Измерение - излучательная способность
Cтраница 1
 |
Интегральная излучательная способность сталей. [1] |
Измерения излучательной способности проведены в вакууме. [2]
 |
Осциллограмма свечения воздуха ( X 5825 10 А. [3] |
Канал измерения излучательной способности был проградуирован с помощью эталонного источника света ( лампа ЛТ-1), который был поставлен в те же оптические условия, что и светящийся слой газа. [4]
Ошибки измерения излучательной способности имеют относительно малое значение при вычислении температуры. [5]
Был создан новый метод измерения излучательной способности частично прозрачных материалов [7], основанный на выводе образца из печи с последующим экранированием его. [6]
Диагностика плазмы и теплопередача - основные области, для которых существенны расчеты и измерения излучательной способности. [7]
Несмотря на ряд преимуществ двухлучевых приборов перед однолучевыми, последние бывают предпочтительнее при проведении таких исследований, как измерения излучательной способности, определения чувствительности приемников, точное измерение интенсивности. Вследствие этого однолучевой серийный спектрометр ИКС-12, выпускавшийся с 1956 г., получил довольно широкое распространение, несмотря на р-яд его недостатков. Технические характеристики этого прибора приведены в табл. 33.1. и 33.2. Рабочий диапазон прибора 2 - 15 мк может быть расширен до 0 75 - 45 мк установкой дополнительных сменных призм из стекла Ф-1 и кристаллов КВг и CsJ. В области 2 - 15 мк используется призма из NaCl с репликой дифракционной решетки 200 штрих / мм. [8]
 |
Зависимость поглощательной способности ( О-0 полосы фиолетовой системы CN от температуры. [9] |
Измерение излучательной способности 0 - 0 полосы проводилось с помощью фотоэлектрического канала установки по методике, изложенной выше. [10]
Другим часто встречающимся источником ошибок в случаях, когда исследователи не могут реализовать условия черного излучения, является недостаточность знаний по излучательной способности исследуемого образца. При измерении излучательной способности наиболее важной в настоящее время является не проблема температурных измерений, а определение энергии излучения, падающего на твердую поверхность или испускаемого ею. Однако успех в одной области не может не повлиять на возможности измерений в другой. [11]
Некоторые устройства, которые предназначены для исследования объектов с целью обнаружения возможных дефектов при помощи сканирующего пучка излучения оптического диапазона, основаны на поглощении материалами объекта излучения ИК-диапазона оптического спектра. Лучистый поток от источника ИК-излучений, например СО2 - лазера, зеркальной сканирующей системой направляется на исследуемый объект. Зеркальная система содержит два зеркала, сканирующих в двух взаимно перпендикулярных плоскостях. Часть излучения, падающего на объект, поглощается и соответствующим образом увеличивает его температуру. Если поверхность образца не имеет дефектов, то все его участки за один промежуток времени излучают одинаковое количество энергии. При наличии дефекта различные участки объекта излучают различное количество энергии. Для контроля и измерения излучательной способности различных участков объекта используется ИК-приемная система. Для устранения возможных ошибок измерений диапазон работы приемной ИК-системы отличен от диапазона излучения, падающего на объект. [12]
Некоторые устройства, которые предназначены для исследования объектов с целью обнаружения возможных дефектов при помощи сканирующего пучка излучения оптического диапазона, основаны на поглощении материалами объекта излучения ИК-диапазона оптического спектра. Лучистый поток от источника ИК-излучений, например СО2 - лазера, зеркальной сканирующей системой направляется на исследуемый объект. Зеркальная система содержит два зеркала, сканирующих в двух взаимно перпендикулярных плоскостях. Часть излучения, падающего на объект, поглощается и соответствующим образом увеличивает его температуру. Если поверхность образца не имеет дефектов, то все его участки за один промежуток времени излучают одинаковое количество энергии. При наличии дефекта различные участки объ-екга излучают различное количество энергии. Для контроля и измерения излучательной способности различных участков объекта используется ИК-приемная система. Для устранения возможных ошибок измерений диапазон работы приемной ИК-системы отличен от диапазона излучения, падающего на объект. [13]
Страницы: 1