Пьезоэлектрический заряд

Cтраница 3

Внешний вид ультразвукового дефектоскопа ( микроскопа проф. С. Я. Соколова с электронными трубками.| Схема ультразвукового дефектоскопа ( микроскопа В. С. Соколова. [31]

Электрический заряд на вторую поверхность пластинки подается через электронный луч, развертывающийся синхронно с лучом приемного телевизионного кинескопа. Таким образом, на пластинке возникают точечные пьезоэлектрические заряды один вслед за другим в соответствии с обеганием электронного луча по всей ее поверхности. Интенсивность этих зарядов в каждой точке пластинки будет одинакова. Вследствие этого в каждый момент времени пластинка излучает ультразвуковой луч площадью сечения, равной площади сечения электронного луча трубки. В исследуемый объект направляется бегающий ультразвуковой луч, а не весь пучок излучения, как во всех существующих ультразвуковых дефектоскопах. В качестве приемника в этом устройстве служит простая пьезоэлектрическая пластинка с обычными электродами, нанесенными по всей площади с обеих сторон. [32]

В рамках формализма ЛКАО можно рассчитать перераспределение зарядов, вызванное смещениями атомов, и затем найти по нему поперечный заряд, характеризующий связь между колебаниями решетки и электромагнитным полем. Теория хорошо описывает и этот заряд, и значительно меньший по величине пьезоэлектрический заряд, и, следовательно, соответствующие вклады в электрон-фононное взаимодействие. Однажо вклад деформационного потециала, также имеющий место в гомеополярных полупроводниках, определяется, по всей видимости, с меньшей точностью. [33]

При отсутствии пороков внутри изделия эти колебания попадают на приемную пьезоэлектрическую пластинку. Приемная пластинка также начинает колебаться, в результате чего на ее поверхности возникают пьезоэлектрические заряды, создающие разность по-тенциалов на обкладках пла-стинки. [34]

Схема ультразвукового интроскопа. [35]

Электрические высокочастотные колебания генератора / преобразуются пьезоэлектрической пластинкой излучателя 2 в механические ультразвуковые колебания. Эти колебания, проходя через испытуемый образец, попадают на приемную пьезоэлектрическую пластинку ЭАП 3, Пьезоэлектрические заряды, возникающие в отдельных точках приемной пластинки, пропорциональны падающей на эти точки ультразвуковой энергии. Таким образом происходит трансформация ультразвуковых изображений в рельеф электрических потенциалов. Потенциальный рельеф считывается лучом с ЭАП построчно с помощью генераторов строчной 8 и кадровой 7 разверток. [36]

На указанном свойстве пьезоэлектрического эффекта и основана ультразвуковая дефектоскопия сварных швов и соединений. В данном случае пьезоэлектрические заряды, возникающие на приемной пьезоэлектрической пластинке, усиливаются посредством лампового усилителя и передаются на индикатор, представляющий собой электронно-лучевую трубку или другое устройство в виде прибора со стрелкой, позволяющего зафиксировать разность потенциалов пьезоэлектрических зарядов. [37]

Внешний вид ультразвукового резонансного дефектоскопа-толщиномера В4 - 8Р.| Схема ультразвукового микроскопа с теневым методом приема.| Схема установки для визуализации ультразвуковых изображений. [38]

На рис. 9 - 23 приведена схема действия ультразвукового микроскопа с непрерывным излучением, с приемом по теневому методу при помощи пьезоэлектрической лластинки, вмонтированной в дно электронно-лучевой трубки. Ультразвуковые колебания, возбужденные в передающей пластинке, проходя через исследуемый образец, воспринимаются приемной пьезопластинкой, встроенной в дно электронно-лучевой трубки. Пьезоэлектрические заряды, возникающие в каждой точке приемной пьезопластинки, будут пропорциональны интенсивности ультразвуковых волн в этой точке. [39]

При срезании древесина скользит по резцу. Возникает трение скольжения, которое можно представить как смену поверхностей скольжения древесины при неизменной поверхности скольжения резца. Кроме того, резец деформирует древесину, создает в ней напряженное состояние, что вызывает на ее поверхности пьезоэлектрические заряды. [40]

Однако по ряду соображений я прпшел к заключению, что последействия в кварце вовсе не существует, а наблюдаемые явления вызваны пьезоэлектрическими зарядами в массе кристалла. [41]

Однако по ряду соображений я пришел к заключению), что последействия в кварце вовсе не существует, а на-блюдаемые явления вызваны пьезоэлектрическими зарядами в массе кристалла. [42]

Страницы: 1 2 3