Повторное измерение

Cтраница 3

Схема экранирования наружной поверхности ввода трансформатора. [31]

При повторных измерениях сопротивления изоляции необходимо выводы обмотки заземлить не менее чем на 5 мин для стекания абсорбционного заряда. [32]

При многократных повторных измерениях начальной скорости, сопряженных с новой установкой датчиков для каждой группы выстрелов, ошибки измерения базы обычно подчиняются нормальному закону распределения. Отсюда следует, что ошибки измерения базы являются случайными ошибками, но, в отличие от ошибок первого рода, их изменчивость обнаруживается не при отдельных измерениях, а при сравнении результатов, полученных по различным отдельным группам измерений. [33]

Известны результаты повторных измерений в каждой точке. Это дает возможность найти по формуле ( VI, 2) для каждой точки выборочные дисперсии s, которые являются оценками для дисперсий о. Если в соотношениях ( VI, 9) - ( VI, И) заменить wi на sT2, соответствующие оценки параметров будут близки к наилучшим линейным оценкам. [34]

При выполнении повторных измерений одной и той же измеряемой величины легко убедиться, что результаты отдельных измерений отличаются друг от друга. Это отличие объясняется действием погрешностей, являющихся, как было отмечено, случайными величинами. Полным описанием случайной величины, а следовательно и погрешности, является ее закон распределения. Этим законом распределения и определяется характер появления различных результатов отдельных измерений в ряду наблюдений. [35]

Если результаты повторного измерения совпадают ( в пределах точности отсчета) с первоначальными, мерные баки или весовой резервуар считают герметичными. [36]

& Результаты параллельных измерений при калибровке пипетки емкостью 10 мл. [37]

Несовпадение результатов повторных измерений ( табл. 4 - 3 можно объяснить, предположив, что каждое измерение сопровождается многочисленными небольшими незамеченными погрешностями, вызванными несовпадением неконтролируемых условий эксперимента. [38]

Необходимое число повторных измерений определяется составом препарата и энергетическим разрешением используемых спектрометров. Применение полупроводниковых спектрометров, с одной стороны, позволяет уменьшить число измерений, а с другой стороны, упростить процесс идентификации радионуклидов. Поэтому для выделения фотопиков отдельных радионуклидов в этом случае применяют дополнительные способы очистки спектрограмм, например способ последовательного графического вычитания ( см. с. [39]

Большое число повторных измерений одной и той же постоянной величины показывает, что появление одинаковых по размеру и различных по знаку случайных погрешностей сохраняет устойчивую частоту, подчиняющуюся определенной закономерности. [40]

Если результаты повторного измерения совпадают ( в пределах точности отсчета) с первоначальными, мерные баки или весовой резервуар считают герметичными. [41]

Проведя несколько повторных измерений одной и той же величины и получив различные результаты, исполнитель измерений должен разрешить вопрос, какое значение приписывать измеряемой величине. [42]

Из результатов повторных измерений выбирают для вычисления средних значений только те, расхождения между которыми не превышают довольно жестко установленные допуски. При наличии расхождений, близких к предельно допустимым, производят дополнительные измерения. [43]

Воспроизводимость результатов повторных измерений адсорбции оказывается практически полной. [44]

Однако для многократных и повторных измерений эти методы не пригодны, так как требуют слишком много времени; более того, они недостаточно чувствительны и недостаточно надежны, чтобы можно было уловить небольшие различия в кристалличности. Поэтому, чтобы измерить среднюю степень кристалличности изделий большой толщины, необходимо использовать серию образцов, взятых на различной глубине, - только так можно учесть влияние градиента скорости охлаждения в толще материала. [45]

Страницы: 1 2 3 4