Cтраница 2
В четвертую группу входят детекторы и преобразователи инфракрасного излучения, детекторы интрузии, видиконы, системы для измерения распределения интенсивности лазерных лучей, аппаратура для фотокопирования, оптические генераторы на второй гармонике, детекторы отражающей способности. [16]
Следовательно, согласно этому критерию при заданных свойствах дифракционной решетки ( или другого спектрального аппарата) разрешающая способность тем выше, чем больше точность измерений распределения интенсивности в контуре спектральной линии. В предельном случае абсолютно точных измерений разрешение неограниченно возрастает. [17]
Измерение распределения интенсивности по радиусу канала проводится методом фотометрирования в определенные моменты времени. [18]
Измерение распределения интенсивности позволяет получить довольно полные сведения об угле блеска и качестве выполнения профиля штрихов. Однако в некоторых случаях, когда, например, необходимо сопоставить наблюдаемое распределение интенсивности с вычисленным, желательно иметь более полные сведения о форме профиля штрихов. Для решеток, имеющих 600 штр / мм и менее, при небольших углах блеска исследование профилей проводится иногда на интерференционных микроскопах. Для более мелких штрихов этот прибор неэффективен ввиду малой разрешающей способности, и детали их структуры обычно исследуют при помощи электронного микроскопа. Однако это связано со значительными трудностями. Точность определения параметров профиля штрихов этим методом значительно снижается из-за того, что исследуется не сама решетка, а ее реплика. [19]
При исследовании формы контуров спектральных линий используют фотоэлектрическую регистрацию. Фотоумножитель ( в отличие от фотопластинки) не обладает способностью пространственного разрешения, поэтому для измерения распределения интенсивности в центр интерференционной картины помещают круглую диафрагму и каким-либо способом изменяют оптическую толщину nh интерферометра. Тогда через центр последовательно проходят максимумы разных порядков всех компонент исследуемой линии, и фотоумножитель регистрирует изменения проходящего через отверстие диафрагмы потока излучения. [20]
Было установлено, что необходимую точность обеспечивает фазочувствительная методика, подобная той, которая применялась для измерения распределения интенсивности в дифракционной картине от круглой диафрагмы. Фазовая структура пучка не слишком важна с точки зрения образования его предельной дифракционной ширины, но когда лазер используется как источник света для моделирования излучения СВЧ-антенн, фазовая структура становится параметром первостепенной важности. Оказалось, что в этом случае проверки гауссовой формы пучка лазера, характер - ной для моды ТЕМоо, недостаточно, чтобы гарантировать однородность фазы пучка. Небольшие отклонения от полусферической формы резонатора ( например, он короче на 1 %) могут привести к загрязнению моды, что искажает моделирование. [21]
В качестве меры запрещенное данного перехода можно использовать любую из трех величин. При изучении излучения в качестве такой меры чаще всего выбирают время жизни возбужденного состояния, так как использование результатов измерения распределения интенсивности в спектрах излучения возможно только при отсутствии самопоглощения; кроме того, в этих случаях необходимы точные данные о числе поглощенных квантов первичного возбуждающего излучения. [22]
Таким образом, при количественных измерениях критерий разрешения можно сформулировать так: две линии считаются разрешенными, если суммарное распределение освещенности отличается от распределения для одиночной линии больше, чем на ошибку измерения. Следовательно, согласно этому критерию при заданных свойствах дифракционной решетки ( или другого спектрального аппарата) разрешающая способность тем выше, чем больше точность измерений распределения интенсивности в контуре спектральной линии. В предельном случае абсолютно точных измерений разрешение неограниченно возрастает. [23]
