Cтраница 3
При засветке бромистого серебра, серебра и никеля, никеля и хрома и ряда других соединений ультрафиолетовыми лучами и светом, соответствующим голубому концу видимого спектра, эти химические соединения подвергаются фотолизу, разлагаясь на составные элементы. [31]
Так как засветка фотосопротивления ФСК-2 и колебания мембраны микрофона происходят с одинаковой частотой, то колебания напряжения на выходе усилителя напряжения совпадают с ними, и на нагрузочных сопротивлениях детектора R, R20 появляются выпрямленные напряжения, сдвинутые по фазе в зависимости от фазы напряжения, поступающего с усилителя. Эти напряжения подаются а сетки ламп 6Ж5П ( Л7 и Л &) усилителя мощности, в анодную цепь которого включен реверсивный двигатель РД-09. [32]
Характер распределения засветки на приведенных фотоснимках устойчиво воспроизводится при многократной записи на одних и тех же образцах при переполировке их поверхностей. Таким образом, наблюдаемые на фотографиях ИК пропускания неоднородности связаны с объемными свойствами вещества. Хорошо известно также, что электрические, фотоэлектрические и прочие свойства полупроводников связаны с макрооднородностью структуры последних. Таким образом, неоднородное распределение засветки на полученных фотоснимках уже само по себе свидетельствует о возможности осуществления контроля качества полупроводниковых материалов рассмотренным методом. [33]
Для уменьшения засветки изображения или неравномерного затенения фона применяется облучение мишени медленными фотоэлектронами, создаваемыми боковой подсветкой при помощи лампочек подсветки, расположенных в определенном порядке, или импульсной подсветкой. [34]
Для снижения паразитных засветок поверхности, подвергающиеся освещению, оксидируются в черный цвет. [35]
Стирание производится путем равномерной засветки устройства при подаче на электроды напряжения предварительной поляризации. [36]
Вслед за засветкой следует цветное проявление. После цветного проявления пленку продолжительное время интенсивно промывают для полного удаления цветного проявляющего вещества. В противном случае при обработке пленки в отбеливающем растворе на изображении образуется интенсивная красная вуаль. [37]
Структура светового пучка ВКР в CS2. [38] |
В этом случае засветка от рубина довольно значительна и, как правило, перекрывает указанные утлы. [39]
В этих случаях засветка у начала пленки имеет форму более или менее широких полос. [40]
Зависимость эдс шумов от приложенного напряжения у ФС-А1. [41] |
В случае ФС-А любая засветка не приводит к пагубным последствиям. [42]
Вд - яркость паразитной засветки; k - постоянная. [43]
Наличие постоянного уровня засветки фотоприемника в поле интерференционного сигнала, см. (4.56), приводит к флуктуациям величины фототока, вследствии самопроизвольного изменения числа генерируемых лазером фотонов. Эффективным способом снижения амплитудных шумов волоконного интерферометра является дифференциальный метод обработки его сигналов. [44]
Образование ореола на экране трубки. [45] |