Измерение - шероховатость - поверхность
Cтраница 4
При необходимости измерения шероховатости поверхности на базовой длине, отличающейся от значений, указанных в табл. 7 - 2, величина ее выбирается по табл. 7 - 1, и в этом случае базовая длина указывается в технических условиях. [46]
При необходимости измерения шероховатости поверхности на базовой длине, отличающейся от значений, указанных в табл. 58, величина ее выбирается из следующего ряда: 0 08; 0 25; 0 8; 2 5; 8; 25 мм. В этом случае базовая длина указывается в технических условиях. [47]
Если при измерении шероховатости поверхности возникает необходимость применения базовой длины, отличающейся от указанной в таблице, то величину ее выбирают из приведенного выше ряда и указывают в технических условиях. [48]
Ультразвуковых приборов для измерения шероховатости поверхностей пока не выпускают. Регламентирующая документация по данному вопросу также не разработана. [49]
 |
Схема прибора светового сечения. [50] |
Прибор позволяет производить измерения шероховатости поверхности с различными длинами трассы интегрирования, что значительно расширяет его эксплуатационные возможности. Длина трассы ощупывания до 40 мм дает возможность проверять волнистость поверхности с большим шагом. [51]
 |
Микроинтерферометр МИИ-4. а - схема. б - метод измерения. в - внешний вид. [52] |
Микроинтерферометры применяют для измерения шероховатости поверхности по параметрам Ra и Rz. Оптическая схема ( рис - 140 а) представляет собой сочетание интерферометра и микроскопа. [53]
Микроинтерферометры используют для измерения шероховатости поверхностей 10 - 14-го классов чистоты по показателю Кг. В поле зрения прибора наблюдаются искривленные интерференционные полосы соответственно профилю микронеровностей на рассматриваемом участке поверхности. Высота этих искривлений измеряется окулярным микрометром при увеличении в 490 раз. Фотографирование производится при увеличении в 290 раз. [54]
Для обеспечения единства измерений шероховатости поверхности с помощью приборов различных конструкций необходима стандартизация основных параметров, профилометров и профилографов. [55]
При контроле и измерении шероховатости поверхностей пользуются методом визуальной оценки, контактными и бесконтактными профильными методами, к которым относятся: методы светового сечения, теневой проекции, микроинтерференционный и растровый методы. В тех случаях, когда не представляется возможным непосредственно измерить шероховатость поверхности, с измеряемой поверхности снимают слепок и определяют параметры шероховатости поверхности по слепку. [56]
 |
Схема прибора светового сечения. [57] |
Микроскоп МИС-11 предназначен для измерения шероховатости поверхности от 3-го до. [58]
Страницы: 1 2 3 4