Cтраница 1
Использование оптических систем, осуществляющих преобразование излучения с выхода лазера в тот сигнал, который излучается лазерным локатором, приводит к тому, что радиус корреляции последнего ра. Так как аналогичная связь справедлива и для величин аа и ал, то, следовательно, соотношения между размерами аа и ра. Посмотрим, к чему приводят пространственные флуктуации. [1]
Мы уже говорили об использовании оптической системы, с помощью которой измеряется отклонение интенсивности двух лучей, проходящих различные пути. [2]
Таким образом, при использовании простых оптических систем в сочетании с фоконом достигается высокое качество изображения. [3]
В настоящее время особенно распространены проекционные трубки с использованием преломляющей оптической системы и с оптикой Шмидта. В первом случае размер экрана и расстояние проецирования определяются параметрами проекционной линзы. В связи с необходимостью уменьшения угла проецирования были разработаны малогабаритные проекционные ЭЛП с использованием преломляющей оптики. [4]
Точность определения т0 и т г выше при использовании оптической системы, регистрирующей С ( х), так как тогда подинтег-ральная функция в выражении для п, содержит х в меньшей степени. [5]
Сущность метода оптической микроскопии заключается в том, что использование оптической системы, состоящей из объектива и окуляра, обеспечивает увеличенное ( в десятки - сотни раз) изображение фрагмента объекта. [6]
Задача получения изображения в ряде случаев может быть решена путем использования оптических систем, составленных из совокупности отдельных элементов, каждый из которых создает изображение одной точки - элемента изображения. [7]
Задача получения изображения в ряде случаев может быть решена путем использования оптических систем, составленных из совокупности отдельных элементов, каждый из которых создает изображение одной точки - элемента изображения. [8]
В седьмой главе излагаются основные сведения из техники воспроизведения магнитной записи поля дефекта с использованием телевизионных и оптических систем визуализации. [9]
Коэффициент излучения графита равен примерно 0 9, излучательная способность полости, наблюдаемая вдоль оси при использовании узкоугольной оптической системы, очень высока. Это один из примеров, иллюстрирующий утверждение о том, что при осуществлении черного тела основным ограничивающим фактором является температурная неоднородность. Единственный путь доказательства хорошей однородности в этом случае состоит в выполнении серии плавлений и затвердеваний при различных скоростях и подтверждении, что спектральная яркость при плавлениях и затвердеваниях воспроизводится. [10]
Ультрамикроскопия - метод исследования, основанный на регистрации рассеяния ( дифракции) света на единичных частицах; основана на использовании оптических систем с темным полем - ультрамикроскопов. [11]
Принципиальная возможность осаждения пленок этим способом вытекает прежде всего из того, что концентрация оптовой энергии в луче оптического квантового генератора при использовании соответствующих оптических систем легко доводится до величины, необходимой и достаточной для протекания активационпых процессов в молекулах исходных веществ. Локальный радиационный нагрев подложки при этом инициирует реакции термического разложения мсталлоорганического соединения на поверхности подложки. Не исключается также возможность фотовозбуждения молекул разлагаемого соединения. Возможно применение для осаждения пленок как лазера непрерывного действия, так и лазера, работающего в импульсном режиме. Очевидно, что подложки должны быть непрозрачными для данной области света. [12]
Анализатор, представляющий собой ионно-оптическую систему ( совокупность электрических и магнитных полей), в которой осуществляется сепарация ионов по массам независимо от направления вылета ионов из источника ( фокусировка по направлению) либо независимо от их начальных энергий ( фокусировка по энергиям), либо, в случае использования оптической системы с двойной фокусировкой, независимо от скоростей и направлений ионов, вылетающих из источника. [13]
Большое распространение в последнее десятилетие получили методы анализа Фурье в науке и технике, в частности в оптике. Использованию оптических систем для Фурье-анализа способствует их свойство при определенных, но легко осуществляемых условиях создавать преобразование Фурье амплитуд плоских предметов, расположенных иа входном зрачке оптической системы [ 10, гл. Если поместить фотографию ( негатив) исследуемого объекта иа входной зрачок объектива и освещать его параллельным ( когерентным) пучком лучей, то в фокусе объектива образуется спектр амплитудного распределения объекта. [14]
Для уменьшения размера изображения следует стремиться к увеличению отношения 62 / 6 ц уменьшать размер объекта уг и соотношение скоростей электронов до и после оптической системы. При использовании оптической системы с одной линзой выполнение этих, условий встречает серьезные затруднения. Объектом в такой системе является эмиттирующая поверхность катода. Уменьшение ее величины неизбежно сопровождается снижением тока луча, и размер изображения ( пятна на экране трубки) зависит от потенциала модулятора. Угол 6i выхода электронов с поверхности катода определяется тепловыми скоростями электронов и не может быть значительно уменьшен. Поэтому в электронно-лучевых трубках применяют фокусирующие системы из двух или трех линз, где объектом для второй линзы служит наименьшее сечение электронного луча ( скрещение) после прохождения первой линзы. [15]