Cтраница 2
Можно видеть, что изломы кривых ковалентный радиус-атомный номер весьма близки изломам на кривых для радиусов катионов и анионов элементов главных групп. Более того, аналогичные изломы характерны и для кривых молекулярный радиус-атомный номер, характеризующих энергию молекулярного взаимодействия, проявляющегося в наиболее простом виде между атомами инертных газов. Во всех случаях на общее возрастание радиусов с увеличением атомного номера накладываются зигзагообразные отклонения. [16]
Как видим, на рис. 45, а на границе первой и второй зон кривая распределения давления имеет заметный излом. В условиях же, представленных на рис. 45, б, аналогичный излом на границе второй и третьей зон не заметен. [17]
Это означает, что исследуемый материал при соответ - ствующйм образом подобранном виде испытания даст аналогичный излом. [18]
Из-за масштабного эффекта, упомянутого ранее, при волокнистом изломе образца Шарпи не всегда гарантируется волокнистый излом более толстостенного сечения конструкции. Когда поверхность волокнистого излома образца Шарпи имеет губы среза и кристаллическую зону разрушения отрывом, более толстые сечения конструкции неизменно дают аналогичный излом. Однако когда поверхность излома образца Шарпи содержит только губы среза ( полностью волокнистый излом), нет гарантии, что в более толстых сечениях не появятся участки хрупкого излома отрывом. Этот недостаток является крайне важным для артиллерийского орудия, изготовляемого из поковок, имеющих большое сечение. [19]
Изменение параметра решетки типа NaCl моносоединений лантаноидов с элементами групп кислорода и азота с возрастанием атомного номера лантаноида. [20] |
Так, температуры плавления нитридов намного превышают температуры плавления фосфидов. Характерный излом отмечается для температур плавления арсенидов. Аналогичные изломы для свойств соединений AniBv наблюдаются на кривых микротвердости и ширины запрещенной зоны в зависимости от атомного номера аниона. Так характеристики полупроводниковых соединений отражают немонотонность изменения ковалентных радиусов ( см. рис. 47), обусловленную в свою очередь различиями строения внутренних электронных оболочек атомов. [21]
В качестве ( примера на рис. 1 приведены p - tf - зависимости для водных растворов сульфата натрия. На приведенном графике отчетливо видны изломы кривых, отвечающие началу кристаллизации соли из раствора. Аналогичные изломы наблюдаются при построении зависимостей р-р. И р-р возникают при резких изменениях плотности измеряемой среды; это обусловлено тем, что после достижения точки насыщения плотность раствора уменьшается не только за счет роста температуры, но и, главным образом, за счет резкого уменьшения концентрации соли в растворе в связи с выпадением ее в осадок. В нижней части графика приведены кривые, характеризующие изменение концентрации водного раствора в процессе нагрева, предельное значение которой отвечает насыщению раствора при данной температуре и давлении. [23]