Аналогичный излом - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
Молоко вдвойне смешней, если после огурцов. Законы Мерфи (еще...)

Аналогичный излом

Cтраница 2


Можно видеть, что изломы кривых ковалентный радиус-атомный номер весьма близки изломам на кривых для радиусов катионов и анионов элементов главных групп. Более того, аналогичные изломы характерны и для кривых молекулярный радиус-атомный номер, характеризующих энергию молекулярного взаимодействия, проявляющегося в наиболее простом виде между атомами инертных газов. Во всех случаях на общее возрастание радиусов с увеличением атомного номера накладываются зигзагообразные отклонения.  [16]

Как видим, на рис. 45, а на границе первой и второй зон кривая распределения давления имеет заметный излом. В условиях же, представленных на рис. 45, б, аналогичный излом на границе второй и третьей зон не заметен.  [17]

Это означает, что исследуемый материал при соответ - ствующйм образом подобранном виде испытания даст аналогичный излом.  [18]

Из-за масштабного эффекта, упомянутого ранее, при волокнистом изломе образца Шарпи не всегда гарантируется волокнистый излом более толстостенного сечения конструкции. Когда поверхность волокнистого излома образца Шарпи имеет губы среза и кристаллическую зону разрушения отрывом, более толстые сечения конструкции неизменно дают аналогичный излом. Однако когда поверхность излома образца Шарпи содержит только губы среза ( полностью волокнистый излом), нет гарантии, что в более толстых сечениях не появятся участки хрупкого излома отрывом. Этот недостаток является крайне важным для артиллерийского орудия, изготовляемого из поковок, имеющих большое сечение.  [19]

20 Изменение параметра решетки типа NaCl моносоединений лантаноидов с элементами групп кислорода и азота с возрастанием атомного номера лантаноида. [20]

Так, температуры плавления нитридов намного превышают температуры плавления фосфидов. Характерный излом отмечается для температур плавления арсенидов. Аналогичные изломы для свойств соединений AniBv наблюдаются на кривых микротвердости и ширины запрещенной зоны в зависимости от атомного номера аниона. Так характеристики полупроводниковых соединений отражают немонотонность изменения ковалентных радиусов ( см. рис. 47), обусловленную в свою очередь различиями строения внутренних электронных оболочек атомов.  [21]

22 Экспериментальные кривые p - f и C - t для водных растворов сульфата натрия. / - исходная концентрация 20 %. 2 -исходная концентрация 28 %. О - при нагревании. X - при охлаждении.| Зависимость плотности насыщенных. [22]

В качестве ( примера на рис. 1 приведены p - tf - зависимости для водных растворов сульфата натрия. На приведенном графике отчетливо видны изломы кривых, отвечающие началу кристаллизации соли из раствора. Аналогичные изломы наблюдаются при построении зависимостей р-р. И р-р возникают при резких изменениях плотности измеряемой среды; это обусловлено тем, что после достижения точки насыщения плотность раствора уменьшается не только за счет роста температуры, но и, главным образом, за счет резкого уменьшения концентрации соли в растворе в связи с выпадением ее в осадок. В нижней части графика приведены кривые, характеризующие изменение концентрации водного раствора в процессе нагрева, предельное значение которой отвечает насыщению раствора при данной температуре и давлении.  [23]



Страницы:      1    2