучению света с частотой ki - ( Ek - Ei) / h и появлению спектральной линии. [1]

Атомно-эмиссионный спектральный анализ - один из первых методов спектроскопии, получивший широкое практическое применение. Он был открыт Кирхгофом и Бунзеном в 1860 г. Как аналитический метод он интенсивно развивается и в настоящее время. [2]

Проведение атомно-эмиссионного спектрального анализа состава веществ и материалов сопровождается выполнением тех или иных математических расчетов. Наибольшая громоздкость расчетов характерна для статистической обработки результатов анализа, которая однако необходима для оценки надежности полученных в процессе анализа сведений. В связи с широким распространением вычислительной техники целесообразно выполнять такие расчеты с помощью ЭВМ. Применение ЭВМ позволяет использовать метод наименьших квадратов и аппарат регрессионного анализа для оценки параметров градуировоч-ных зависимостей. Таким образом, современный химик-аналитик должен не только знать основные положения математической статистики и способы обработки результатов эксперимента, но и уметь переложить выполнение этих задач на вычислительную машину. [3]

В атомно-эмиссионном спектральном анализе применяют приборы, конструкция которых определяется оптической частью и назначением прибора. Осветительная часть прибора включает источник света ( горящие дуга, искра или пламя) и конденсорную систему освещения щели прибора. Оптическая часть спектрального прибора состоит из щели, двух объективов - коллиматорного и камерного, диспергирующего элемента - одной или нескольких призм, дифракционной решетки или комбинации призмы с решеткой. В автоколлимационных приборах роль коллиматорного и камерного играет один объектив. [4]

В качественном атомно-эмиссионном спектральном анализе в отличие от химического не требуется сложных операций по групповому разделению элементов. С помощью этого метода можно легко различить два металла с близкими химическими свойствами. Например, неодим и празеодим при их совместном присутствии идентифицируются с не меньшей простотой, чем алюминий и магний. Результаты анализа в любой момент могут быть проверены путем повторного изучения спектрограммы. Этот метод особенно ценен тогда, когда неизвестен общий химический состав анализируемого вещества или необходимо обнаружить искомый элемент в пробе. Для выполнения анализа небольшая навеска или капля раствора, нанесенная на торец углеграфитового электрода, возбуждаются электрической дугой, а спектр снимается на фотопластинку или изучается визуально. Присутствие или отсутствие элемента в пробе безошибочно может быть установлено по двум-трем характерным спектральным линиям. Этим методом можно быстро определить один или несколько металлов. Спектральные линии благородных газов, галогенов, серы и некоторых редких тяжелых металлов малочувствительны или для их определения требуются специальные приемы и соответствующая аппаратура, что делает выполнение анализа более сложным, чем химическими методами. [5]

С помощью атомно-эмиссионного спектрального анализа исследуют линейчатые спектры возбужденных атомов для определения природы и количеств отдельных элементов. [6]

Температура различных источников возбуждения, применяемых в спектральном анализе. [7]

С помощью атомно-эмиссионного спектрального анализа ( оптический эмиссионный спектральный анализ, традиционно называемый просто спектральным анализом), исследуют линейчатые спектры возбужденных ( тем или иным способом) атомов для определения природы и количеств отдельных элементов. [8]

Разработаны два варианта атомно-эмиссионного спектрального анализа: спектрографический и спектрометрический, отличающиеся способом регистрации аналитического сигнала. [9]

Фотографические способы регистрации спектров применяют в атомно-эмиссионном спектральном анализе наиболее широко. Они достаточно просты по технике и общедоступны. Основные достоинства фотографической регистрации - документальность анализа, одновременность регистрации и низкие пределы обнаружения многих элементов. В автоматизированном варианте этот способ регистрации приобретает новое дополнение - огромную информативность. Никакими другими методами пока невозможно одновременно определять по 300 - 500-ти линиям до 70 элементов в одной пробе. Фотографический эффект определяется полным числом световых квантов, поглощенных эмульсией. Это позволяет создавать фотографическое изображение при малой освещенности за счет увеличения времени экспозиции. [10]

Фотографические способы регистрации спектров применяют в атомно-эмиссионном спектральном анализе наиболее широко. Они достаточно просты по технике и общедоступны. Основные достоинства фотографической регистрации - документальность анализа, одновременность регистрации и низкие пределы обнаружения многих элементов. В автоматизированном варианте этот способ регистрации приобретает новое дополнение-огромную информативность. Никакими другими методами пока невозможно одновременно определять по 300 - 500-ти линиям до 70 элементов в одной пробе. Фотографический эффект определяется полным числом световых квантов, поглощенных эмульсией. Это позволяет создавать фотографическое изображение при малой освещенности за счет увеличения времени экспозиции. [11]

Фотометрирование спектральных линий и обработка получаемых данных представляют собой один из наиболее трудоемких этапов фотографического атомно-эмиссионного спектрального анализа, который к тому же часто сопровождается возникновением субъективных ошибок. [12]

Эта формула является основным, но не единственным математическим выражением градуировочных кривых, которые строят при проведении количественного атомно-эмиссионного спектрального анализа. При определении высоких содержаний элементов, когда указанные выше предпосылки уже не выполняются и становятся значимыми различные нелинейные эффекты, математическая модель градуировочной характеристики нуждается в уточнении. [13]

Эта формула является основным, но не единственным математическим выражением градуировочных кривых, которые строят при проведении количественного атомно-эмиссионного спектрального анализа. При определении высоких содержаний элементов, когда указанные выше предпосылки уже не выполняются и становятся значимыми различные нелинейные эф фекты, математическая модель градуировочной характеристики нуждается в уточнении. [14]

Поэтому, обнаружив в спектре анализируемого вещества несколько линий ( обычно 2 - 3), характерных для данного элемента, можно сделать вывод о его присутствии. Такой метод называют качественным эмиссионным или атомно-эмиссионным спектральным анализом. Он относится к физическим методам анализа и может быть использован как для качественного, так и для количественного анализа. Для расшифровки спектров применяют таблицы спектральных линий. [15]

Страницы: 1 2