Cтраница 3
Рассмотренные в главах 4.4 и 4.5 результаты представляют основы метрологического анализа результатов измерений числовых ВХ СП или значений функциональных ВХ при фиксированных аргументах. Применительно к идентификации функциональных ВХ целесообразно положить в основу МА подход, изложенный в главе 3.5 третьей части, увязывающий проблемы косвенных измерений и идентификации зависимостей. Этому посвящена следующая глава. [31]
Обращаясь к описанному в третьей части Основ математической метрологии последовательному метрологическому анализу ( ПМА), положим известными аналитические выражения для погрешностей промежуточных и конечных результатов всех входящих в измерительную процедуру преобразований, кроме фильтрации. [32]
Представляется, однако, полезным рассмотреть и особенности определения достоверности результатов метрологического анализа, выполняемого с использованием имитационного моделирования. Поскольку общие особенности самого метрологического анализа, выполняемого с использованием имитационного моделирования, рассмотрены во второй части, то нет необходимости возвращаться к ним применительно к метрологическому анализу аналого-цифрового преобразования. Вместе с тем, несмотря на использование одинаковых A3 при расчетном метрологическом анализе и метрологическом анализе, выполняемом с использованием имитационного моделирования, достоверность получаемых при этом результатов различна, что и оправдывает включение данного анализа в настоящий раздел. [33]
Следует подчеркнуть, что, в конечном счете, сопоставляются процедуры полного метрологического анализа и второго этапа метрологического анализа. [34]
Именно эта иерархическая структура положена в основу построения базового алгоритмического обеспечения метрологического анализа типовых измерительных структур. [35]
Очевидно, что процедура (2.4.81) в случае, когда на первом этапе метрологического анализа определяются характеристики погрешностей результатов. [36]
Наличие в процедуре статистических измерений усреднения как основного преобразования порождает ряд особенностей метрологического анализа ( МА) получаемых результатов. К этим особенностям в первую очередь относятся конечность объема выборочных данных о мгновенных значениях СП, а также возможная неадекватность операции усреднения виду ( t - текущая, u - текущая или средняя) измеряемой ВХ. [37]
В четвертой части проведено детальное исследование измерений с фильтрацией и представлено алгоритмическое обеспечение метрологического анализа, которое вытекает из общих принципов, разработанных применительно к неитеративным измерениям без усреднения. [38]
Поэтому указанный подход к аэроаналитическим задачам является перспективным и может быть рекомендован для метрологического анализа различных измерительных комплексов. [39]
Рассмотренный пример, помимо прочего, показывает, JITO ПМА во многом аналогичен комбинированному метрологическому анализу. ПМА предполагает использование результатов метрологического анализа ( результатов первого этапа), выполненного, вообще говоря, без непосредственного учета задач второго этапа. Следовательно, при использовании ПМА требуется проведение специального анализа соответствия имеющихся для выполнения второго этапа A3 поставленной цели. [40]
Такое определение адекватно процедурам оценивания ВХ с использованием экспериментальных данных и позволяет формировать математический аппарат метрологического анализа с использованием результатов математической статистики. Определения (2.2.6) и (2.2.7) эквивалентны и могут быть обобщены для представления ВХ произвольного порядка. [41]
Полученные с помощью МЭ знания используются для уточнения моделей и соответственно для повышения достоверности результатов метрологического анализа на основе расчетов или ИМ. [42]
В отличие от других ранее изданных книг по импульсной технике, в данной книге также проводится более подробно метрологический анализ стабильности формируемых интервалов времени, зависящей от влияния различных дестабилизирующих факторов, и даются рекомендации по увеличению стабильности формируемых интервалов времени. [43]
Следует подчеркнуть, что, в конечном счете, сопоставляются процедуры полного метрологического анализа и второго этапа метрологического анализа. [44]
Такой аппарат представлен в первых двух частях настоящей работы, что и обеспечивает возможность построения алгоритмического обеспечения метрологического анализа результатов измерений и, в частности, результатов аналого-цифрового преобразования. [45]