Cтраница 1
Изотопный спектральный анализ, использующий компоненты изотопической структуры атомных спектральных лииий, предъявляет высокие требования к спектральной аппаратуре, так как расстояния между изотопическими линиями в атомных спектрах только в случае изотопов водорода Н и D достигают около 2 А, тогда как в остальных случаях они составляют десятые, сотые и еще меньшие доли ангстрема. В случае изотопного молекулярного спектрального анализа изотопическое смещение значительно больше и может достигать десятков ангстрем. Из вышесказанного следует, что для изотопного спектрального анализа по атомным спектрам необходима спектральная аппаратура значительно большей дисперсии и разрешающей силы, нежели для элементного анализа. Тем не менее для случая легких элементов ( изотопы водорода, гелия, лития), а также для тяжелых элементов ( например, изотопы урана) изотопный спектральный анализ может проводиться с помощью призменных и дифракционных приборов, применяемых в элементном спектральном анализе. В случае молекулярного изотопного анализа спектральные приборьи в целом ряде случаев могут обладать сравнительно умеренной дисперсией и разрешающей силой. [1]
Элементный и изотопный спектральный анализ предполагает качественное и количественное определения элементного и изотопного состава пробы по спектрам испускания, расположенным в диапазоне от ближней инфракрасной до рентгеновской области. Иногда для этих целей применяются и молекулярные спектры испускания или поглощения. [2]
Для изотопного спектрального анализа по эмиссионным и молекулярным спектрам могут использоваться также дифракционные спектрографы, которые удобны тем, что имеют постоянную дисперсию, не зависящую от длины волны света. [3]
Метод изотопного спектрального анализа углерода ( С12 - С13) в окиси углерода, Сб. [4]
Раздел II Изотопный спектральный анализ ( главы 5 - 8) составлен проф. [5]
В принципе изотопный спектральный анализ не отличается от обычного элементного спектрального анализа. Качественный анализ производится по наличию или отсутствию соответствующих спектральных компонент, принадлежащих тем или иным изотопам в структуре спектральной линии. При обнаружении компоненты того или иного изотопа однозначно решается вопрос о его присутствии. Необходимо отметить, что отсутствие изотопической компоненты еще не говорит об отсутствии изотопа в исследуемой пробе, поскольку данный изотоп может содержаться в концентрациях, меньших, чем чувствительность данного метода изотопного анализа. Чувствительность изотопного анализа зависит от выбора спектральной линии, от расстояния между компонентами изотопической структуры и их взаимного наложения и от применяемой аппаратуры. [6]
В случае изотопного спектрального анализа часто приходится сравнивать линии, сильно отличающиеся по интенсивности. В фотоэлектрических установках для изотопного спектрального анализа применяются как способ накопления заряда на конденсаторах, так и способ сканирования линий. [7]
Разрядная труба с полым катодом для изотопического анализа. [8] |
В случае изотопного спектрального анализа лития необходимо по возможности уменьшить допплеровское уширение и одновременно создать низкую плотность паров, чтобы уменьшить самопоглощение. Наиболее подходящим низкотемпературным источником света является разрядная трубка с полым катодом, охлаждаемым проточной водой. [9]
Таким образом, изотопный спектральный анализ в аппаратурном отношении оказывается несколько сложнее обычного. В то же время большая гомологичность линий позволяет, как правило, обеспечить лучшую точность анализа, а в ряде случаев представляется возможность проводить анализ даже без применения эталонных образцов. [10]
Наиболее надежен метод изотопного спектрального анализа по аналитической кривой, построенной при помощи специально приготовленных эталонов с известными концентрациями анализируемых изотопов. В общем случае, когда используемые линии в источнике света испытывают самопоглощение, аналитическую кривую в некотором ограниченном интервале концентраций можно принять за прямую. [11]
Зависимость погрешности концентрации. [12] |
Высокая точность методов изотопного спектрального анализа, а также независимость результатов измерений от посторонних примесей в пробе объясняются рядом благоприятных обстоятельств, которые присущи спектральному методу. Прежде всего следует отметить, что сравниваемые изотопические линии относятся к переходам между одними и теми же ( немного смещенными) уровнями. В результате этого изотопические линии являются в высшей степени гомологическими парами, отношение интен-сивностей которых практически не зависит от случайных изменений условий разряда в процессе фотометрирования линий или фотографирования спектра. [13]
Расхождение результатов безэталонных методов изотопного спектрального анализа и масс-спектрометрического анализа обусловлено систематической ошибкой, которая вносится в основном из-за неточного знания контура линии РЬ206 4058 А и расстояний между отдельными компонентами с.т.с. аналитической линии. [14]
Таким образом, в случае изотопного спектрального анализа простая зависимость в виде равенства между относительной интенсивностью и относительной концентрацией даже при отсутствии самопоглощения может быть сильно искажена взаимным наложением сравниваемых линий и фона в спектре. В легких элементах к этому может добавляться еще смещение аналитических кривых. [15]