Согласно представленному выше рассмотрению, в устойчивых резонаторах собственными модами являются гауссовы пучки. Это впервые экспериментально подтвердили Когельник и Ригрод [16], получившие с помощью ЭОП фотоснимки отдельных мод Не-Ne - лазера ( X 1 15 мкм), который имел концентрический резонатор длиной 230 см. Из-за трудностей, связанных с получением высокой точности измерений распределения интенсивности эти авторы ограничились измерениями расстояний между узлами и обнаружили хорошее согласие со значениями, полученными в предыдущем разделе. [24]
Не существует единой методики определения кристалличности, пригодной для исследования любых полимеров. В каждом случае выбор того или иного способа зависит от диапазона изменения кристалличности в серии образцов, от характера кривой распределения интенсивности. При определениях СК измерения распределения интенсивности проводятся обычно с помощью дифрактометров. [25]
Пе существует единой методики определения кристалличности, пригодной для исследования любых полимеров. В каждом случае выбор того или иного способа зависит от диапазона изменения кристалличности в серии образцов, от характера кривой распределения интенсивности. При определениях СК измерения распределения интенсивности проводятся обычно с помощью дифрактометров. [26]
Цель спектральных измерений состоит в нахождении истинного, не искаженного прибором распределения энергии в спектре исследуемого излучения. Такая обратная оптическая задача, или задача редукции к идеальному прибору, в принципе разрешима даже при очень широком инструментальном контуре, если только функции / набл ( ф) и F ( q) известны совершенно точно. В действительности они могут быть получены лишь в результате измерений распределения интенсивности в фокальной плоскости прибора. [27]
Представим себе, что функция / ( х) на рис. 4.5, а является одномерным входным сигналом для какого-нибудь устройства. Или же это может быть пространственное распределение интенсивности света в определенном направлении х по экрану. В первом из этих примеров, очевидно, потребуется усилитель, для увеличения ( усиления) каждой ординаты ( см. рис. 4.5, а) в несколько раз, чтобы сформировать выходной сигнал. Во втором примере можно представить, что фотометр обеспечивает точное сканирование и измерение распределения интенсивности / ( х) и определенным образом воспроизводит его. В обоих случаях, однако, обработка входа практически оказывается весьма несовершенной. Каждая ордината входного сигнала не воспроизводится чисто, а размывается. Таким образом, входная 8-функция при х 0 создает на выходе некоторую функцию д ( х), а не 8-функцию. [28]
Реакция (11.12) используется для хемилюминесцентного титрования атомов О. В результате реакции (11.12) концентрация атомарного кислорода убывает, a [ NO ] - увеличивается. Интенсивность свечения, пропорциональная произведению [ О ] [ NO ], проходит через максимум. При дальнейшем увеличении потока N02 интенсивность свечения резко убывает. Конечная точка титрования отвечает полному исчезновению свечения в трубе. Измерения распределения интенсивности свечения вдоль трубы и применение хемилюминесцентного титрования позволили получить значение константы скорости реакции (11.11), равное 2 7 - 10 - 33 смв / сек [122], когда в качестве третьих частиц М использовалась смесь аргона с кислородом. Применение той же методики открывает возможность количественного исследования кинетики реакций атомарного кислорода в реакциях с другими веществами и измерения соответствующих констант скорости. В такой смеси возможно протекание вторичных процессов, осложняющих исследование. [29]
Основным вопросом при изучении ориентации волокна является вопрос о способе количественной характеристики ее в волокне. Известно, что рентгенографические исследования ориентации волокна основаны на методе Дебая - Шерера. Сущность метода состоит в следующем: если снимать полностью дезориентированное волокно монохроматическим рентгеновским ЛГа-излучением на плоской пленке, то на рентгенограмме будут образовываться сплошные дебаевские кольца с равномерным распределением плотности почернения по кольцу. И наконец, в случае высокоориентированного волокна мы получим рентгенограмму, близкую к фазердиаграмме Поляни, с правильно расположенными интерференциями и слоевыми линиями. Поэтому задача количественной оценки ориентации сводится методически к измерению распределения интенсивностей почернения по кругу, как это было сделано Сиссоном и Кларком [13] на хлопке. [30]