Cтраница 4
Для измерения спектра свечения образца в течение временных ворот нелинейный кристалл вращается, при этом условие синхронизма для генерации суммарной частоты выполняется для различных А, свечения изучаемого объекта. [46]
Для измерения спектров замедленной флуоресценции используют спектрофлуориметр с вращающимся цилиндром с прорезями. Определяют зависимость интенсивности замедленной флуоресценции от интенсивности возбуждающего света, используя градуированные ослабитель-ные сетки. Измеряют кинетику затухания замедленной флуоресценции. [47]
Для измерения спектра флуоресценции сернокислого хинина используют тот же осветитель, что и для СКР. Его раствор заливают в стандартную кювету ( рис. 49) и помещают на то же место, где раньше располагалось исследуемое вещество. [48]
Метод измерения спектров с подавлением сигнала несущей частоты в рассматриваемом диапазоне обладает наибольшей чувствительностью и большим динамическим диапазоном. [49]
Проводя измерения спектров через определенные промежутки времени, можно построить зависимость изменения концентрации компонентов от времени и использовать эту зависимость для исследования кинетики и механизма реакций. Если обнаруживается сигнал промежуточного продукта реакции, можно установить его строение, скорость образования и распада, полу - f чить прямые сведения о лимитирующей стадии реакции. Случай, промежуточный между медленным и быстрым обменом, может быть представлен набором спектров, соответствую - щих переходу от медленного обмена к быстрому или наоборот. [50]
Результаты измерений спектров солей уранила при температуре жидкого гелия ( 4 2 К), полученные Самойловым, описаны в разд. [51]
Рассмотрим измерения спектров отражения BaFe Oig в спектральном диапазоне 50 - 1 - 500 см 1, которые были выполнены в температурном интервале 15 - - 300 К. На рис. 22.5, б показана температурная зависимость фононных спектров BaFe Oig, полученная после обработки спектров отражения с помощью процедуры Крамерса-Крони - га. [52]
Из измерений спектра спонтанного излучения было найдено, что доплеровская ширина линии AvJ, например зеленого перехода, составляет около 3500 МГц. Это означает, что температура ионов, определяемая в соответствии с выражением (2.78), равна Т 3000 К. Иными словами, ионы являются очень горячими благодаря их ускорению в электрическом поле разряда. [53]
Параллельно измерениям спектров пропускания определяли и отражение от поверхности пленок, нанесенных на различные пластины. В этом случае пленки наносили на одну поверхность клиновидной пластины, что исключало влияние отражения от другой ее поверхности. [55]
При измерении спектров нужно иметь в виду, что оптическая система приставки удлиняет путь световых лучей, проходящих через образен, поэтому следует скомпенсировать потери света в системе образца частичным ослаблением светового потока в канале сравнения с помощью диафрагмы и растянуть спектр па всю шкалу самописца. [56]
При измерении спектров данным методом пучок ИК-излу-чения направляется под углом на поверхность пластины полупроводника, прозрачней в ИК-областн, проходит внутрь пластины и отражается от металла, проходя при этом через исследуемый слой и поглощаясь в нем на частотах, соответствующих веществу слоя. Фактор поглощения излучения & R в слое определяется оптическими постоянными металла ( п3, k3), слоя ( п2, k2), показателем преломления полупроводника п, углом падения излучения на границу раздела полупроводник - металл и направлением его поляризации. Максимальное значение факторов поглощения так же, как и для поглощения света в слое на поверхности металла, достигается при наклонных углах падения и в р-поляризованном излучении. [57]
При измерении спектров КР необходимо хорошее термо-статирование кювет во избежание нагревания исследуемого раствора интенсивным излучением от источника. [58]
При измерении спектра флуоресценции на записывающем устройстве получают кривые зависимости тока фотоумножителя от длины волны света флуоресценции, падающего на фотоумножитель. Величина тока, получаемого в фотоумножителе, пропорциональна интенсивности флуоресценции. Поэтому показания регистрирующего устройства воспринимаются как интенсивность флуоресценции для данной длины волны. [59]
При измерении спектров излучения ( эмиссионная спектроскопия) также возможны оба упомянутых методических варианта. [60]