Вторичное изображение

Cтраница 3

Ошибочная интерпретация структуры образцов, может объясняться не только тем, что вещество изменяется под влиянием перегрева электронными лучами, но и некоторыми особыми свойствами электронно-микроскопического изображения, зависящими от физических условий самой электронной оптики; к явлениям, которые вызывают ошибочную интерпретацию, относятся вторичное изображение, контрастная интерференция и швы границ; первые два случая встречаются при кристаллическом материале. [31]

Схематическое изображение распределения. интенсивности при дифракции света на двумерной решетке ( сетке. Максимумы.| Схема экспериментальной установки. [32]

Линза выбирается достаточно длиннофокусной ( / 10 см), чтобы размеры первичного изображения были. Вторичное изображение, полученное в плоскости Рг, проектируется короткофокусной линзой Лг на экран. Во избежание микротравм глаза от излучения лазера не разрешается использовать эту линзу в качестве окуляра. [33]

Вторичное изображение станет мнимым, а основное будет либо мнимым, либо действительным в зависимости от расстояния между центрами объектной и референтной волн. [34]

Только интерференция этих новых волн между собою даст окончательное или вторичное изображение в плоскости Г2, сопряженной с плоскостью решетки. Это вторичное изображение мы и рассматриваем через окуляр. [35]

Геометрическое построе - Изображения в случае безлин. [36]

Изображения находятся на том же расстоянии г / от голограммы, что и объект, однако они расположены с разных сторон от голограммы. Угловое положение вторичного изображения можно определить, если принять во внимание, что голограмма Лейта и Упатниекса является результатом регистрации внеосевой части полной интерференционной картины. [37]

В последнем случае вторичные изображения являются позитивными. [38]

В выпускаемых вертикальных оптиметрах с экраном выходящий из объектива пучок лучей падает сначала на неподвижное зеркало, а затем на качающееся зеркало, после отражения от которого пучок лучей идет в обратном направлении и дает изображение в плоскости индекса. Отдельным объективом и зеркалами вторичное изображение шкалы вместе с изображением индекса проецируется на экран. [39]

Схема наблюдения рефракционной структуры. [40]

Затруднение объясняется просто: дифракционные спектры тех и других структур могут не отличаться по амплитудам, но фаза нулевого спектра в случае рефракционных структур отличается на тг / 2 от фазы спектров остальных порядков. Это и приводит к различию во вторичных изображениях, где происходит суммирование всех спектров. Если, однако, изменить фазу нулевого спектра на тг / 2, то мы устраним различие между тем, что дают абсорбционные и рефракционные структуры, и сможем увидеть эти последние. [41]

При расчетах отражающих призм нужно всегда помнить, что во многих случаях полное внутреннее отражение испытывают, не все лучи пучка; при этом часть световой энергии не отражается, а преломляется. Это вызывает ряд вредных явлений: затемнение поля, появление бликов, иногда вторичные изображения. Известно, что угол полного внутреннего отражения, отсчитываемый от нормали к поверхности, зависит от показателя преломления. [42]

Действие подходящего окислителя, способного разрушить одну часть изображения, созданного светом, но не изменяющего другую часть, заставляет предполагать, что изменение галоидного серебра под действием света протекает в две стадии. Вначале свет создает первичное изображение, способное служить центрами проявления, затем возникает вторичное изображение, являющееся продуктом превращения первичного изображения; это вторичное изображение становится видимым простым глазом, начиная с момента, когда оно достигнет достаточной величины. Исходя из таких представлений, нами была дана математическая трактовка процесса соляризации [11], не зависящая от какой-либо гипотезы о природе указанных двух превращений, происходящих в галоидном серебре. [43]

Первичное изображение создается на экране ЭЛТ, проецируется на светочувствительный электростатически заряженный носитель, на котором создается потенциальный рельеф в соответствии с первичным изображением. Скрытое электростатическое изображение проявляют мелким порошком и затем при помощи отражательной оптической системы это вторичное изображение проецируется на экран. В одной из модификаций такого устройства проявленное изображение со светочувствительного слоя переносится на прозрачный носитель, и проекция осуществляется уже с него. В системе имеются механически движущиеся элементы. В процессе работы расходуется материал. [44]

Пучок электронов, исходящий из катода К, превращается магнитной линзой Ll практически в параллельный пучок электронов, пронизывающий рассматриваемый объект О и дающий его изображение на просвет. Первичное изображение объекта, которое дает эта линза, лежит в фокальной плоскости третьей магнитной линзы L3, дающей сильно увеличенное вторичное изображение объекта на люминесцирующем экране S. Изображение, получаемое на экране, фиксируется фотографическими методами. Основное отличие электронного микроскопа от оптического состоит в замене окуляра, служащего в оптическом микроскопе для визуального наблюдения, проекционной линзой и в малой апертуре ( малом входном отверстии) конденсорной линзы. [45]

Страницы: 1 2 3 4 5